基于PAD的扩充信号通道的系统技术方案

本发明专利技术提供一种基于PAD的扩充信号通道的系统，包括置于阵列测试机台上的主板和设置于所述主板周侧并用于控制所述主板的阵列测试垫，所述阵列测试垫设有多个引脚，每一所述引脚对应一信号通道，所述阵列测试垫包括至少两个左驱动阵列测试垫和至少两个右驱动阵列测试垫。与相关技术相比较，本发明专利技术提供的基于PAD的扩充信号通道的系统，其通过在主板周侧至少两个左驱动阵列测试垫和至少两个右驱动阵列测试垫，使得主板周侧的引脚数量可成倍增加，引脚尺寸保持不变，同时扎针治具不需要变长。

An extended signal channel system based on PAD

The present invention provides a system for an extended signal channel based on PAD, including a motherboard placed on an array test machine and an array test pad set on the circumferential side of the main board and used to control the main board. The array test pad is provided with a plurality of pins, each of which corresponds to a letter number channel, and the array test pad is included. There are two left driving array test pads and at least two right drive array test pads. Compared with the related technology, the invention provides an extended signal channel system based on PAD, which can increase the number of pins on the side of the main board by at least two left drive array test mats on the main board side and at least two right drive array test mats, and the pin size is kept unchanged, while the pin fixture is not needed to change. Long.

【技术实现步骤摘要】
基于PAD的扩充信号通道的系统
本专利技术涉及液晶显示
，尤其涉及一种基于PAD的扩充信号通道的系统。
技术介绍
为了满足4K/8K等高分辨率的产品对信号通道增加的需求，将原来ArrayTester(阵列测试装置)的信号通道扩充一倍。但是，传统的扩充信号通道的方法是在单组ATSPAD上增加PAD数量，这种方法具有如下缺陷：1、可增加PAD数量较少；2.在一组ATSPAD里面增加，会造成PADsize变小，导致扎针会扎偏；3.同一组增加PAD过多的话，会导致扎针治具变长，同样会导致扎针失败频率上升。因此，有必要提供一种新的基于PAD的扩充信号通道的系统解决上述问题。
技术实现思路
本专利技术解决的技术问题是提供一种基于PAD的扩充信号通道的系统，其通过额外增加一组PAD，使得PAD数量可成倍增加，PAD尺寸保持不变，同时扎针治具不需要变长。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种基于PAD的扩充信号通道的系统，包括置于阵列测试机台上的主板和设置于所述主板周侧并用于控制所述主板的阵列测试垫，所述阵列测试垫设有多个引脚，每一所述引脚对应一信号通道，所述阵列测试垫包括至少两个左驱动阵列测试垫和至少两个右驱动阵列测试垫。优选的，所述阵列测试垫设有23个所述引脚。优选的，所述引脚的长度为3.7mm，宽度≥2.5mm，相邻所述引脚之间的间距为1mm，所述阵列测试垫的总长为107.1mm。优选的，所述左驱动阵列测试垫和所述右驱动阵列测试垫的数量相同，且均为偶数个。优选的，所述左驱动阵列测试垫和所述右驱动阵列测试垫的数量均为两个。优选的，两所述左驱动阵列测试垫设置于所述主板的一侧,两所述右驱动阵列测试垫设置于所述主板的另一侧。优选的，所述左驱动阵列测试垫和所述右驱动阵列测试垫分设于所述主板的相对两侧。与相关技术相比较，本专利技术提供的基于PAD的扩充信号通道的系统，其通过在主板周侧至少两个左驱动阵列测试垫和至少两个右驱动阵列测试垫，使得主板周侧的引脚数量可成倍增加，引脚尺寸保持不变，同时扎针治具不需要变长。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：图1为本专利技术实施例提供的一种基于PAD的扩充信号通道的系统的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种基于PAD的扩充信号通道的系统中阵列测试垫的结构示意图。具体实施方式下面将对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1，本专利技术提供一种基于PAD的扩充信号通道的系统100，包括置于阵列测试机台1上的主板2和设置于所述主板2周侧并用于控制所述主板2的阵列测试垫3。所述阵列测试机台1上均匀阵列分布多个所述主板2，多个所述主板2相互之间间隔设置。在本专利技术提供的具体实施例中，所述阵列测试机台1的长度为3370mm，宽度为2940mm，所述阵列测试机台1上设有8个所述主板2。所述主板2的尺寸不同，其周侧设置的所述阵列测试垫3的组数可以相同也可以不同，例如43英寸的所述主板2，则设置8组所述阵列测试垫3；65英寸的所述主板2，则设置4组所述阵列测试垫3；75英寸的所述主板2，则设置4个所述阵列测试垫3。请一并参阅图2，所述阵列测试垫3设有多个引脚30，每一所述引脚30对应一信号通道，所述阵列测试垫3包括至少两个左驱动阵列测试垫31和至少两个右驱动阵列测试垫32。如此设计，在不增加所述主板2的前提下，通过增加多个所述阵列测试垫3，从而极大提升了所述引脚30的数量，由于每一所述引脚30对应一信号通道，因此，所述信号通道的数量随着所述引脚30的增加而对应增加。也就是说，每增加一所述阵列测试垫3，即可以增加23个所述信号通道，在软件的支持之下，每个所述信号通道都可以独立控制和给不同波形。另外，本专利技术通过在所述主板2周侧增加所述阵列测试垫3的方式来增加所述信号通道，虽然会造成需要更多的治具数量，但是，却无需对治具的结构进行改变，相对于传统的单纯增加单个阵列测试垫内引脚数量的方式来说，节约了治具的设计成本，不仅如此，本专利技术提供的所述基于PAD的扩充信号通道的系统100在不改变治具结构的前提下，可以成倍增加所述引脚30的数量，而且所述引脚30的尺寸还保持不变。由此可见，本专利技术提供了一种全新的思维来扩充信号通道，克服了传统思维的设计偏见，不仅取得了意想不到的效果，而且还可以满足各种设计需求。所述左驱动阵列测试垫31和所述右驱动阵列测试垫32的数量相同，且均为偶数个，在本专利技术提供的具体实施例中，所述左驱动阵列测试垫31和所述右驱动阵列测试垫32的数量均为两个，且两所述左驱动阵列测试垫31设置于所述主板2的一侧，两所述右驱动阵列测试垫32设置于所述主板2的另一侧。当然，所述左驱动阵列测试垫31和所述右驱动阵列测试垫32还可以分设于所述主板2的相对两侧，这种等效的置换方式，理应属于本专利技术的保护范围内。所述阵列测试垫3设有23个所述引脚30，所述引脚30的长度a为3.7mm，宽度b≥2.5mm，相邻所述引脚30之间的间距c为1mm，所述阵列测试垫3的总长为107.1mm。与相关技术相比较，本专利技术提供的基于PAD的扩充信号通道的系统100，其通过在主板2周侧至少两个左驱动阵列测试垫31和至少两个右驱动阵列测试垫32，使得主板2周侧的引脚30数量可成倍增加，引脚尺寸保持不变，同时扎针治具不需要变长。以上所述仅为本专利技术的实施例，并非因此限制本专利技术的专利范围，凡是利用本专利技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的
，均同理包括在本专利技术的专利保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于PAD的扩充信号通道的系统，其特征在于，包括置于阵列测试机台上的主板和设置于所述主板周侧并用于控制所述主板的阵列测试垫，所述阵列测试垫设有多个引脚，每一所述引脚对应一信号通道，所述阵列测试垫包括至少两个左驱动阵列测试垫和至少两个右驱动阵列测试垫。

【技术特征摘要】
1.一种基于PAD的扩充信号通道的系统，其特征在于，包括置于阵列测试机台上的主板和设置于所述主板周侧并用于控制所述主板的阵列测试垫，所述阵列测试垫设有多个引脚，每一所述引脚对应一信号通道，所述阵列测试垫包括至少两个左驱动阵列测试垫和至少两个右驱动阵列测试垫。2.根据权利要求1所述的基于PAD的扩充信号通道的系统，其特征在于，所述阵列测试垫设有23个所述引脚。3.根据权利要求1或2所述的基于PAD的扩充信号通道的系统，其特征在于，所述引脚的长度为3.7mm，宽度≥2.5mm，相邻所述引脚之间的间距为1mm，所述阵列测试垫的总长为107.1mm。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：赖学谦，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44