电缆绝缘层电老化试验方法及试验装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种电缆绝缘层电老化试验方法，包括以下步骤：获取多片模拟试样；将多片所述模拟试样分别以不同的分布距离设置于试验电芯外；对所述试验电芯施加电压后得到多片电老化试样。上述电缆绝缘层电老化试验方法，对试验电芯施加电压后，使设于试验电芯外的多片模拟试样处于试验电芯产生的磁场中进行电老化，后期只需直接对多片电老化试样进行分析检测，判断电老化试样的电老化程度，便可判断出待测电缆中电测绝缘层的老化情况。不需要用待测电缆中电老化后的待测绝缘层切片，不会对电老化试样的微观结构产生破坏，不会影响后续电老化试样的研究，提高电缆绝缘层电老化试验结果的准确性。

Test method and test device for electrical insulation of cable insulation

The present invention relates to an electrical aging test method of cable insulating layer, which includes the following steps: obtaining a number of analog samples; setting the analog samples of a plurality of pieces at different distribution distances to the test electric core, and obtaining a number of electrical aging samples after applying voltage to the test electric core. The electrical aging test method of the cable insulation layer above, after the test electric core is applied to the test electric core, the multiple analog samples outside the test core are aged in the magnetic field produced by the test core. In the later period, it only needs to analyze and detect the multiple electrical aging samples directly, and judge the aging degree of the electrical aging sample, and it can be judged. The aging of electrical insulation layer in the cable to be measured. It does not need to use the insulation layer after the electrical aging of the cable to be measured. It will not destroy the microstructure of the electrical aging specimen, and will not affect the study of the subsequent electrical aging test specimen, and improve the accuracy of the electrical aging test results of the cable insulation.

【技术实现步骤摘要】
电缆绝缘层电老化试验方法及试验装置
本专利技术涉及电缆领域，特别是涉及电缆绝缘层电老化试验方法及实验装置。
技术介绍
电缆在输配电的领域中占据着重要的角色，用于传输和分配大功率电能。而电缆在长期服役过程中受到所处环境中多重应力作用会发生老化，老化后的绝缘层容易被击穿，进而会导致大面积停电，带来重大的经济损失。所以，通过电老化试验研究电缆绝缘层的老化程度至关重要。一般先获得电老化后的试样，然后对该试样进行物理、化学及电特性分析，判断其老化程度。具体在电缆绝缘层电老化试验中，可以从自然老化达到退役年限的电缆处获得电老化后的试样，但更多的是由人工加速老化得到电老化后的试样。人工加速老化获取试样时，首先对整条电缆施加高电压进行电老化处理，然后从距离电芯不同距离位置处竖直截取试样。但是绝缘层整体呈特定的圆环状，按照距离电芯不同位置处截取多片试样时操作难度较大，截取试样的过程容易产生误差，且截取过程中会对电老化后试样的微观结构造成一定的影响，上述两个因素会对后续研究带来误差，使电缆绝缘层老化试验的结果不够准确。
技术实现思路
基于此，有必要针对传统的电缆绝缘层老化试验的结果不够准确的问题，提供一种结果更加准确的电缆绝缘层电老化试验方法。一种电缆绝缘层电老化试验方法，其特征在于，包括以下步骤：获取多片模拟试样；将多片所述模拟试样分别以不同的分布距离设置于试验电芯外；对所述试验电芯施加电压后得到多片电老化试样。上述电缆绝缘层电老化试验方法，在试验电芯外设置多片间隔的模拟试样，模拟待测电缆。对试验电芯施加电压后，使设于试验电芯外的多片模拟试样处于试验电芯产生的磁场中进行电老化，多片模拟试样的电老化情况与待测电缆中待测绝缘层对应的不同位置处的电老化情况相同，所以后期只需直接对多片电老化试样进行分析检测，判断电老化试样的电老化程度，便可判断出待测电缆中电测绝缘层的老化情况。不需要用待测电缆中电老化后的待测绝缘层切片，不会对电老化试样的微观结构产生破坏，不会影响后续电老化试样的研究，提高电缆绝缘层电老化试验结果的准确性。在其中一个实施例中，所述将多片所述模拟试样分别以不同预定距离分布于试验电芯外的步骤具体包括：将每片所述模拟试样以与所述试验电芯同心圆弧状分布于所述试验电芯外，且每片所述模拟试样所在圆的半径不同。在其中一个实施例中，所述将多片所述模拟试样分别以不同分布距离分布于试验电芯外的步骤具体包括：设置最大的所述分布距离小于或等于待测电缆中待测绝缘层外周面与待测电芯之间的距离。在其中一个实施例中，所述将多片所述模拟试样分别以不同分布距离分布于试验电芯外的步骤具体还包括：在相邻两片所述模拟试样之间设置隔离片。在其中一个实施例中，所述将多片所述模拟试样分别以不同分布距离分布于试验电芯外的步骤具体还包括：在所述试验电芯的外周铺设第一半导体层，多片所述模拟试样中距离所述试验电芯最近的一片铺设于所述第一半导体层的外周。在其中一个实施例中，所述将多片所述模拟试样分别以不同分布距离分布于试验电芯外的步骤具体包括：在铺设完成多片所述模拟试样之后，于距离所述试验电芯最远的所述模拟试样外周铺设第二半导体层，并在所述第二半导体层外设置金属接地层。在其中一个实施例中，所述获取多片模拟试样步骤之前具体包括：根据待测电缆中待测绝缘层的厚度确定所述模拟试样的取样数量；根据待测电缆中待测绝缘层相对待测电芯的位置确定所述模拟试样相对所述试验电芯的所述分布距离。一种电缆绝缘层电老化试验装置，包括具有通压端口的试验电芯及多片隔离片，每片所述隔离片以与所述试验电芯同心圆弧状分布于所述试验电芯外，且每片所述隔离片所在圆的半径不同；距离所述试验电芯最近的一片所述隔离片与所述试验电芯之间、以及剩余所述隔离片中相邻两片之间均界定形成用于放置模拟试样的第一检测空间。在其中一个实施例中，还包括第一半导体层，所述第一半导体层铺设于所述试验电芯的外周，距离所述试验电芯最近的一片所述隔离片与所述第一半导体层之间界定形成一个所述第一检测空间。在其中一个实施例中，还包括第二半导体层和金属接地层，所述第二半导体层以与所述试验电芯同心圆弧状分布于距离所述试验电芯最远的所述隔离片外，且两者之间界定形成一个第二检测空间，所述金属接地层铺设于所述第二半导体的外周。附图说明图1为本专利技术一实施例中电缆绝缘层电老化试验方法的流程示意图；图2为本专利技术一实施例中电缆绝缘层电老化试验装置的结构示意图。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的较佳实施例。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容的理解更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。如图1和图2所示，本专利技术一实施例中电缆绝缘层电老化试验方法，包括以下步骤：步骤S120，获取多片模拟试样10。具体地，在获取多片模拟试样10时，可以在与待测绝缘层具有相同材料的任意原料上切割多片模拟试样10，减少切割过程受具体被切割件形状的限制，切割过程更加简单，切割得到的模拟试样10误差更小。步骤S140，将多片模拟试样10分别以不同的分布距离设置于试验电芯20外。即在试验电芯20外设置与其距离不同的多片模拟试样10，模拟待测电缆中的待测绝缘层。具体地，将每片模拟试样10以与试验电芯20同心圆弧状分布于试验电芯20外，且每片模拟试样10所在圆的半径不同。使模拟试样10的形状与待测绝缘层类似，更加准确地模拟待测电缆中的待测绝缘层。并且将模拟试样10设置为与试验电芯10同心的圆弧状，一整片模拟试样10距离试验电芯10的距离均为相同的距离，一片模拟试样10便可代表距离试验电芯10特定距离的绝缘层，使一片模拟试样10至电芯的距离为恒定值，便于后续分析。进一步地，设置最大的分布距离小于等于待测电缆中待测绝缘层外周面与待测电芯之间的距离。也就是说，一定数量的模拟试样10根据对应的分布距离间隔设置于试验电芯20外，每片模拟试样10的分布距离不同，分布距离最大的模拟试样10距离试验电芯20最远，所以最大的分布距离要小于或等于待测绝缘层外周面与电芯之间的距离，才能够准确地模拟待测绝缘层，如此在试验时每片模拟试样10都相当于待测绝缘层中的某一层，避免模拟试样10的分布范围超出待测绝缘层的分布范围，防止试验后产生不符合需求的电老化试样。步骤S160，对试验电芯20施加电压后得到电老化的多片模拟试样10。在试验电芯20外设置多片间隔的模拟试样10，模拟待测电缆。对试验电芯20施加电压后，使设于试验电芯20外的多片模拟试样10处于试验电芯20产生的磁场中进行电老化，多片模拟试样10的电老化情况与待测电缆中待测绝缘层对应的不同位置处的电老化情本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电缆绝缘层电老化试验方法，其特征在于，包括以下步骤：获取多片模拟试样；将多片所述模拟试样分别以不同的分布距离设置于试验电芯外；对所述试验电芯施加电压后得到多片电老化试样。

【技术特征摘要】
1.一种电缆绝缘层电老化试验方法，其特征在于，包括以下步骤：获取多片模拟试样；将多片所述模拟试样分别以不同的分布距离设置于试验电芯外；对所述试验电芯施加电压后得到多片电老化试样。2.根据权利要求1所述的电缆绝缘层电老化试验方法，其特征在于，所述将多片所述模拟试样分别以不同预定距离分布于试验电芯外的步骤具体包括：将每片所述模拟试样以与所述试验电芯同心圆弧状分布于所述试验电芯外，且每片所述模拟试样所在圆的半径不同。3.根据权利要求1或2任一项所述的电缆绝缘层电老化试验方法，其特征在于，所述将多片所述模拟试样分别以不同分布距离分布于试验电芯外的步骤具体包括：设置最大的所述分布距离小于或等于待测电缆中待测绝缘层外周面与待测电芯之间的距离。4.根据权利要求1或2任一项所述的电缆绝缘层电老化试样方法，其特征在于，所述将多片所述模拟试样分别以不同分布距离分布于试验电芯外的步骤具体还包括：在相邻两片所述模拟试样之间设置隔离片。5.根据权利要求1或2任一项所述的电缆绝缘层电老化试验方法，其特征在于，所述将多片所述模拟试样分别以不同分布距离分布于试验电芯外的步骤具体还包括：在所述试验电芯的外周铺设第一半导体层，多片所述模拟试样中距离所述试验电芯最近的一片铺设于所述第一半导体层的外周。6.根据权利要求1或2任一项所述的电缆绝缘层电老化试验方法，其特征在于，所述将多片所述模拟试样分别以不同分布距...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄嘉盛，徐研，石银霞，凌颖，贺伟，肖健健，慕容啟华，
申请(专利权)人：广州供电局有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44