【技术实现步骤摘要】
基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器
本专利技术涉及光学元件装配辅助装置,具体涉及基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器。
技术介绍
在等离子体相关实验与实际应用场景中,X射线是重要的诊断工具和探测对象,而有的实验关键过程持续时间仅为几十到几百皮秒,因此对X射线进行高速探测有着重要意义。在实验过程中,传统诊断仪器和设备通常是使用电信号进行诊断,即射线辐射半导体,产生相应的电信号,通过电信号的变化得出X射线的变化进而获取相应的物态信息,诊断过程中容易受到电磁干扰,从而影响诊断结果的准确性。并且,由于以电信号为媒介,现有设备也难以实现对X射线的高速探测。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术提供一种基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器,能够有效避免电磁干扰,并且可以对X射线进行高速探测。其技术方案如下:一种基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器,包括探测器外壳和设置在该探测器外壳一侧外壁上的锥形筒,所述探测器外壳在与锥形筒连接位置嵌设有半导体材料片,由锥形筒引入的X射线能够辐照到该半导体材料片上;所述探测器外壳正对半导体材料片的一侧外壁上设有探针光通光孔,用于连接探针光光源,在该探针光通光孔一侧安装有光电探测器;所述探测器外壳内部设有分光器件,在该分光器件两侧分别设有第一平面镜和第二平面镜,分光器件能够对由探针光通光孔引入的探针光进行分束,其中一束经第一平面镜反射,另一束由半导体材料片反射,两束光干涉并经第二平面镜反射后,能够被光电探测器接收。上述结构利用半导体材料片3受到X射线辐照时的光学特性变化,进行X射线探测诊断,相比传统以电信号为媒介的探测器,能够有效避免电磁干扰,提高诊断结果 ...
【技术保护点】
一种基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器,包括探测器外壳(1)和设置在该探测器外壳(1)一侧外壁上的锥形筒(2),其特征在于:所述探测器外壳(1)在与锥形筒(2)连接位置嵌设有半导体材料片(3),由锥形筒(2)引入的X射线能够辐照到该半导体材料片(3)上;所述探测器外壳(1)正对半导体材料片(3)的一侧外壁上设有探针光通光孔(4),用于连接探针光光源,在该探针光通光孔(4)一侧安装有光电探测器(5);所述探测器外壳(1)内部设有分光器件(6),在该分光器件(6)两侧分别设有第一平面镜(7)和第二平面镜(8),分光器件(6)能够对由探针光通光孔(4)引入的探针光进行分束,其中一束经第一平面镜(7)反射,另一束由半导体材料片(3)反射,两束光干涉并经第二平面镜(8)反射后,能够被光电探测器(5)接收。
【技术特征摘要】
1.一种基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器,包括探测器外壳(1)和设置在该探测器外壳(1)一侧外壁上的锥形筒(2),其特征在于:所述探测器外壳(1)在与锥形筒(2)连接位置嵌设有半导体材料片(3),由锥形筒(2)引入的X射线能够辐照到该半导体材料片(3)上;所述探测器外壳(1)正对半导体材料片(3)的一侧外壁上设有探针光通光孔(4),用于连接探针光光源,在该探针光通光孔(4)一侧安装有光电探测器(5);所述探测器外壳(1)内部设有分光器件(6),在该分光器件(6)两侧分别设有第一平面镜(7)和第二平面镜(8),分光器件(6)能够对由探针光通光孔(4)引入的探针光进行分束,其中一束经第一平面镜(7)反射,另一束由半导体材料片(3)反射,两束光干涉并经第二平面镜(8)反射...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱九匡,易涛,江少恩,
申请(专利权)人:中国工程物理研究院激光聚变研究中心,
类型:发明
国别省市:四川,51
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