全自动化学发光分析仪的加样装置及其加样方法制造方法及图纸

技术编号:17968822 阅读:58 留言:0更新日期:2018-05-16 10:16
本发明专利技术创造提供了一种全自动化学发光分析仪的加样装置及其加样方法,包括采样针系统、试剂针系统和从左至右依次设置的样本区、加注区和试剂区,所述采样针系统和试剂针系统固定在同一根横向导轨上,所述在试剂区和样本区之间设置与加注区垂直的反应杯区,所述样本区和加注区之间、试剂区和加注区之间分别设置针头清洗装置,所述样本区、加注区、试剂区和两针头清洗装置的取样位在同一直线上,采样针头经过样本区和加注区的取样位,试剂针头经过试剂区和加注区的取样位。本发明专利技术创造所述的全自动化学发光分析仪的加样装置及其加样方法,采样位、加注位、凹槽和清洗区在同一直线,提升加注速度;采样位和加注位固定,出现错误的概率降低。

Sample adding device and sample adding method of automatic chemiluminescence analyzer

The invention provides an adding sample device and a sampling method for a fully automatic chemiluminescence analyzer, including a sampling needle system, a reagent needle system and a sample area, a filling area and a reagent zone in turn from left to right. The sampling needle system and the reagent needle system are fixed on the same lateral guide, and the reagent area and the reagent area are described in the reagents area and the reagents. The sample area is set with the reaction cup area perpendicular to the injection area. The sample area and the injection area, the reagent zone and the injection area are respectively set up between the needle cleaning devices. The sample area, the filling area, the reagent zone and the two needle cleaning device are on the same line, and the sampling needle is sampled from the sample area and the injection area. The reagent needle passes through the sampling position in the reagent area and the filling area. The invention creates the adding sample device and the sampling method of the fully automatic chemiluminescence analyzer. The sampling position, the filling position, the groove and the cleaning area are in the same line, and the injection speed is raised; the sampling position and the filling position are fixed, and the probability of error is reduced.

【技术实现步骤摘要】
全自动化学发光分析仪的加样装置及其加样方法
本专利技术创造属于医疗器械领域,尤其是涉及全自动化学发光分析仪的加样装置及其加样方法。
技术介绍
化学发光分析仪具有检测速度快、线性范围宽、应用范围广等特点,已被广泛应用于临床免疫诊断上。通常情况下,化学发光分析测定仪中,通常包括流通池、样本盘、试剂盘和取样装置等部件,取样装置用于吸取取样盘中的样本及试剂盘中的磁珠、R1、R2等物质,并将其混合,混合物送入流通池进行化学发光反应。现有的取样装置通常为能够沿X、Y及Z三个方向直线运动的结构,取样时,取样点可以分布在取样装置在上述三个方向覆盖的区域,即可实现任意位置的取样,然而取样时需要计算X、Y、Z三个方向的坐标控制取样装置完成取样,导致取样的速度较慢,若取样坐标出现偏差时,不能实现准确取样,该取样装置的精度较低。现有取样装置将取样针沿X、Y两个方向,取样位、试剂位以及反应杯置于取样针行进方向的同一直线上,反应杯和试剂位之间设置清洗区,然而加样或试剂完毕后,针头清洗不到位,将造成交叉污染,导致分析结果不准确,由于取样和取试剂分别进行,导致制备反应杯溶液的速度下降。鉴于上述取样装置存在的缺陷,亟待提供一种取样精度较高、速度较快且避免交叉污染的取样装置。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术创造旨在提出全自动化学发光分析仪的加样装置及其加样方法,以解决化学发光分析仪加样加试剂过程效率低、速度慢的问题,本专利技术创造的另一目的是解决制备反应液时易发生交叉污染的问题。为达到上述目的,本专利技术创造的技术方案是这样实现的:全自动化学发光分析仪的加样装置及其加样方法,包括采样针系统、试剂针系统和从左至右依次设置的样本区、加注区和试剂区,所述采样针系统和试剂针系统固定在同一根横向导轨上,所述在试剂区和样本区之间设置与加注区垂直的反应杯区,所述样本区和加注区之间、试剂区和加注区之间分别设置针头清洗装置,所述样本区、加注区、试剂区和两针头清洗装置的取样位在同一直线上,采样针系统经过样本区、针头清洗装置和加注区的取样位,试剂针系统经过试剂区、针头清洗装置和加注区的取样位。进一步的,所述样本区设置若干个平行的样本槽,所述样本槽一端设置样本指示灯,样本槽内设置用于盛放样本试管的样本架,所述距离采样针头清洗装置最近的样本槽设为采样位。进一步的,所述样本区远离样本指示灯的一侧设置样本小车,所述样本小车包括伸缩装置、平移装置、样本架存放槽和样本架抓取钩,所述样本架抓取钩的一端置于样本架存放槽内,样品架靠近样本小车的一端设置凹槽,样本架抓取钩能进入凹槽拖动样本架,样本架抓取钩的另一端固定在伸缩装置上,样本架存储槽底面固定在样本小车的平移装置上。进一步的,所述反应杯区包括若干个反应杯指示灯、反应杯仓和连环架,所述反应杯指示灯在反应杯仓的一端且靠近样本槽一侧均匀排布在同一直线上,所述连环架靠近反应杯指示灯一侧设置带圆孔的金属块,远离金属块方向设置放置反应杯的孔,所述连环架置于反应杯仓内,所述反应杯仓固定在平移装置上能在水平面内左右移动。进一步的,所述加注区包括连环架放置槽、电磁铁、伸缩装置,电磁铁通过伸缩杆固定在伸缩装置上,电磁铁能插入连环架一侧金属块的圆孔,所述伸缩装置通过电磁铁将连环架中的反应杯从反应杯仓移动到加注位。进一步的,所述采样针系统和试剂针系统分别包括针头、升降装置和平移装置,所述针头固定在升降装置上,所述升降装置侧面固定在横向导轨上,所述升降装置顶部通过同步固定块固定在平移装置上,采样针系统和试剂针系统的平移装置分别位于横向导轨的上下两侧。进一步的,所述升降装置为竖直设置的丝杠滑块机构,所述丝杠滑块机构包括第二电机支撑板、第二电机和丝杠螺母,所述平移装置和伸缩装置包括第一电机、第一电机支撑板、主动轮、从动轮和传送带,传送带绕在主动轮和从动轮上。进一步的,所述试剂区包括外壳、冷气循环装置、散热装置、旋转定位装置和同步旋转盘,所述外壳内设置同步旋转盘,所述同步旋转盘上固定放置试剂试管的托架,所述同步旋转盘与旋转定位装置连接,所述同步旋转盘下部设置冷气循环装置,所述冷气循环装置下部设置散热装置。进一步的,所述外壳设置带孔的上盖,所有孔圆心的连线与横向导轨平行的直线上,所述同步旋转盘沿径向设置若干组试剂位,每组试剂位通过旋转一定角度能与外壳上的孔对应。本专利技术所采用的技术方案还包括利用上述全自动化学发光分析仪的加样装置的加样方法,该加样方法具体包括以下步骤:a.向样本槽装入待测样本,在反应杯仓的连环架放置新的反应杯,通过加注区的伸缩装置将反应杯区的连环架移动到加注区,并确定加注位,试剂区加入测试用的试剂;b.试剂针头吸取试剂,通过平移装置移动到加注位,将试剂滴入反应杯中,试剂针系统移动至针头清洗装置对试剂针头进行清洗,试剂针系统复位至试剂区上方;c.样本小车拖动样本槽至采样位,采样针头吸取样本,通过平移装置移动到加注位,将样本滴入反应杯中,采样针系统移动至针头清洗装置对采样针头进行清洗,采样针系统复位至样本区上方;d.需开展新的分析试验时,加注区的伸缩装置带动连环架更换新的反应杯,旋转定位装置带动同步旋转盘转动到新的试剂位,样本小车拖动样本槽使待测样本至采样位;e.重复b-c,加样结束。相对于现有技术,本专利技术创造所述的全自动化学发光分析仪的加样装置及其加样方法具有以下优势:(1)本专利技术创造所述的全自动化学发光分析仪的加样装置及其加样方法,采样针系统与试剂针系统固定在同一导轨上,大大节省了安装空间,有利于设备的小型化;采样位、加注位、凹槽、采样针清洗区和试剂针清洗区在同一直线,采样针和试剂针的移动路径最短,加注的速率提升。(2)本专利技术创造所述的全自动化学发光分析仪的加样装置及其加样方法,样本区设有采样位,加注位的横向固定,使采样位和加注位的距离固定,可以避免采样针系统出现程序逻辑错误;同时加注位与试剂盘凹槽的相对位置固定,也将减少试剂针走错位几率,由于采样针加样和试剂针加试剂存在时间差,缩短加注时间。(3)本专利技术创造所述的全自动化学发光分析仪的加样装置及其加样方法,在采样位和加注位之间插入采样针清洗区、凹槽和加注位间设置试剂针清洗区,针头加注完毕后,即可快速进行清洗,为下一次加注做准备,避免交叉污染的情况。附图说明构成本专利技术创造的一部分的附图用来提供对本专利技术创造的进一步理解,本专利技术创造的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术创造,并不构成对本专利技术创造的不当限定。在附图中:图1为本专利技术创造实施例的结构示意图;图2为本专利技术创造试剂区和样本区的示意图图3为本专利技术创造采样针系统和试剂针系统的示意图;图4为本专利技术创造试剂区的俯视图;图5为本专利技术创造试剂区N-N方向的剖视图;图6为本专利技术创造试剂区P-P方向的剖视图;附图标记说明:1、采样针系统;11、采样针头;2、试剂针系统;21、试剂针头;3、平移装置;31、主动轮;32、从动轮;33、传送带;34、第一电机支撑板;35、第一电机;39、伸缩装置;4、升降装置;41、第二电机支撑板;42、第二电机;43、丝杠螺母;5、样本区;51、样本槽;52、样本架;53、样本指示灯;54、采样位;6、采样小车;61、样本架存放槽;62、样本架抓取钩;7、反应杯区;71、反应杯仓;72、连环架;73、反应杯指示灯;8、加注区;本文档来自技高网...
全自动化学发光分析仪的加样装置及其加样方法

【技术保护点】
全自动化学发光分析仪的加样装置,其特征在于:包括采样针系统(1)、试剂针系统(2)和从左至右依次设置的样本区(5)、加注区(8)和试剂区(9),所述采样针系统(1)和试剂针系统(2)固定在同一根横向导轨上,所述在试剂区(9)和样本区(5)之间设置与加注区(8)垂直的反应杯区(7),所述样本区(5)和加注区(8)之间、试剂区(9)和加注区(8)之间分别设置针头清洗装置(10),所述样本区(5)、加注区(8)、试剂区(9)和两针头清洗装置(10)的取样位在同一直线上,采样针头(11)经过样本区(5)、针头清洗装置(10)和加注区(8)的取样位,试剂针头(22)经过试剂区(9)、针头清洗装置(10)和加注区(8)的取样位。

【技术特征摘要】
1.全自动化学发光分析仪的加样装置,其特征在于:包括采样针系统(1)、试剂针系统(2)和从左至右依次设置的样本区(5)、加注区(8)和试剂区(9),所述采样针系统(1)和试剂针系统(2)固定在同一根横向导轨上,所述在试剂区(9)和样本区(5)之间设置与加注区(8)垂直的反应杯区(7),所述样本区(5)和加注区(8)之间、试剂区(9)和加注区(8)之间分别设置针头清洗装置(10),所述样本区(5)、加注区(8)、试剂区(9)和两针头清洗装置(10)的取样位在同一直线上,采样针头(11)经过样本区(5)、针头清洗装置(10)和加注区(8)的取样位,试剂针头(22)经过试剂区(9)、针头清洗装置(10)和加注区(8)的取样位。2.根据权利要求1所述的全自动化学发光分析仪的加样装置,其特征在于:所述样本区(5)设置若干个平行的样本槽(51),所述样本槽(51)一端设置样本指示灯(53),样本槽(51)内设置用于盛放样本试管的样本架(52),所述距离采样针头清洗装置(10)最近的样本槽(51)设为采样位(54)。3.根据权利要求1所述的全自动化学发光分析仪的加样装置,其特征在于:所述样本区(5)远离样本指示灯(53)的一侧设置样本小车,所述样本小车包括伸缩装置(39)、平移装置(3)、样本架存放槽(61)和样本架抓取钩(62),所述样本架抓取钩(62)的一端置于样本架存放槽(61)内,样品架(52)靠近样本小车的一端设置凹槽,样本架抓取钩(62)能进入凹槽拖动样本架(52),样本架抓取钩(62)的另一端固定在伸缩装置(39)上,样本架存储槽(61)底面固定在样本小车的平移装置(3)上。4.根据权利要求1所述的全自动化学发光分析仪的加样装置,其特征在于:所述反应杯区(7)包括若干个反应杯指示灯(73)、反应杯仓(71)和连环架(72),所述反应杯指示灯(73)在反应杯仓(71)的一端且靠近样本槽(51)一侧均匀排布在同一直线上,所述连环架(72)靠近反应杯指示灯(73)一侧设置带圆孔的金属块,远离金属块方向设置放置反应杯的孔,所述连环架(72)置于反应杯仓(71)内,所述反应杯仓(71)固定在平移装置(3)上能在水平面内左右移动。5.根据权利要求1所述的全自动化学发光分析仪的加样装置,其特征在于:所述加注区(8)包括连环架放置槽(81)、电磁铁、伸缩装置(39),电磁铁通过伸缩杆(82)固定在伸缩装置(39)上,电磁铁能插入连环架(72)一侧金属块的圆孔,所述伸缩装置(39)通过电磁铁将连环架(72)中的反应杯从反应杯仓(71)移动到加注位。6.根据权利要求1所述的全自动化学发光分析仪的加样装置,其特征在于:所述采样针系统(1)和试剂针系统(2)分别包括针...

【专利技术属性】
技术研发人员:杜康刘新全孙传强闫畅
申请(专利权)人:天津博硕东创科技发展有限公司
类型:发明
国别省市:天津,12

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