The invention provides an instrument instrument test probe for an improved structure, including a needle sleeve, an socket, a front pin rod, a switch, a rear pin rod and a probe assembly, which are arranged on the back end of the needle sleeve; the rear needle rod is welded on the back end of the socket; the front needle bar is set in the end of the needle sleeve; the needle is used. The middle position of the sleeve is provided with a switch; the front end of the needle sleeve is arranged with a probe module; the probe assembly includes a probe, an insulating sleeve and an external thread. The probe is externally arranged with an insulating sleeve; the rear end of the probe is provided with an external thread. The invention has simple structure and can quickly replace the probe assembly. It can effectively test the instrument with high precision, has the advantages of small, convenient use, high measuring precision, simple operation and so on, and can effectively protect the instrument and instrument.
【技术实现步骤摘要】
一种改进结构的仪器仪表测试探针
本专利技术涉及电子连接器
,尤其涉及一种改进结构的仪器仪表测试探针。
技术介绍
目前,随着科技的不断发展,人们制造出来了越来越多,越来越精密的仪器仪表,因此对这些非常精密的仪器仪表的测试也要求越来越高,对所使用的测试探针要求各异,但是,原有的仪器仪表配有的测试探针将不再满足要求,为此人们要购买多个型号不同的探针以满足要求,不仅浪费更换探针的时间和金钱;而且现有的探针设计不合理,在测试测量时容易发生短接,对人员的技术要求较高,不能保护精密的仪器仪表和设备。因此,专利技术一种改进结构的仪器仪表测试探针显得非常必要。
技术实现思路
为了解决上述技术问题,本专利技术提供一种改进结构的仪器仪表测试探针,以解决现有探针不便更换,设计不合理的问题。一种改进结构的仪器仪表测试探针,包括针套,插口,前针杆,开关,后针杆和探针组件,所述的插口设置在针套的腔内后端;所述的后针杆焊接设置在插口的后端;所述的前针杆设置在针套的腔内前端;所述的针套的中间位置设置有开关;所述的针套前端活动设置有探针组件;所述的探针组件包括探针,绝缘套管和外螺纹,所述的探针外部设置有绝缘套管;所述的探针的后端设置有外螺纹。所述的开关包括按钮,弹簧,连接杆和导杆,所述的导杆垂直设置在连接杆的上部;所述的导杆的外部设置有弹簧;所述的导杆的上端设置有按钮。所述的前针杆包括内孔,内螺纹,弹性元件和平面触点,所述的前针杆的前端设置有内孔;所述的内孔前端设置有内螺纹;所述的弹性元件设置在内孔的后端;所述的前针杆的后端设置有平面触点。所述的插口具体采用香蕉插口,具有弹性好,导电及可靠 ...
【技术保护点】
一种改进结构的仪器仪表测试探针,其特征在于,该改进结构的仪器仪表测试探针,包括针套(1),插口(2),前针杆(3),开关(4),后针杆(5)和探针组件(6),所述的插口(2)设置在针套(1)的腔内后端;所述的后针杆(5)焊接设置在插口(2)的后端;所述的前针杆(3)设置在针套(1)的腔内前端;所述的针套(1)的中间位置设置有开关(4);所述的针套(1)前端活动设置有探针组件(6);所述的探针组件(6)包括探针(61),绝缘套管(62)和外螺纹(63),所述的探针(61)外部设置有绝缘套管(62);所述的探针(61)的后端设置有外螺纹(63)。
【技术特征摘要】
1.一种改进结构的仪器仪表测试探针,其特征在于,该改进结构的仪器仪表测试探针,包括针套(1),插口(2),前针杆(3),开关(4),后针杆(5)和探针组件(6),所述的插口(2)设置在针套(1)的腔内后端;所述的后针杆(5)焊接设置在插口(2)的后端;所述的前针杆(3)设置在针套(1)的腔内前端;所述的针套(1)的中间位置设置有开关(4);所述的针套(1)前端活动设置有探针组件(6);所述的探针组件(6)包括探针(61),绝缘套管(62)和外螺纹(63),所述的探针(61)外部设置有绝缘套管(62);所述的探针(61)的后端设置有外螺纹(63)。2.如权利要求1所述的该改进结构的仪器仪表测试探针,其特征在于,所述的开关(4)包括按钮(41),弹簧(42),连接杆(43)和导杆(44),所述的导杆(44)垂直设置在连接杆(43)的上部;所述的导杆(44)的外部设置有弹簧(42);所述的导杆(44)的上端设置有按钮(41)。3.如权利要求1所述的该...
【专利技术属性】
技术研发人员:姜长笑,
申请(专利权)人:成都小小赖科技有限公司,
类型:发明
国别省市:四川,51
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