A kind of glue head, which consists of a glue hole and a tank, is made up of a \X\ shape and a \one\ groove, and the center of the \X\ and \one\ groove is located at the same point. The hole is set at the intersection point of the glue slot, and the projection length of the \one\ groove in the length or width of the chip is the length of the projection. The chip is 0.3 to 0.6 times the length and width of the chip. The dispensing head is suitable for chips with large size or large difference in axial direction of X and Y axis, so that the amount of glue output and the amount of creeping glue around the chip are uniform, and no glue liquid upturn phenomenon occurs.
【技术实现步骤摘要】
一种用于装片机点胶的点胶头
本技术属于半导体封装
,具体为一种用于装片机点胶的点胶头。
技术介绍
半导体生产流程由晶圆制造、晶圆测试、芯片封装和封装后测试组成。半导体封装测试是指将通过测试的晶圆按照产品型号及功能需求加工得到独立芯片的过程。在半导体封装领域装片(DA)工段上流行的设备有多达数十种,按照生产厂家来划分,就有HITACHI,SHINKAWA,ESEC,ASM、ACCURACY等等。芯片的上片模式大致可以分为点胶、wafer刷胶、wafer甩胶、DAF等等。其中只有点胶模式下,装片(DA)设备的点胶机才会正常运作,其他几种上片模式都是在装片台处开启加热(Heat)功能,不用点胶。点胶所需的辅助耗材是点胶气管、胶桶、胶桶塞、连接杆及点胶头。取决于芯片尺寸及芯片厚度,影响装片后芯片四面出胶量、胶层厚度及爬胶量的就是点胶头。传统意义上的点胶头是圆孔点胶头,可选点胶头对应直径的圆孔作业于不同尺寸的芯片。但是,对于厚度非常薄且工艺要求严格的芯片产品,使用圆孔点胶头会发生爬胶过高导致胶量上翻沾污芯片或者芯片周围出胶不良等情况。随之出现的“X”型点胶头,上述情况得以改善,但是面对尺寸或X、Y轴方向尺寸差异较大的芯片,“X”型点胶头出现了芯片四周出胶量、爬胶量不均匀,离芯片厚度的75%的理想爬胶量相距较大,芯片粘合质量较差等问题。为了解决上述技术问题,本技术提出了一种用于装片机点胶的点胶头,包括:出胶孔,蓄胶槽,蓄胶槽由“X”形槽、“一”形槽组成。其中增加的“一”形槽在芯片长、宽方向的投影长度为相应长、宽尺寸的0.3~0.6倍。所述点胶头装置解决了大尺寸及 ...
【技术保护点】
一种用于装片机点胶的点胶头,包括:出胶孔,蓄胶槽,蓄胶槽由“X”形槽及在“X”形槽基础上增设的“一”形槽组成,“X”形槽贯穿于矩形芯片的对角线方向,其特征在于:“X”、“一”形槽的长度中心位置交于同一点且出胶孔中心位于所述交点位置,增设的“一”形槽在芯片长或宽度方向的投影长度为对应长、宽尺寸的0.3~0.6倍。
【技术特征摘要】
1.一种用于装片机点胶的点胶头,包括:出胶孔,蓄胶槽,蓄胶槽由“X”形槽及在“X”形槽基础上增设的“一”形槽组成,“X”形槽贯穿于矩形芯片的对角线方向,其特征在于:“X”、“一”形槽的长度中心位置交于同一点且出胶孔中心位于所述交点位置,增设的“一”形槽在芯片长或宽度方向的投...
【专利技术属性】
技术研发人员:陆明,王金贵,邵克,
申请(专利权)人:苏州通博半导体科技有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏,32
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