【技术实现步骤摘要】
光谱修正处理装置、方法以及药品真伪判定系统
本专利技术涉及一种光谱修正处理装置及其方法以及药品真伪判定系统。
技术介绍
随着分子光谱技术的飞速发展,光谱仪器也不断的更新与普及,由于采用光谱技术其能对检测样品进行无损检测并能对采样结果实现快速准确地分析,非常适合应用于对药品真伪的快速判定系统中,通过快速给出比对结果,从而来判定药品的真伪,但采集装置老化以及不同型号的采集装置之间的误差,会引起采集结果的不一致性,从而影响比对结果,那么若将合格光谱直接与标准药品光谱进行比对,必然会出现误判。所以为了能高效的应用事先建立的分析模型或方法,消除不同仪器之间的差异,以此来达到模型共享的目的就显得尤为重要,可以节约大量的人力、物力、财力。
技术实现思路
本专利技术是为解决上述问题而进行的,提供了一种能够更有效地对合格光谱重新建模消除由于仪器引起的误差的光谱修正处理装置、以及包含该光谱修正处理装置的药品真伪判定系统,同时还提供了一种对合格光谱进行修正处理的方法。本专利技术为了实现上述目的,采用了以下结构以及方法:本专利技术提供了一种光谱修正处理装置,基于存储有与预定采集装置型号相对应的不同标准物质的预定标准物质光谱的标准物质光谱库,对来自光谱质量检测装置的合格光谱进行修正处理,其特征在于,包括:接收部,接收合格光谱,与该合格光谱相对应的药品名称、采集装置型号,以及与采集装置型号相对应的校正标准物质名称以及相应的校正标准物质光谱;搜索获取部,基于校正标准物质名称,从标准物质光谱库中搜索并获取相应的预定标准物质光谱;局部最大值获取部,根据预定获取方法,从预定标准物质光谱中获取标准 ...
【技术保护点】
一种光谱修正处理装置,基于存储有与预定采集装置型号相对应的不同标准物质的预定标准物质光谱的标准物质光谱库,对来自光谱质量检测装置的合格光谱进行修正处理,其特征在于,包括:接收部,接收所述合格光谱,与该合格光谱相对应的药品名称、采集装置型号,以及与所述采集装置型号相对应的校正标准物质名称以及相应的校正标准物质光谱;搜索获取部,基于所述校正标准物质名称,从所述标准物质光谱库中搜索并获取相应的预定标准物质光谱;局部最大值获取部,根据预定获取方法,从所述预定标准物质光谱中获取标准局部最大值,并从所述校正标准物质光谱中获取校正局部最大值;位移偏差值计算部,从所述预定标准物质光谱中获取与所述标准局部最大值相对应的标准位移值,并从所述校正标准物质光谱中获取与所述局部最大值相对应的校正位移值,将所述标准位移值与所述校正位移值相减,得到位移偏差值;位移修正曲线拟合部,以所述标准位移值的数值为横坐标,按预定拟合方法对所述位移偏差值进行拟合得到相应的位移修正曲线,该位移修正曲线的纵坐标称为位移修正值;位移修正部,基于所述位移修正曲线,对所述合格光谱进行位移值修正计算得到位移修正光谱;最终光谱设定部,设定所述 ...
【技术特征摘要】
1.一种光谱修正处理装置,基于存储有与预定采集装置型号相对应的不同标准物质的预定标准物质光谱的标准物质光谱库,对来自光谱质量检测装置的合格光谱进行修正处理,其特征在于,包括:接收部,接收所述合格光谱,与该合格光谱相对应的药品名称、采集装置型号,以及与所述采集装置型号相对应的校正标准物质名称以及相应的校正标准物质光谱;搜索获取部,基于所述校正标准物质名称,从所述标准物质光谱库中搜索并获取相应的预定标准物质光谱;局部最大值获取部,根据预定获取方法,从所述预定标准物质光谱中获取标准局部最大值,并从所述校正标准物质光谱中获取校正局部最大值;位移偏差值计算部,从所述预定标准物质光谱中获取与所述标准局部最大值相对应的标准位移值,并从所述校正标准物质光谱中获取与所述局部最大值相对应的校正位移值,将所述标准位移值与所述校正位移值相减,得到位移偏差值;位移修正曲线拟合部,以所述标准位移值的数值为横坐标,按预定拟合方法对所述位移偏差值进行拟合得到相应的位移修正曲线,该位移修正曲线的纵坐标称为位移修正值;位移修正部,基于所述位移修正曲线,对所述合格光谱进行位移值修正计算得到位移修正光谱;最终光谱设定部,设定所述位移修正光谱为最终光谱。2.一种光谱修正处理装置,基于存储有与预定采集装置型号相对应的不同标准物质的预定标准物质光谱的标准物质光谱库,对来自光谱质量检测装置的合格光谱进行修正处理,其特征在于,包括:接收部,接收所述合格光谱,与该合格光谱相对应的药品名称、采集装置型号,以及与所述采集装置型号相对应的校正标准物质名称以及相应的校正标准物质光谱;背景扣除处理部,根据预定扣除方法对所述合格光谱进行背景扣除处理得到背景扣除光谱;平滑处理部,根据预定平滑方法对所述背景扣除药品光谱进行平滑处理得到平滑光谱;搜索获取部,基于所述校正标准物质名称,从所述标准物质光谱库中搜索并获取相应的预定标准物质光谱;局部最大值获取部,根据预定获取方法,获取与所述预定标准物质光谱相对应的标准局部最大值,并获取与所述校正标准物质光谱相对应的校正局部最大值;位移偏差值计算部,从所述预定标准物质光谱中获取与所述标准局部最大值相对应的标准位移值,并从所述校正标准物质光谱中获取与所述校正局部最大值相对应的校正位移值,将所述标准位移值与所述校正位移值相减,得到位移偏差值;位移修正曲线拟合部,以所述标准位移值的数值为横坐标,按预定拟合方法对所述位移偏差值进行拟合得到相应的位移修正曲线,该位移修正曲线的纵坐标称为位移修正值;位移修正部,基于所述位移修正曲线,对所述平滑光谱进行位移值修正计算得到位移修正光谱;最终光谱设定部,设定所述位移修正光谱为最终光谱。3.根据权利要求1或2所述的光谱修正处理装置,其特征在于:其中,所述预定获取方法包括以下步骤:步骤1,根据洛伦兹函数,分别对所述预定标准物质光谱和所述校正标准物质光谱的峰进行拟合,分别得到对应的洛伦兹峰;步骤3,基于变换检测,获取与所述预定标准物质光谱对应的所述洛伦兹峰的峰值作为所述标准局部最大值,获取与所述校正标准物质光谱对应的所述洛伦兹峰的峰值作为所述校正局部最大值。4.根据权利要求1或2所述的光谱修正处理装置,其特征在于:其中,所述预定获取方法包括以下步骤:步骤1,根据高斯函数,分别对所述预定标准物质光谱正标准物质光谱和所述校正标准物质光谱的峰进行拟合后,分别得到对应的高斯峰;步骤2,获取所述预定...
【专利技术属性】
技术研发人员:陆峰,陈辉,柳艳,朱青霞,武媚然,张彬彬,
申请(专利权)人:中国人民解放军第二军医大学,
类型:发明
国别省市:上海,31
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