一种用于材料磁性测量系统中的样品腔技术方案

本实用新型专利技术涉及高压物性及薄膜材料特性测量领域，一种用于材料磁性测量系统中的样品腔，包括由顶砧外筒、上支撑台、上顶砧、套筒、垫圈、样品、下顶砧、下支撑台、气体压力单元、底座、压紧螺丝、导气管、光纤组成的样品腔、金线、电极、垫圈架、圆柱凸台、限位螺丝、调平台，气体压力单元随着其内部气体压强的改变而在竖直方向膨胀或收缩，底座下部直接与材料磁性测量系统中的冷源相接触，导气管贯穿顶砧外筒上表面并连通气体压力单元，样品放入样品腔时下顶砧、下支撑台、气体压力单元、底座、压紧螺丝能整体与顶砧外筒分离；调平台轴向有贯穿孔，圆柱凸台位于该孔内部、且其顶部有直径500微米的圆柱体凸出部，限位螺丝调节圆柱凸台位置。

A sample chamber for magnetic measurement system of materials

The utility model relates to the field of measurement of high pressure physical property and film material properties, a sample cavity used in a material magnetic measurement system, including a top anvil, an upper support table, an upper top anvil, a sleeve, a washer, a lower top anvil, a lower support table, a gas pressure unit, a base, a compacting screw, a pipe, and optical fiber. The sample cavity, gold wire, electrode, washer frame, cylindrical protruding platform, limit screw, and adjustable platform. The gas pressure unit expands or contracts vertically in the vertical direction along with the change of its internal gas pressure. The lower part of the base directly contacts the cold source in the material magnetic measurement system, and the tube runs through the top of the anvil on the surface of the anvil and connected with the gas. In the pressure unit, the sample is placed in the sample chamber, the bottom anvil, the lower support table, the gas pressure unit, the base, the compacting screw can be separated from the top anvil; the adjustable platform is perforated in the axial direction, the cylindrical convex platform is located inside the hole, and the top has a cylindrical convex part with a diameter of 500 microns, and the limit screw regulates the position of the cylindrical protrude.

【技术实现步骤摘要】
一种用于材料磁性测量系统中的样品腔
本技术涉及高压物性测量及薄膜材料特性测量领域，是一种以高压氦气作为驱动气体来对顶砧施压的、样品的热量分布更均匀、能够使得薄膜样品中导电层与电极可靠连接的一种用于材料磁性测量系统中的样品腔。
技术介绍
顶砧是目前唯一能够产生百万大气压以上静态压力的科学实验装置，在高压科学研究中不可替代，顶砧的工作原理是利用一对具有极小台面(一般直径在几十微米量级)的高硬度材料通过机械方式挤压样品而产生高压环境，在两个台面形成的挤压面之间放置预先加工有样品孔的金属垫圈，样品放置在样品孔中。在实验过程中需要对样品受到的压强进行监测，目前一般的压强测试方法通常使用红宝石荧光谱的方法，需要将一块红宝石与样品一起置于顶砧的样品室内，同时收集其发出的荧光。现有技术存在的缺陷是，在某些在极低温条件下测量材料磁性特性的装置中，空间较小，因此对顶砧有体积上的限制，因此现有技术中为了满足体积上的设计需求通常以降低顶砧的某些性能参数为代价，如压力范围、温度均匀性等。用于给顶砧施加压力的结构大多是通过机械方式如螺丝螺纹结构、液压结构等等，其在极低温环境下容易产生压力调节不灵敏甚至卡死等问题本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于材料磁性测量系统中的样品腔，主要包括由顶砧外筒(1)、上支撑台(2)、上顶砧(3)、套筒(4)、垫圈(5)、样品(6)、下顶砧(7)、下支撑台(8)、气体压力单元(9)、底座(10)、压紧螺丝(11)、导气管(12)、光纤(13)组成的样品腔、金线(14)、电极(15)、垫圈架(16)、圆柱凸台(17)、限位螺丝(18)、调平台(19)，顶砧外筒(1)为下方开口的圆柱形筒、且其开口能够用底座(10)密封，上支撑台(2)固定于顶砧外筒(1)内的上表面，上顶砧(3)固定于上支撑台(2)下表面，上顶砧(3)的压力接触面上具有厚度100nm的金电极；套筒(4)为一圆柱体的侧面，且其上端固定于上...

【技术特征摘要】
1.一种用于材料磁性测量系统中的样品腔，主要包括由顶砧外筒(1)、上支撑台(2)、上顶砧(3)、套筒(4)、垫圈(5)、样品(6)、下顶砧(7)、下支撑台(8)、气体压力单元(9)、底座(10)、压紧螺丝(11)、导气管(12)、光纤(13)组成的样品腔、金线(14)、电极(15)、垫圈架(16)、圆柱凸台(17)、限位螺丝(18)、调平台(19)，顶砧外筒(1)为下方开口的圆柱形筒、且其开口能够用底座(10)密封，上支撑台(2)固定于顶砧外筒(1)内的上表面，上顶砧(3)固定于上支撑台(2)下表面，上顶砧(3)的压力接触面上具有厚度100nm的金电极；套筒(4)为一圆柱体的侧面，且其上端固定于上支撑台(2)的下面、下端套于下支撑台(8)外围，下支撑台(8)的下面连接有气体压力单元(9)，下顶砧(7)固定于下支撑台(8)上表面，下支撑台(8)能够沿套筒(4)轴线方向移动，气体压力单元(9)与底座(10)之间的距离能够通过压紧螺丝(11)调节；垫圈架(16)为环状结构、其中心具有直径...

【专利技术属性】
技术研发人员：李君华，张向平，潘天娟，
申请(专利权)人：金华职业技术学院，
类型：新型
国别省市：浙江,33