A kind of amorphous core and double parameter test device, which comprises a frame, the frame is provided with a linear guide rail in the vertical direction, the rail is matched with a sliding block, the sliding block is connected to the cylinder cylinder rod, the slider is fixedly connected with a connecting frame, a machine frame is provided with a testing device and a testing device of inductance voltammetry, inductance test the device comprises a measuring head inductance and inductance test head, voltammetry the test device includes a test head under test head and voltammetry test voltammetry, inductively voltammetry test head and the heads are respectively arranged at both sides of the connecting frame, the inductance and the test head on the test head above the corresponding voltammetry are arranged on the frame on the test head and lower inductance voltammetry test head, inductance test device and test device are connected to the PLC volt. Two parameters can be measured by only one operation of the core of the device. The test efficiency is high and the breakage rate is low.
【技术实现步骤摘要】
一种非晶磁芯双参数测试装置
本技术涉及测试装置,特别涉及非晶磁芯电感和伏安双参数的测试装置,属于磁芯检测设备
技术介绍
在磁芯的生产制造中需要对磁芯的电感和伏安参数进行测试,目前测试的方式和流程如下:(1)、产品经过排序进入测试分选盘,到达磁芯电感测试位;(2)、在电感测试位进行产品所需电感参数测试,同时控制系统记录产品的测试结果;(3)、产品测试的参数经过plc的运算判断是良品或废品;(4)、根据运算判断的结果将产品从不同的下料口流出;(5)、再将电感合格的产品重新装入机器料仓中,更换测试仪表为伏安测试表,重新测试一遍磁芯的伏安性能,得到最终电感和伏安参数均符合要求的产品。这种测试方式下,每个产品需要经过两次运行才能完成测试,每次排序输送运行过程中都可能对产品造成损坏,所以两次运行的造成产品损坏的几率要增加;二是这种测试方式效率低,耗时长。
技术实现思路
本技术的目的在于克服目前的磁芯电感和伏安参数测试中存在的上述问题,提供一种非晶磁芯双参数测试装置。为实现本技术的目的,采用了下述的技术方案:一种非晶磁芯双参数测试装置,包括机架,在机架上设置有竖直方向的直 ...
【技术保护点】
一种非晶磁芯双参数测试装置,包括机架,其特征在于:在机架上设置有竖直方向的直线导轨,导轨上配合设置有滑块,滑块连接在气缸的缸杆上,在滑块上固定连接有连接架,在机架上设置有电感测试装置和伏安测试装置,所述的电感测试装置包括电感下测试头和电感上测试头,所述的伏安测试装置包括伏安下测试头和伏安上测试头,电感下测试头和伏安下测试头分别设置在连接架的两侧,电感上测试头和伏安上测试头分别对应设置在机架上电感下测试头和伏安下测试头的上方,电感测试装置和伏安测试装置均连接至PLC,测试时,相邻的两个磁芯在移载装置的作用下分别输送至电感下测试头和伏安下测试头的上方,气缸带动连接架上移使电感测 ...
【技术特征摘要】
1.一种非晶磁芯双参数测试装置,包括机架,其特征在于:在机架上设置有竖直方向的直线导轨,导轨上配合设置有滑块,滑块连接在气缸的缸杆上,在滑块上固定连接有连接架,在机架上设置有电感测试装置和伏安测试装置,所述的电感测试装置包括电感下测试头和电感上测试头,所述的伏安测试装置包括伏安下测试头和伏安上测试头,电感下测试头和伏安下测试头分别设置在连接架的两侧,电感上测试头和伏安上测试头分别对应设置在机架上电感下测试头和伏安下测试头的...
【专利技术属性】
技术研发人员:高仪隆,朱志辉,高树新,赵起振,
申请(专利权)人:安阳佳友非晶科技有限公司,
类型:新型
国别省市:河南,41
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