接近传感器制造技术

本发明专利技术提供一种接近传感器，来提供物体接近程度的检测精度。一种接近传感器，其接受发光脉冲被物体反射而到来的反射光，并检测所述物体的接近，该接近传感器具备：转换电路，其将从接受所述反射光的受光元件以与所述物体的接近程度对应的大小输出的电流转换成电压并输出；差动转换电路，其将所述转换电路的输出电压转换成差动电压并输出；以及差动结构的相关二重采样电路，其从在所述发光脉冲的上升沿对所述差动转换电路的输出差动电压进行采样而得的值，减去在所述发光脉冲的下降沿对所述输出差动电压进行采样而得的值。

【技术实现步骤摘要】
接近传感器
本专利技术涉及一种接近传感器。
技术介绍
以往已知，接受发光脉冲被物体反射而到来的反射光，并检测该物体的有无的技术(例如，参照专利文献1)。专利文献1：日本特开平6-152364号公报
技术实现思路
然而，若受到反射光所包括的干扰光(例如，太阳光或照明光等环境光)的影响，则会存在物体的接近程度的检测精度下降的情况。因此，本专利技术的目的在于，提供一种提高物体的接近程度的检测精度的接近传感器。为达成上述目的，在本专利技术的一实施方式提供一种接近传感器，其接受发光脉冲被物体反射而到来的反射光，并检测所述物体的接近，该接近传感器具备：转换电路，其将从接受所述反射光的受光元件以与所述物体的接近程度对应的大小输出的电流转换成电压并输出；差动转换电路，其将所述转换电路的输出电压转换成差动电压并输出；以及差动结构的相关二重采样电路，其从在所述发光脉冲的上升沿对所述差动转换电路的输出差动电压进行采样而得的值，减去在所述发光脉冲的下降沿对所述输出差动电压进行采样而得的值。根据本专利技术的实施方式，能够提高物体的接近程度的检测精度。附图说明图1是表示接近传感器的构成的一例的图。图2是表示接近传感本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种接近传感器，其接受发光脉冲被物体反射而到来的反射光，并检测所述物体的接近，该接近传感器的特征在于，具备：转换电路，其将从接受所述反射光的受光元件以与所述物体的接近程度对应的大小输出的电流转换成电压并输出；差动转换电路，其将所述转换电路的输出电压转换成差动电压并输出；以及差动结构的相关二重采样电路，其从在所述发光脉冲的上升沿对所述差动转换电路的输出差动电压进行采样而得的值，减去在所述发光脉冲的下降沿对所述输出差动电压进行采样而得的值。

【技术特征摘要】
2016.09.29 JP 2016-1922811.一种接近传感器，其接受发光脉冲被物体反射而到来的反射光，并检测所述物体的接近，该接近传感器的特征在于，具备：转换电路，其将从接受所述反射光的受光元件以与所述物体的接近程度对应的大小输出的电流转换成电压并输出；差动转换电路，其将所述转换电路的输出电压转换成差动电压并输出；以及差动结构的相关二重采样电路，其从在所述发光脉冲的上升沿对所述差动转换电路的输出差动电压进行采样而得的值，减去在所述发光脉冲的下降沿对所述输出差动电压进行采样而得的值。2.根据权利要求1所述的接近传感器，其特征在于，所述相关二重采样电路具备：差动放大器；第一对电容器；第二对电容器，其被串联插入在所述差动放大器的一对输入节点与所述差动放大器的一对输出节点之间；第一开关电路，其使所述第一对电容器与所述一对输入节点之间的连接关系在所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：川崎佑也，胁直纯，
申请(专利权)人：三美电机株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP