无源UHF RFID标签写入时间的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种无源UHF RFID标签写入时间的测试方法，包括使RFID标签读写器向一待测试标签发送指令，使待测试标签处于开放状态；使射频信号分析装置采集RFID标签读写器与待测试标签通信过程中的射频信号；使RFID标签读写器发送第一次写入命令至待测试标签的第一块存储区，并记录第一次写入命令的完成时间；使RFID标签读写器发送第一次读取命令至待测试标签的第一块存储区，已验证第一次写入命令是否成功；使RFID标签读写器发送第二次写入命令至待测试标签的最后一块存储区，并记录第二次写入命令的完成时间；使RFID标签读写器发送第二次读取命令至待测试标签的最后一块存储区，已验证第二次写入命令是否成功。本发明专利技术获得了以下有益效果：可对无源UHF RFID标签的写入时间进行测试。

Test method for writing time of passive UHF RFID tag

The invention discloses a test method for passive UHF RFID tag written time, including the RFID tag reader to a test instruction to be sent to the test label, the label in the open state; the RF signal acquisition device of RFID tag reader and RF signal to test the label in the process of communication; the first block store the RFID label reader sends the first write commands to test and record label, first write command completion time; the first block storage area on the RFID label reader sends the first reading command to test the label, verified first write command is successful; the RFID label reading last a storage area to write is sent second write commands to tested label, and recorded second write command completion time; the RFID tag reader transmits the second read command To the last storage area of the test label, the second write commands have been verified to have been successful. The invention has the following advantages: write the time on the passive UHF RFID tag test.

【技术实现步骤摘要】
无源UHFRFID标签写入时间的测试方法
本专利技术涉及射频标签
，尤其涉及一种无源UHFRFID标签反射散射强度测试方法。
技术介绍
射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术，是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性，因此完成识别工作时无需人工干预，能够实现识别自动化且不易损坏；可识别高速运动的射频标签，也可同时识别多个射频标签，操作快捷方便；射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境，且可以穿透非金属物体进行识别，抗干扰能力强。现有的射频标签技术中，无源UHFRFID(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中，然而，由于目前缺少对无源UHFRFID的测试设备和测试方法，使得各种工作指标不统一的无源UHFRFID被混合使用，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。
技术实现思路
针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种无源UHFRFID标签写入时间的测试方法。为实现上述目的，本专利技术采用了如下的技术方案：一种无源UHFRFID标签写入时间的测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种无源UHF RFID标签写入时间的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签读写器及一射频信号分析装置，包括以下步骤：步骤1，根据测试项目定义复数个测试用例，并选取一测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使所述RFID标签读写器以无线形式向一置于电波暗室内的待测试标签发送指令，使所述待测试标签处于开放状态；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；步骤6，使所述RFID标签读写器发送第一次写入...

【技术特征摘要】
1.一种无源UHFRFID标签写入时间的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签读写器及一射频信号分析装置，包括以下步骤：步骤1，根据测试项目定义复数个测试用例，并选取一测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使所述RFID标签读写器以无线形式向一置于电波暗室内的待测试标签发送指令，使所述待测试标签处于开放状态；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；步骤6，使所述RFID标签读写器发送第一次写入命令至所述待测试标签的第一块存储区，并记录所述第一次写入命令的完成时间；步骤7，使所述RFID标签读写器发送第一次读取命令至所述待测试标签的第一块存储区，已验证所述第一次写入命令是否成功；步骤8，使所述RFID标签读写器发送第二次写入命令至所述待测试标签的最后一块存储区，并记录所述第二次写入命令的完成时间；步骤9，使所述RFID标签读写器发送第二次读取命令至所述待测试标签的最后一块存储区，已验证所述第二次写入命令是否成功；步骤10，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤9，直至所有所述测试用例测试完毕。2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，还包括天线及环形器，所述射频信号分析...

【专利技术属性】
技术研发人员：冀京秋，蒋亦青，
申请(专利权)人：中京复电上海电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31