转换效率探测设备及方法技术

本发明专利技术提供一种转换效率探测设备及方法。所述设备包括同步辐射出光装置、图像传感器及处理单元。同步辐射出光装置包括同步辐射光源及标准探测器。同步辐射光源用于提供X光。在X光的传输光路上依次设置有用于将X光转换为可见光的闪烁体及用于记录从闪烁体出射的可见光光子数的图像传感器，其中，标准探测器活动设置在同步辐射光源与闪烁体之间，以使标准探测器在位于X光的传输光路上时测量X光的光强。处理单元与标准探测器及图像传感器电性连接，用于根据光强及可见光光子数处理得到闪烁体的转换效率。通过所述设备可获得闪烁体将X光转换为可见光的转换效率，以便在利用闪烁体进行X光探测时，通过可见光的可见光光子数得到X光强度。

Conversion efficiency detection equipment and methods

【技术实现步骤摘要】
转换效率探测设备及方法
本专利技术涉及核辐射探测器
，具体而言，涉及一种转换效率探测设备及方法。
技术介绍
惯性约束聚变中，激光等离子体发射的软X光和可见光包含了大量丰富的物理信息，通过测量激光等离子体发射的软X光和可见光可以细致地研究激光与物质相互作用的机理、物理过程等。X光转换材料在X摄像诊断系统中具有很重要的作用，它的转换效率对整个系统有很大的影响，因此需要探测X光转换材料的转换效率。由此，需要提供一种可以探测X光转换材料的转换效率的设备。
技术实现思路
为了克服现有技术中的上述不足，本专利技术所要解决的技术问题是提供一种转换效率探测设备及方法，其能够获得闪烁体将X光转换为可见光的转换效率，以便在利用闪烁体进行X光探测时，通过可见光的可见光光子数得到X光强度。本专利技术实施例提供一种转换效率探测设备，所述设备包括同步辐射出光装置、图像传感器及处理单元；所述同步辐射出光装置包括同步辐射光源及标准探测器；所述同步辐射光源用于提供X光；在所述X光的传输光路上依次设置有用于将所述X光转换为可见光的闪烁体及用于记录从所述闪烁体出射的可见光光子数的所述图像传感器，其中，所述标准探测器活动设置在所述同步辐射光源与所述闪烁体之间，以使所述标准探测器在位于所述X光的传输光路上时测量所述X光的光强；所述处理单元与所述标准探测器及图像传感器电性连接，用于根据所述光强及可见光光子数处理得到所述闪烁体的转换效率。在本专利技术实施例中，所述设备还包括快门，所述快门设置在所述同步辐射光源与所述标准探测器之间，用于控制曝光时间。在本专利技术实施例中，所述设备还包括光阑，所述光阑设置在所述同步辐射光源与所述快门之间，用于限制光斑面积。在本专利技术实施例中，所述同步辐射出光装置还包括真空管道，所述光阑、快门及标准探测器设置在所述真空管道内。在本专利技术实施例中，所述设备还包括一固定架及黑腔盒，所述黑腔盒用于固定所述图像传感器及容置通过所述固定架固定的所述闪烁体。在本专利技术实施例中，所述装置还包括法兰，所述法兰的一侧与所述真空管道连接，所述法兰的另一侧与所述黑腔盒连接，以使所述X光经所述法兰照射至所述闪烁体。在本专利技术实施例中，所述法兰包括相对设置的第一通孔及第二通孔，所述第一通孔设置在所述法兰与所述真空管道连接的一侧，所述第二通孔设置在所述法兰与所述闪烁体相邻的一侧，所述第二通孔的孔径小于所述第一通孔的孔径。在本专利技术实施例中，所述法兰还包括卡槽，所述黑腔盒通过所述卡槽与所述法兰连接。在本专利技术实施例中，所述设备还包括遮光件，所述遮光件覆盖在所述设备表面，以屏蔽可见光、杂散光。本专利技术实施例还提供一种转换效率探测方法，应用于上述任意一项所述的转换效率探测设备，所述方法包括：在所述标准探测器位于所述X光的传输光路上时，记录快门的第一打开时间及第一关闭时间，并通过所述标准探测器获得第一时间段内与所述X光对应的第一电流，其中，所述第一时间段与所述第一打开时间及第一关闭时间对应；在所述标准探测器由位于所述X光的传输光路变为不位于所述X光的传输光路时，记录所述快门的第二打开时间及第二关闭时间，并通过所述标准探测器获得第二时间段内与所述X光对应的可见光光子数，其中，所述第二时间段与所述第二打开时间及第二关闭时间对应；在所述标准探测器由不位于所述X光的传输光路变为位于所述X光的传输光路时，记录所述快门的第三打开时间及第三关闭时间，并通过所述标准探测器获得第三时间段内与所述X光对应的第三电流，其中，所述第三时间段与所述第三打开时间及第三关闭时间对应；根据所述第一时间段、第一电流、第三时间段及第三电流计算得到所述第二时间内与所述X光对应的第二电流；根据所述第二电流及所述可见光光子数处理得到所述闪烁体的转换效率。相对于现有技术而言，本专利技术具有以下有益效果：本专利技术实施例提供一种转换效率探测设备及方法。所述设备包括同步辐射出光装置、图像传感器及处理单元。所述同步辐射出光装置包括同步辐射光源及标准探测器。所述同步辐射光源用于提供X光。在所述X光的传输光路上依次设置有用于将所述X光转换为可见光的闪烁体及用于记录从所述闪烁体出射的可见光光子数的所述图像传感器，其中，所述标准探测器活动设置在所述同步辐射光源与所述闪烁体之间，以使所述标准探测器在位于所述X光的传输光路上时测量所述X光的光强。所述处理单元与所述标准探测器及图像传感器电性连接，用于根据所述光强及可见光光子数处理得到所述闪烁体的转换效率。通过所述设备可获得闪烁体将X光转换为可见光的转换效率，以便在利用闪烁体进行X光探测时，通过可见光的可见光光子数得到X光强度。为使专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举本专利技术较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1是本专利技术实施例提供的转换效率探测设备的结构示意图之一。图2是本专利技术实施例提供的转换效率探测设备的结构示意图之二。图3是本专利技术实施例提供的转换效率探测设备的结构示意图之三。图4是专利技术实施例提供的转换效率探测方法的流程示意图。图5是本专利技术实施例提供的入射至闪烁体的X光光强示意图。图标：100-转换效率探测设备；101-真空管道；102-黑腔盒；103-法兰；110-同步辐射光源；120-光阑；130-快门；140-标准探测器；150-闪烁体；160-图像传感器。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。在本专利技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种转换效率探测设备，其特征在于，所述设备包括同步辐射出光装置、图像传感器及处理单元；所述同步辐射出光装置包括同步辐射光源及标准探测器；所述同步辐射光源用于提供X光；在所述X光的传输光路上依次设置有用于将所述X光转换为可见光的闪烁体及用于记录从所述闪烁体出射的可见光光子数的所述图像传感器，其中，所述标准探测器活动设置在所述同步辐射光源与所述闪烁体之间，以使所述标准探测器在位于所述X光的传输光路上时测量所述X光的光强；所述处理单元与所述标准探测器及图像传感器电性连接，用于根据所述光强及可见光光子数处理得到所述闪烁体的转换效率。

【技术特征摘要】
1.一种转换效率探测设备，其特征在于，所述设备包括同步辐射出光装置、图像传感器及处理单元；所述同步辐射出光装置包括同步辐射光源及标准探测器；所述同步辐射光源用于提供X光；在所述X光的传输光路上依次设置有用于将所述X光转换为可见光的闪烁体及用于记录从所述闪烁体出射的可见光光子数的所述图像传感器，其中，所述标准探测器活动设置在所述同步辐射光源与所述闪烁体之间，以使所述标准探测器在位于所述X光的传输光路上时测量所述X光的光强；所述处理单元与所述标准探测器及图像传感器电性连接，用于根据所述光强及可见光光子数处理得到所述闪烁体的转换效率。2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备还包括快门，所述快门设置在所述同步辐射光源与所述标准探测器之间，用于控制曝光时间。3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述设备还包括光阑，所述光阑设置在所述同步辐射光源与所述快门之间，用于限制光斑面积。4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述同步辐射出光装置还包括真空管道，所述光阑、快门及标准探测器设置在所述真空管道内。5.根据权利要求4所述的设备，其特征在于，所述设备还包括一固定架及黑腔盒，所述黑腔盒用于固定所述图像传感器及容置通过所述固定架固定的所述闪烁体。6.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，所述装置还包括法兰，所述法兰的一侧与所述真空管道连接，所述法兰的另一侧与所述黑腔盒连接，以使所述X光经所述法兰照射至所述闪烁体。7.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述法兰包括相对设置的第一通孔及第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：王静，韦敏习，杨祖华，车兴森，张文海，杨品，杨国洪，尚万里，刘慎业，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心，
类型：发明
国别省市：四川,51