采用配电网络电压去卷积的芯片上电流感测制造技术

技术编号:17544985 阅读:39 留言:0更新日期:2018-03-25 01:59
公开了被配置为通过采用配电网络电压去卷积技术来提供芯片上电流感测的系统(100)、方法(300,500)以及其它实施例。在芯片上系统设备(100)的操作期间测量芯片上系统设备(100)的电压平面(103)上的电压信号。电压信号从配电网络得出(310)。至少部分地基于从配电网络得出的逆卷积系数来对电压信号进行去卷积,以恢复由芯片上系统设备(100)从配电网络汲取的电流信号(320)。

Current sensing on chip using power distribution network voltage deconvolution

A system (100), a method (300500) and other embodiments, which are configured to provide on-chip current sensing through the use of distribution network voltage deconvolution technology, are disclosed. The voltage signal on the voltage plane (103) of the system device (100) on the chip is measured during the operation of the system device (100) on the chip. The voltage signal is obtained from the distribution network (310). At least in part, the deconvolution of the voltage signal is based on the inverse convolution coefficient derived from the distribution network to recover the current signal (320) derived from the distribution network on the chip system (100).

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】采用配电网络电压去卷积的芯片上电流感测
技术介绍
在集成电路芯片(即,芯片上系统设备)的领域中,经常执行感测从电源汲取的电流以自主地管理集成电路芯片的功耗。如果从电源汲取的电力太多,那么电源会关闭或故障(例如,变得损坏)。此外,如果芯片吸取的电力太多,那么芯片会变热并可能熔化。而且,由于公用事业成本和环境考虑,消费者可能希望芯片消耗的电力量受到限制。传统上,已经使用了两种途径来感测由集成电路芯片汲取的电流。第一种方法是在给芯片供电的电源的外部测量电流,并且然后经由专用主输入端将电流信息传送给芯片。但是,这种专用主输入端增加了芯片的成本。第二种方法涉及在电源和负载之间在芯片中建立高精度电阻器,连同在操作期间测量电阻器两端的电压降的电压传感器。但是,这种电阻器途径浪费的功率与所汲取电流的平方乘以所选择的电阻值成比例。
技术实现思路
在一个实施例中,描述了用于感测由芯片上系统设备汲取的电流信号的方法。在芯片上系统设备的操作期间,在芯片上系统设备的电压平面上测量电压信号。电压信号从配电网络得出。至少部分地基于从配电网络得出的逆卷积系数来对电压信号进行去卷积,以恢复由芯片上系统设备从配电网络汲取的电流信本文档来自技高网...
采用配电网络电压去卷积的芯片上电流感测

【技术保护点】
一种感测电流信号的方法(300),所述方法包括:在芯片上系统设备中:在芯片上系统设备的操作期间测量芯片上系统设备的电压平面上的电压信号,其中电压信号从配电网络得出(310);以及至少部分地基于从配电网络得出的逆卷积系数对电压信号去卷积,以恢复由芯片上系统设备从配电网络汲取的电流信号(320)。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.07.15 US 14/799,6641.一种感测电流信号的方法(300),所述方法包括:在芯片上系统设备中:在芯片上系统设备的操作期间测量芯片上系统设备的电压平面上的电压信号,其中电压信号从配电网络得出(310);以及至少部分地基于从配电网络得出的逆卷积系数对电压信号去卷积,以恢复由芯片上系统设备从配电网络汲取的电流信号(320)。2.如权利要求1所述的方法,其中所述逆卷积系数是从配电网络的传递函数得出的,所述传递函数表征由于配电网络的电属性引起的所汲取的电流信号与电压平面上的电压信号之间的关系。3.如权利要求1所述的方法,其中所述测量包括对电压信号执行模数转换操作。4.如权利要求1所述的方法,其中所述测量包括对电压信号的数字表示执行抗混叠滤波操作。5.如权利要求1所述的方法,其中所述测量包括对电压信号的数字表示执行低通滤波操作。6.如权利要求1所述的方法,其中所述测量包括对电压信号的数字表示执行下采样操作。7.如权利要求1所述的方法,还包括,响应于电流信号而调整以下中的一个或多个:芯片上系统设备的操作频率或由配电网络向芯片上系统设备的电压平面提供的供电电压。8.一种芯片上系统设备(100),包括:电压平面(103),被配置为携带从配电网络得出的模拟电压信号;模数逻辑(130),被配置为将模拟电压信号转换为数字电压信号;以及去卷积逻辑(160),被配置为至少部分地基于从配电网络得出的逆卷积系数,从数字电压信号中恢复由芯片上系统设备(100)汲取的电流信号。9.如权利要求8所述的芯片上系统设备,其中所...

【专利技术属性】
技术研发人员:S·土鲁勒斯
申请(专利权)人:甲骨文国际公司
类型:发明
国别省市:美国,US

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