光源检测系统技术方案

本发明专利技术提供一种光源检测系统包括：光源靶；光源成像分划板，光源成像分划板上形成有第一标尺，第一标尺的中心为第一靶心；第一转像透镜，设置在光源成像分划板和光源靶之间，第一转像透镜的光轴垂直于光源靶的表面，且第一转像透镜的光轴与第一靶心共线；其中，光源成像分划板、第一转像透镜和光源靶之间具有设定距离，光源成像分划板能够透射聚焦于第一标尺的会聚光束，第一转像透镜能够接收经过光源成像分划板透射的光束并能够将第一标尺成像于光源靶上，光源靶能够接收经过光源成像分划板透射且未被第一转像透镜接收的光束。本发明专利技术能够简化结构，并降低光束近场远场特性的检测难度。

Light source detection system

The present invention provides a light detection system includes a light source target; light source imaging reticle, has formed the first scale light source imaging reticle, the first scale center as the first target; the first image rotation lens, a light source arranged on the reticle imaging and light source target between the first image rotation lens optical axis perpendicular to the light source the target surface, and the first image rotation lens and optical axis of the first target collinear; light source imaging reticle, first image rotation between the lens and the light source has a set distance from the target, the light imaging reticle can focus on the transmission of the first scale convergent beam, the first image rotation lens capable of receiving beam through the light source imaging division in the transmission and can be the first scale image on the target light source, light source target can receive through the light source imaging reticle transmission and is not the first image rotation lens receives the beam. The invention can simplify the structure and reduce the detection difficulty of the near-field far field characteristics of the beam.

【技术实现步骤摘要】
光源检测系统
本专利技术涉及光学检测设备技术，尤其涉及一种光源检测系统。
技术介绍
在光学器件的生产过程中，通常需要检测光学器件所发出光束的近场特性和远场特性，通过了解光束的近场特性和远场特性，能够对于光学器件的装配及调整起到重要的参考作用。目前，对于光束的近场特性的检测主要包括对于光束在光学器件中的位置分布特性的检测，对于光束的远场特性的检测主要包括对于光束在光学器件中传播角度特性的检测，然而现有的光束近场远场特性检测装置结构复杂，检测操作不便，增加了光束近场远场特性的检测难度。
技术实现思路
本专利技术提供一种光源检测系统，以简化结构，并降低光束近场远场特性的检测难度。本专利技术提供一种光源检测系统，包括：光源靶；光源成像分划板，所述光源成像分划板上形成有第一标尺，所述第一标尺的中心为第一靶心；第一转像透镜，设置在所述光源成像分划板和光源靶之间，所述第一转像透镜的光轴垂直于所述光源靶的表面，且所述第一转像透镜的光轴与所述第一靶心共线；其中，所述光源成像分划板、第一转像透镜和光源靶之间具有设定距离，所述光源成像分划板能够透射聚焦于所述第一标尺的会聚光束，所述第一转像透镜能够接收经过所述光源成像分划板透射的光束并能够将所述第一标尺成像于所述光源靶上，所述光源靶能够接收经过所述光源成像分划板透射且未被所述第一转像透镜接收的光束。基于上述，本专利技术提供的光源检测系统，在对光源装置所发出的会聚光束进行检测时，可使第一标尺位于光源装置的会聚透镜的焦点处，并使第一转像透镜的光轴与会聚透镜的光轴共直线，此时，会聚光束能够聚焦在第一标尺上，第一转像透镜能够接收经过光源成像分划板透射的光束并能够将第一标尺以及会聚光束的聚焦点的光斑成像于光源靶上，通过观察光源靶，能够观察到第一标尺的成像和光束所形成的光斑的成像，通过读取光束所形成的光斑的成像在第一标尺上的位置与第一标尺的第一靶心的成像之间的距离，从而能够了解光源装置所发出的会聚光束的会聚点与设计位置(会聚透镜的焦点)的偏离距离，即会聚光束的近场特性。另外，由于光源靶能够接收经过光源成像分划板透射且未被第一转像透镜接收的光束，因此，在光源靶上还会出现由未被第一转像透镜接收的光束照射而成的光圈，通过观察光源靶，还能够读取光圈的圆心与光束所形成的光斑的成像的圆心之间的距离并利用公式∠A＝arctan(L1/L2)计算光源装置所发出的会聚光束与设计位置(会聚透镜的光轴)的偏离角度，即会聚光束的远场特性。其中∠A为会聚光束与设计位置(会聚透镜的光轴)的偏离角度；L1为光圈的圆心与光束所形成的光斑的成像的圆心之间的距离；L2为光源成像分划板和光源靶之间距离。由此，本专利技术提供的光源检测系统结构简单，且能够方便的获取光源装置所发出的会聚光束的近场特性和远场特性，降低了光束近场远场特性的检测难度。附图说明图1为本专利技术实施例提供的一种光源检测系统的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种光源检测系统的光源成像分划板的结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种光源检测系统的光源靶的结构示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种光源检测系统的光源靶的使用状态示意图；图5为本专利技术实施例提供的一种光源调试系统的结构示意图。附图标记：100：光源检测系统；101：光源靶；102：光源成像分划板；103：第一标尺；104：第一转像透镜；105：第二标尺；106：第一十字标；107：第二十字标；108：第一圆形标；109：第二圆形标；200：光源系统；201：激光器；202：远望镜系统；203：二向色镜；204：荧光轮；205：中继镜片回路；206：会聚透镜；207：第一反射镜；208：第二反射镜；209：第三反射镜；210：第二转像透镜；211：第三转像透镜；212：第四转像透镜。具体实施方式请参考图1和图2，本专利技术实施例提供一种光源检测系统100，包括：光源靶101；光源成像分划板102，所述光源成像分划板102上形成有第一标尺103，所述第一标尺103的中心为第一靶心；第一转像透镜104，设置在所述光源成像分划板102和光源靶101之间，所述第一转像透镜104的光轴垂直于所述光源靶101的表面，且所述第一转像透镜104的光轴与所述第一靶心共线；其中，所述光源成像分划板102、第一转像透镜104和光源靶101之间具有设定距离，所述光源成像分划板102能够透射聚焦于所述第一标尺103的会聚光束，所述第一转像透镜104能够接收经过所述光源成像分划板102透射的光束并能够将所述第一标尺103成像于所述光源靶101上，所述光源靶101能够接收经过所述光源成像分划板102透射且未被所述第一转像透镜104接收的光束。本实施例中，在对光源装置所发出的会聚光束进行检测时，可使第一靶心位于光源装置的会聚透镜的焦点处，并使第一转像透镜104的光轴与会聚透镜的光轴共直线，此时，会聚光束能够聚焦在第一标尺103上，第一转像透镜104能够接收经过光源成像分划板102透射的光束并能够将第一标尺103以及会聚光束的聚焦点的光斑成像于光源靶101上，通过观察光源靶101，能够观察到第一标尺103的成像和光束所形成的光斑的成像，通过读取光束所形成的光斑的成像在第一标尺103上的位置与第一标尺103的第一靶心的成像之间的距离，从而能够了解光源装置所发出的会聚光束的会聚点与设计位置(会聚透镜的焦点)的偏离距离，即会聚光束的近场特性。另外，由于光源靶101能够接收经过光源成像分划板102透射且未被第一转像透镜104接收的光束，因此，在光源靶101上还会出现由未被第一转像透镜104接收的光束照射而成的光圈，通过观察光源靶101，还能够读取光圈的圆心与光束所形成的光斑的成像的圆心之间的距离并利用公式∠A＝arctan(L1/L2)计算光源装置所发出的会聚光束与设计位置(会聚透镜的光轴)的偏离角度，即会聚光束的远场特性。其中∠A为会聚光束与设计位置(会聚透镜的光轴)的偏离角度；L1为光圈的圆心与光束所形成的光斑的成像的圆心之间的距离；L2为光源成像分划板和光源靶之间距离。由此，本专利技术提供的光源检测系统结构简单，且能够方便的获取光源装置所发出的会聚光束的近场特性和远场特性，降低了光束近场远场特性的检测难度。另外，所获得的光源装置所发出的会聚光束与设计位置的偏离距离以及光源装置所发出的会聚光束与设计位置的偏离角度，可以作为光源装置调整的依据，通过对光源装置内的光学器件的调整，可以将光源装置所发出的会聚光束调整到设计位置，即将光圈的圆心与光束所形成的光斑的成像的圆心均调整到与第一靶心重合的位置上。之后通过观察光源靶，还能够通过第一标尺103读取光束所形成的光斑的成像的尺寸，从而获得光斑的尺寸。还可读取光圈的半径，从而利用公式∠B＝arctan(R/L2)计算光源装置所发出的会聚光束的发散角度。其中∠B为光源装置所发出的会聚光束的发散角度；R为光圈的半径；L2为光源成像分划板和光源靶之间距离。另外，本专利技术实施例提供的光源检测系统还可用于检测具有不同波长范围的两光束的重合度。在对光源装置所发出的会聚光束进行检测且会聚光束是由具有不同波长范围的第一光束和第二光束组成的光束时，可使第一靶心位于光源装置的会聚透镜的焦平面处，并使第一转像透镜104的光轴与会聚透镜的光轴平本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光源检测系统，其特征在于，包括：光源靶；光源成像分划板，所述光源成像分划板上形成有第一标尺，所述第一标尺的中心为第一靶心；第一转像透镜，设置在所述光源成像分划板和光源靶之间，所述第一转像透镜的光轴垂直于所述光源靶的表面，且所述第一转像透镜的光轴与所述第一靶心共线；其中，所述光源成像分划板、第一转像透镜和光源靶之间具有设定距离，所述光源成像分划板能够透射聚焦于所述第一标尺的会聚光束，所述第一转像透镜能够接收经过所述光源成像分划板透射的光束并能够将所述第一标尺成像于所述光源靶上，所述光源靶能够接收经过所述光源成像分划板透射且未被所述第一转像透镜接收的光束。

【技术特征摘要】
1.一种光源检测系统，其特征在于，包括：光源靶；光源成像分划板，所述光源成像分划板上形成有第一标尺，所述第一标尺的中心为第一靶心；第一转像透镜，设置在所述光源成像分划板和光源靶之间，所述第一转像透镜的光轴垂直于所述光源靶的表面，且所述第一转像透镜的光轴与所述第一靶心共线；其中，所述光源成像分划板、第一转像透镜和光源靶之间具有设定距离，所述光源成像分划板能够透射聚焦于所述第一标尺的会聚光束，所述第一转像透镜能够接收经过所述光源成像分划板透射的光束并能够将所述第一标尺成像于所述光源靶上，所述光源靶能够接收经过所述光源成像分划板透射且未被所述第一转像透镜接收的光束。2.根据权利要求1所述的光源检测系统，其特征在于，所述光源靶上形成有第二标尺，所述第二标尺的中心为第二靶心，所述第一转像透镜的光轴、所述第一靶心和所述第二靶心共线，所述第二标尺与所述第一标尺在...

【专利技术属性】
技术研发人员：李巍，张勇，
申请(专利权)人：海信集团有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37