非接触式光学透镜中心厚度测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供的非接触式光学透镜中心厚度测量装置，旨在解决现有技术中非接触式测量装置测量精度低、结构不合理的技术问题。本实用新型专利技术提供的非接触式光学透镜中心厚度测量装置，在测量光学透镜的中心厚度时不与光学透镜接触，而是利用光学方法进行测量，在测量过程中测量精度高且不会损坏或划伤光学透镜，提高了光学透镜的测量效率，并且具有较高的测量精度。处理器用于对数据采集器采集到的数据进行处理，处理结果可以直观地呈现于技术人员，优化了测量装置的使用性能。参考反射镜由电机驱动，并沿导轨移动，参考反射镜的位置调节方便，并且采用电机驱动，参考反射镜的移动精度高，进而提高了测量装置的测量精度。

Non contact optical lens center thickness measuring device

The non-contact optical lens center thickness measuring device provided by the utility model aims to solve the technical problems of the non-contact measuring device in the prior art, which has low measuring accuracy and unreasonable structure. Non contact optical lens center thickness measuring device provided by the utility model, in the center of thickness measurement of optical lens when not in contact with the optical lens, but the use of optical measurement method, measurement accuracy is high and will not damage or scratch the optical lens in the measurement process, the measurement efficiency improves the measurement accuracy of optical lens, and has high. The processor is used to process data collected by data collector. The result can be directly presented to technicians and optimize the performance of measuring devices. The reference mirror is driven by the motor and moves along the guideway. The position of the reference mirror is adjusted conveniently, and the driving accuracy of the reference mirror is high with the motor driving, which improves the measuring accuracy of the measuring device.

【技术实现步骤摘要】
非接触式光学透镜中心厚度测量装置
本技术涉及透镜厚度测量装置，尤其涉及非接触式光学透镜中心厚度测量装置，属于透镜加工领域。
技术介绍
光学镜片的中心厚度是一个非常重要的技术指标，中心厚度的精度会直接影响到整个光学系统的成像质量，所以有效准确地检测镜片的中心厚度非常重要，一直以来，全球的光学加工企业基本上都采用千分表进行接触式的测量，测量精度不高，稳定性差，效率低下。随着光电产业的发展，对光学镜片的各项技术指标提出了更高的要求，传统的采用千分表的接触式的测量中心厚度已经阻碍了光电产业的发展，迫切需要一种非接触式的方式进行镜片中心厚度的测量。现有技术中的非接触式透镜检测装置，基于迈克尔逊干涉仪的原理进行非接触式测量，但是现有技术中的非接触测量装置存在结构不合理、测量精度低的技术问题。
技术实现思路
本技术提供的非接触式光学透镜中心厚度测量装置，旨在解决现有技术中非接触式测量装置测量精度低、结构不合理的技术问题。为了解决上述技术问题，本技术采用如下技术方案：非接触式光学透镜中心厚度测量装置，包括机架，在所述机架上固定有可见光源、第一隔离器、波分复用器、测量镜头、被测透镜、SLD红外光源、第二隔本文档来自技高网...

【技术保护点】
非接触式光学透镜中心厚度测量装置，包括机架(1)，其特征在于：在所述机架(1)上固定有可见光源(2)、第一隔离器(3)、波分复用器(4)、测量镜头(5)、被测透镜(6)、SLD红外光源(7)、第二隔离器(8)、第一分光耦合器(9)、第一环路滤波器(10)、数据采集器(11)、平衡探测器(12)、第二分光耦合器(13)、第二环路滤波器(14)、准直镜头(15)和参考反射镜(16)；所述可见光源(2)发出的光线经第一隔离器(3)进入波分复用器(4)；所述SLD红外光源(7)发出的光线经第二隔离器(8)进入第一分光耦合器(9)，第一分光耦合器(9)将经第二隔离器(8)射入的SLD红外光线分为两路，第...

【技术特征摘要】
1.非接触式光学透镜中心厚度测量装置，包括机架(1)，其特征在于：在所述机架(1)上固定有可见光源(2)、第一隔离器(3)、波分复用器(4)、测量镜头(5)、被测透镜(6)、SLD红外光源(7)、第二隔离器(8)、第一分光耦合器(9)、第一环路滤波器(10)、数据采集器(11)、平衡探测器(12)、第二分光耦合器(13)、第二环路滤波器(14)、准直镜头(15)和参考反射镜(16)；所述可见光源(2)发出的光线经第一隔离器(3)进入波分复用器(4)；所述SLD红外光源(7)发出的光线经第二隔离器(8)进入第一分光耦合器(9)，第一分光耦合器(9)将经第二隔离器(8)射入的SLD红外光线分为两路，第一分光耦合器(9)射出的两路光线分别进入第一环路滤波器(10)、第二环路滤波器(14)；第一环路滤波器(10)射出的SLD红外光线进入波分复用器(4)并与第一隔离器(3)射入的光线耦合，被波分复用器(4)耦合的光线经测量镜头(5)射入被测透镜(6)，被测透镜(6)反射回来的光线依次经测量镜头(5)、波分复用器(4)、第一环路滤波器(10)进入第二分光耦合器(13)；第二环路滤波器(14)射出的SLD红外光线经准直镜头(15)射入参考反射镜(16)，经参考反射镜(16)反射回来的光线依次经准直镜头(15)、第二环路滤波器(14)进入第二分光耦合器(13)；由参考反射镜(16)反射回来的光线和由被测透镜(6)反射回来的光线经第二分光耦合器(13)后进入平衡探测器(12)；所述平衡探测器(12)与数据采集器(11)通讯；该测量装置还包括对数据采集器(11)采集到的数据进行处理的处理器，所述处理器与所述数据采集器(11)通讯；所述机架(1)上...

【专利技术属性】
技术研发人员：王伟，徐敏，
申请(专利权)人：浙江光策光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33