一种半导体制冷晶粒自动分选机制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体制冷片晶粒自动分选机，包括：机架；设置在机架上的晶粒运送装置；设置在晶粒运送装置上方和两侧的晶粒检测装置，所述晶粒检测装置包括分别用于识别晶粒上面、前侧面和后侧面的摄像头；与所述晶粒检测装置相连接的图像处理单元，所述图像处理单元控制上述的摄像头依次拍摄照片，图像处理单元对照被比对象对图像信息依次进行判断，确定图像信息中的产品是否为良品，并根据判断结果决定是否输出晶粒取出信号。本实用新型专利技术通过采用具有摄像头的晶粒检测装置，通过对晶粒进行三个角度拍照，实现对晶粒的尺寸参数的自动测量并分选，分选结果准确度高，减少了人工检查的误差，提高了精准度，同时也节省了人力，提高了检测效率。

A semiconductor refrigeration grain automatic sorting machine

The utility model discloses an automatic sorting semiconductor refrigeration piece grain machine, which comprises a frame arranged on the machine frame; grain conveying device; detecting device for transporting grain set above and on both sides of device in the grain, the grain detecting device includes respectively for identification on the grain surface, front side and rear side of the camera; image processing the unit is connected with the grain detecting device, the image processing unit controls the camera in the photo shoot, the image processing unit is the object of control than the image information in order to determine the image information in the judgment, whether the product is a good product, according to the judgment result to decide whether to take the signal output of grain. The grain detecting device with a camera used by the utility model, take pictures through the three angles of the grain, the grain size parameters on the realization of automatic measuring and sorting, sorting the high accuracy and reduce the error of manual inspection, improve the accuracy, but also save manpower, improve the detection efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种半导体制冷晶粒自动分选机
本技术涉及晶粒分选
，特别是涉及一种半导体制冷晶粒自动分选机。
技术介绍
半导体致冷作为一个较为新兴的制冷方式，它是一种产生负热阻的制冷技术，优点是无活动部件，应用在一些空间受到限制，可靠高，无制冷剂的场合。主要利用半导体材料的Peltier效应，当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时，在电偶的两端即可分别吸收热量和放出热量，可以实现致冷的目的。广泛用于医疗、机算机、冷藏箱、饮水机、军工石油仪器和实验科学仪器等方面。按级数分别有TEC1～TEC6级，按尺寸大小分，目前最小可以做到4.2*4.2mm/7对PN晶堆。而致冷片制作环节中一道重要工序就是P&N型晶粒的分选过程。对晶粒的分选，包括对晶粒的外观和尺寸进行检查，此步骤对晶粒的生产和封装成本方面有重要影响。而传统的筛选过程都是依靠人工用眼睛看，时间久了，眼睛疲劳、花眼，容易造成晶粒筛选不准确，浪费人力、物力，而且人工筛选效率低，准确性低。
技术实现思路
为此，需要提供一种能提高工作效率，自动化程度高，既可以检测晶粒的长、宽、高尺寸，有可以检测晶粒的形状是否规则，并且能够实现分选的装置，来满足行业中对大批量晶粒的分选工作。为实现上述目的，本技术提供了一种半导体制冷晶粒自动分选机，以克服现有技术存在的上述缺陷。本技术采用如下方案：一种半导体制冷晶粒自动分选机，包括：机架；设置在机架上的晶粒运送装置，所述晶粒运送装置上设有产品监测装置，用于监测待分选晶粒是否到达指定位置；设置在晶粒运送装置上方和两侧的晶粒检测装置，所述晶粒检测装置包括分别用于识别晶粒上面、前侧面和后侧面的摄像头；与所述晶粒检测装置相连接的图像处理单元，所述图像处理单元接收到所述产品监测装置发出的控制信号后，控制上述的摄像头依次拍摄照片，所述摄像头将拍摄的图像信息返回至所述图像处理单元，所述图像处理单元对照被比对象对图像信息依次进行判断，确定图像信息中的产品是否为良品，并根据判断结果决定是否输出晶粒取出信号；与所述图像处理单元相连接的控制电路，与所述控制电路相连接的晶粒取出装置，所述控制电路接收所述晶粒取出信号并控制所述晶粒取出装置进行晶粒取出操作。优选的，还包括与晶粒运送装置相衔接的晶粒输入装置，所述晶粒输入装置包括晶粒振动装置和晶粒拾入装置，所述晶粒拾入装置与所述控制电路相连接，所述晶粒振动装置包括依次连接的曲线振动盘和直线振动盘，在曲线振动盘中剔除尺寸偏差大和形状不规则的晶粒，剩余待分选的晶粒在直线振动盘逐颗排列后，由所述控制电路控制所述晶粒拾入装置将晶粒拾入晶粒运送装置。优选的，所述晶粒运送装置包括设在机架上的运送轨道、在运送轨道上移动的活动治具、固定在运送轨道两端并驱动活动治具沿着运送轨道循环移动的多个气缸，所述活动治具上表面承载晶粒。进一步的，所述运送轨道至少包括两条平行的条形槽。进一步的，所述晶粒取出装置包括固定于晶粒运送装置一侧与晶粒检测装置相衔接并与高压气源和控制电路相连接的气缸，还包括设置在运送轨道上并且与所述气缸相连接的气动吸盘。进一步的，所述晶粒拾入装置包括固定于晶粒输入装置一侧并与高压气源和控制电路相连接的气缸，还包括与所述气缸相连接的气动吸盘。更进一步的，还包括设置在机架上的运行监测装置，所述运行监测装置与所述控制电路相连接，所述运行监测装置分别监测晶粒运送装置的气缸、晶粒取出装置和直线振动盘是否存在异常。优选的，所述摄像头为CCD摄像头，所述产品监测装置和所述运行监测装置均为光纤信号放大器。优选的，还包括与所述图像处理单元相连接的显示器，所述图像处理单元中还包括一用于记录判断为良品或不良品数量的记录部件。优选的，在所述晶粒取出装置的气动吸盘处设有收集良品容器。区别于现有技术，本技术的半导体致冷片晶粒自动分选机，其中的晶粒输入装置采用曲线振动盘剔除了尺寸偏差较大和形状较不规则的晶粒，实现了晶粒的初步分选，提高了效率；通过采用具有摄像头的晶粒检测装置，通过对晶粒进行三个角度拍照，实现对晶粒的尺寸参数的自动测量并分选，分选结果准确度高。综上，本技术减少了人工检查的误差，提高了精准度，同时也节省了人力，提高了检测效率。附图说明图1为本技术的俯视结构示意图；图2为本技术的正视结构剖视图。附图标记说明：1、机架，2、曲线振动盘，3、直线振动盘，4、晶粒拾入装置，5、气缸组，6、上视觉摄像机，7、后视觉摄像机，8、前视觉摄像机，9、晶粒取出装置，10、气缸组，11、产品监测装置，12、运行监测装置，13、活动治具，14、运送轨道，15、不良品容器，16、良品容器，17、图像处理单元，18、控制电路，19、显示器。具体实施方式为详细说明技术方案的
技术实现思路
、构造特征、所实现目的及效果，以下结合具体实施例并配合附图详予说明。请参阅图1和图2，本实施例一种半导体制冷晶粒自动分选机，包括：机架1；设置在机架1上的晶粒运送装置，所述晶粒运送装置上设有产品监测装置11，用于监测待分选晶粒是否已经由晶粒拾入装置4吸取到到达指定运送轨道14位置，当检测到指定位置有晶粒，就向图像处理单元17发送信号；其中，晶粒运送装置包括设在机架上的运送轨道14、在运送轨道14上移动的活动治具13、固定在运送轨道14两端并驱动活动治具13沿着运送轨道14循环移动的多个气缸，所述活动治具13上表面承载晶粒；运送轨道14为上下两条平行的条形槽，条形槽两侧的气缸组5和气缸组10受控制电路18的控制，气缸组5由2个气缸组成，其运动方向分别为向右、向上，气缸组10也由2个气缸组成，其运动方向分别为向左、向下。2个气缸组同时动作，驱动活动治具13在运送轨道14中移动，活动治具13的移动轨迹呈“口”字型的循环。运送轨道14也可以为同一水平平面上的两条平行的条形槽，也可以为环形或者呈“口”字型。本实施例中优选采用上下两条平行的条形槽，以节省机架占地空间，并且操作方便；晶粒检测装置包括在运送轨道依次分布的上视觉摄像头6、后视觉摄像头7和前视觉摄像头8，分别位于运送轨道14的上方、后方和前方，依次拍摄晶粒上面、后侧面和前侧面；为了便于测量晶粒的后侧面和前侧面的测量，还可以在上视觉摄像头6与后视觉摄像头7之间，设置一矫正装置，用于摆正晶粒，使晶粒能正对后视觉摄像头和前视觉摄像头；与所述晶粒检测装置相连接的图像处理单元17，所述图像处理单元17接收到所述产品监测装置11发出的控制信号后，控制上视觉摄像头6、后视觉摄像头7和前视觉摄像头8依次拍摄照片，摄像头将拍摄的图像信息返回至图像处理单元17，所述图像处理单元17对照被比对象对图像信息依次进行判断，确定图像信息中的产品是否为良品，并根据判断结果决定是否输出晶粒取出信号。该被对比对象可以是标准件的尺寸参数或者照片等。该晶粒取出信号可根据需要设定，即可以设定判断为良品时输出，也可以是设定判断为不良品时输出信号；本实施例中设定判断为良品时输出晶粒取出信号；与所述图像处理单元相连接的为PLC控制电路18，与控制电路18相连接的晶粒取出装置9，所述控制电路18接收所述晶粒取出信号并控制所述晶粒取出装置9进行晶粒取出操作；该晶粒取出操作对应于晶粒取出信号，以分选出良品；还包括与晶粒运送装置相衔接的晶粒输入本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体制冷晶粒自动分选机，其特征在于，包括：机架；设置在机架上的晶粒运送装置，所述晶粒运送装置上设有产品监测装置，用于监测待分选晶粒是否到达指定位置；设置在晶粒运送装置的上方和两侧的晶粒检测装置，所述晶粒检测装置包括分别用于识别晶粒上面、前侧面和后侧面的摄像头；与所述晶粒检测装置相连接的图像处理单元，所述图像处理单元接收到所述产品监测装置发出的控制信号后，控制上述的摄像头依次拍摄照片，所述摄像头将拍摄的图像信息返回至所述图像处理单元，所述图像处理单元对照被比对象对图像信息依次进行判断，确定图像信息中的产品是否为良品，并根据判断结果决定是否输出晶粒取出信号；与所述图像处理单元相连接的控制电路，与所述控制电路相连接的晶粒取出装置，所述控制电路接收所述晶粒取出信号并控制所述晶粒取出装置进行晶粒取出操作。

【技术特征摘要】
1.一种半导体制冷晶粒自动分选机，其特征在于，包括：机架；设置在机架上的晶粒运送装置，所述晶粒运送装置上设有产品监测装置，用于监测待分选晶粒是否到达指定位置；设置在晶粒运送装置的上方和两侧的晶粒检测装置，所述晶粒检测装置包括分别用于识别晶粒上面、前侧面和后侧面的摄像头；与所述晶粒检测装置相连接的图像处理单元，所述图像处理单元接收到所述产品监测装置发出的控制信号后，控制上述的摄像头依次拍摄照片，所述摄像头将拍摄的图像信息返回至所述图像处理单元，所述图像处理单元对照被比对象对图像信息依次进行判断，确定图像信息中的产品是否为良品，并根据判断结果决定是否输出晶粒取出信号；与所述图像处理单元相连接的控制电路，与所述控制电路相连接的晶粒取出装置，所述控制电路接收所述晶粒取出信号并控制所述晶粒取出装置进行晶粒取出操作。2.如权利要求1所述的一种半导体制冷晶粒自动分选机，其特征在于，还包括与晶粒运送装置相衔接的晶粒输入装置，所述晶粒输入装置包括晶粒振动装置和晶粒拾入装置，所述晶粒拾入装置与所述控制电路相连接，所述晶粒振动装置包括依次连接的曲线振动盘和直线振动盘，在曲线振动盘中剔除尺寸偏差大和形状不规则的晶粒，剩余待分选的晶粒在直线振动盘逐颗排列后，由所述控制电路控制所述晶粒拾入装置将晶粒拾入所述晶粒运送装置。3.如权利要求1所述的一种半导体制冷晶粒自动分选机，其特征在于，所述晶粒运送装置包括设在机架上的运送轨道、在运送轨道上移动的活动治具、固定在运送轨...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈天顺，周创举，卢峥业，
申请(专利权)人：鹏南科技厦门有限公司，
类型：新型
国别省市：福建,35