半导体装置、显示模块及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术的一个方式提供一种新颖的半导体装置、显示模块或电子设备。本发明专利技术是一种半导体装置，包括控制器、图像处理部、驱动电路及检查电路，控制器具有控制图像处理部及检查电路的工作的功能，图像处理部具有利用图像数据生成影像信号的功能，驱动电路具有将影像信号输出到显示部的功能，检查电路具有对设置在显示部中的元件的特性的不均匀程度进行检查的功能，检查结果被输出到外部。

Semiconductor devices, display modules and electronic devices

One of the methods of the present invention provides a novel semiconductor device, a display module, or an electronic device. The present invention relates to a semiconductor device includes a controller, an image processing part, drive circuit and check the circuit, the controller has a control image processing section and check circuit work function, image processing with image data generated by the image signal, the driving circuit has the image signal to display the function, check the circuit with to set the check in the uneven degree of display characteristics of elements in the Department function, the inspection result is output to the outside.

【技术实现步骤摘要】
半导体装置、显示模块及电子设备
本专利技术的一个方式涉及一种半导体装置、显示模块及电子设备。注意，本专利技术的一个方式不局限于上述
作为本说明书等所公开的本专利技术的一个方式的
的例子，可以举出半导体装置、显示装置、发光装置、蓄电装置、存储装置、显示模块、显示系统、检查系统、电子设备、照明装置、输入装置、输入输出装置、其驱动方法或者其制造方法。注意，在本说明书等中，半导体装置是指能够通过利用半导体特性而工作的所有装置。晶体管、半导体电路、运算装置、驱动电路及存储装置等都是半导体装置的一个方式。另外，摄像装置、电光装置、发电装置(包括薄膜太阳能电池、有机薄膜太阳能电池等)以及电子设备有时包括半导体装置。
技术介绍
以液晶显示装置及发光显示装置为代表的平板显示器广泛地用于影像的显示。作为用于这些显示装置的晶体管主要使用硅半导体等，然而，近年来将呈现半导体特性的金属氧化物用于晶体管来代替硅半导体的技术受到瞩目。例如，专利文献1、2已公开了将作为半导体层使用氧化锌或In-Ga-Zn氧化物的晶体管用于显示装置的像素的技术。在使用发光元件的显示装置中，设置有根据影像信号控制向发光元件供应的电流的驱动晶体管。如果各像素中的驱动晶体管的特性不均匀，各像素的发光元件的亮度则不均匀。作为防止这种发光元件的亮度不均匀的方法，专利文献3公开了在像素内校正驱动晶体管的阈值电压的不均匀的方法(以下还称为内部校正)。[专利文献1]日本专利申请公开第2007-96055号公报[专利文献2]日本专利申请公开第2007-123861号公报[专利文献3]日本专利申请公开第2008-233933号公报
技术实现思路
本专利技术的一个方式的目的之一是提供一种新颖的半导体装置、显示模块或电子设备。另外，本专利技术的一个方式的目的之一是提供一种可以容易对元件特性的不均匀进行检查的半导体装置、显示模块或电子设备。另外，本专利技术的一个方式的目的之一是提供一种通用性高的半导体装置、显示模块或电子设备。另外，本专利技术的一个方式的目的之一是提供一种能够进行自由度高的外部校正的半导体装置、显示模块或电子设备。注意，本专利技术的一个方式并不需要实现所有上述目的，只要可以实现至少一个目的即可。另外，上述目的的记载不妨碍其他目的的存在。可以从说明书、权利要求书、附图等的记载显而易见地看出并抽出上述以外的目的。本专利技术的一个方式是一种半导体装置，该半导体装置包括控制器、图像处理部、驱动电路及检查电路，控制器具有控制图像处理部的工作及检查电路的工作的功能，图像处理部具有利用图像数据生成影像信号的功能，驱动电路具有将影像信号输出到显示部的功能，检查电路具有对设置在显示部中的元件的特性不均匀的程度进行检查的功能，检查结果被输出到外部。另外，在根据本专利技术的一个方式的半导体装置中，根据包含有关设置在显示部中的元件的特性的信息的信号可以进行检查，信号可以从显示部被输入到检查电路。另外，在根据本专利技术的一个方式的半导体装置中，检查电路可以包括转换电路、评价电路及存储装置，转换电路可以具有将信号转换为数字信号的功能，评价电路可以具有计算出对应于数字信号的第一元件特性与基准的第二元件特性之间的差的功能，存储装置可以具有储存第一元件特性、第二元件特性及由评价电路计算出的数据的功能。另外，在根据本专利技术的一个方式的半导体装置中，控制器可以具有将信号输出到发送部的功能，控制器可以具有根据信号将被发送部校正的图像数据输出到图像处理部的功能。本专利技术的一个方式是一种显示模块，该显示模块包括使用上述半导体装置的控制部及显示部，显示部包括发光元件、电连接到发光元件的晶体管，检查电路具有对晶体管的阈值电压、晶体管的场效应迁移率或发光元件的阈值电压的不均匀的程度进行检查的功能。另外，在根据本专利技术的一个方式的显示模块中，显示部可以包括含有多个第一像素的第一像素群、以及含有多个第二像素的第二像素群，第一像素可以包括反射型液晶元件，第二像素可以包括发光元件。本专利技术的一个方式是一种电子设备，该电子设备包括上述显示模块及处理器，处理器具有根据设置在显示部中的元件的特性的不均匀对图像数据进行校正的功能。根据本专利技术的一个方式可以提供一种新颖的半导体装置、显示模块或电子设备。另外，根据本专利技术的一个方式可以提供一种能够容易对元件特性的不均匀进行检查的半导体装置、显示模块或电子设备。另外，根据本专利技术的一个方式可以提供一种通用性高的半导体装置、显示模块或电子设备。另外，根据本专利技术的一个方式可以提供一种能够进行自由度高的外部校正的半导体装置、显示模块或电子设备。注意，上述效果的记载不妨碍其他效果的存在。此外，本专利技术的一个方式并不需要具有所有上述效果。可以从说明书、权利要求书、附图等的记载显而易见地看出并抽出上述以外的效果。附图说明图1A和图1B是示出系统的结构例子的图；图2A至图2C是示出检查电路的结构例子的图；图3A至图3C是示出读出电路的结构例子的图；图4是示出系统的工作例子的图；图5是示出系统的工作例子的图；图6是示出显示部的结构例子的图；图7A和图7B是示出像素的结构例子及工作例子的图；图8是示出显示模块的结构例子的图；图9A和图9B是示出电子设备的结构例子的图；图10A和图10B是示出像素的结构例子的图；图11A和图11B是示出像素的结构例子的图；图12是示出显示部的结构例子的图；图13是示出显示部的结构例子的图；图14是示出像素单元的结构例子的图；图15A至图15D是示出像素单元的结构例子的图；图16是示出像素单元的结构例子的图；图17A和图17B是示出像素单元的结构例子的图；图18是示出显示装置的结构例子的图；图19是示出显示装置的结构例子的图；图20是示出显示装置的结构例子的图；图21是示出显示装置的结构例子的图；图22是示出控制部的结构例子的图；图23A至图23D是示出晶体管的结构例子的图；图24A至图24C是示出晶体管的结构例子的图；图25A至图25D是示出电子设备的结构例子的图。具体实施方式下面，参照附图对本专利技术的实施方式进行详细说明。注意，本专利技术不局限于以下实施方式中的说明，而所属
的普通技术人员可以很容易地理解一个事实就是其方式及详细内容在不脱离本专利技术的宗旨及其范围的情况下可以被变换为各种各样的形式。因此，本专利技术不应该被解释为仅限定在下面所示的实施方式所记载的内容中。另外，本专利技术的一个方式在其范畴内包括半导体装置、存储装置、显示装置、摄像装置、RF(RadioFrequency：射频)标签等所有装置。此外，显示装置在其范畴内包括液晶显示装置、其每个像素具备以有机发光元件为代表的发光元件的发光装置、电子纸、DMD(DigitalMicromirrorDevice：数字微镜装置)、PDP(PlasmaDisplayPanel；等离子体显示面板)、FED(FieldEmissionDisplay；场致发射显示器)等。在本说明书等中，金属氧化物(metaloxide)是指广义上的金属的氧化物。金属氧化物被分类为氧化物绝缘体、氧化物导电体(包括透明氧化物导电体)和氧化物半导体(OxideSemiconductor，也可以简称为OS)等。例如，在将金属氧化物用于晶体管的沟道形成区域的情况下，有时将该金属氧化物称为氧化本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体装置，包括：发送部；控制器；图像处理部；驱动电路；以及检查电路，其中，所述控制器控制所述图像处理部的工作及所述检查电路的工作，所述图像处理部利用图像数据生成影像信号，所述驱动电路将所述影像信号输出到显示部，所述检查电路对设置在所述显示部中的元件的特性不均匀的程度进行检查，并且，检查结果被输出到所述发送部。

【技术特征摘要】
2016.08.17 JP 2016-1599481.一种半导体装置，包括：发送部；控制器；图像处理部；驱动电路；以及检查电路，其中，所述控制器控制所述图像处理部的工作及所述检查电路的工作，所述图像处理部利用图像数据生成影像信号，所述驱动电路将所述影像信号输出到显示部，所述检查电路对设置在所述显示部中的元件的特性不均匀的程度进行检查，并且，检查结果被输出到所述发送部。2.根据权利要求1所述的半导体装置，其中根据包含有关设置在所述显示部中的所述元件的所述特性的信息的信号进行所述检查，并且所述信号从所述显示部被输入到所述检查电路。3.根据权利要求2所述的半导体装置，其中所述检查电路包括转换电路、评价电路及存储装置，所述转换电路将所述信号转换为数字信号，所述评价电路计算出对应于所述数字信号的第一元件特性与基准的第二元件特性之间的差，并且所述存储装置储存所述第一元件特性、所述第二元件特性及由所述评价电路计算出的数据。4.根据权利要求2所述的半导体装置，其中所述控制器将所述信号输出到所述发送部，并且所述控制器根据所述信号将被所述发送部校正的图像数据输出到所述图像处理部。5.一种显示模块，包括：包括权利要求1所述的半导体装置的控制部；以及所述显示部，其中，所述显示部包括发光元件、电连接到所述发光元件的晶体管，并且，所述检查电路对所述晶体管的阈值电压、所述晶体管的场效应迁移率或所述发光元件的阈值电压的不均匀的程度进行检查。6.根据权利要求5所述的显示模块，其中所述显示部包括含有多个第一像素的第一像素群、以及含有多个第二像素的第二像素群，所述第一像素包括反射型液晶元件，并且所述第二像素包括所述发光元件。7.一种电子设备，包括：权利要求5所述的显示模块；以及处理器，其中，所述处理器根据设置在所述显...

【专利技术属性】
技术研发人员：高桥圭，
申请(专利权)人：株式会社半导体能源研究所，
类型：发明
国别省市：日本,JP