一种用于四引线法电阻测量的便捷接头制造技术

技术编号:17362746 阅读:310 留言:0更新日期:2018-02-28 12:08
本发明专利技术公开了一种用于四引线法电阻测量的便捷接头,电阻测量过程中是将待测试件固定于测试平台,然后通过测量装置进行测量;本发明专利技术包括支架和触点,支架与测试平台连接,触点与试件连接,支架将触点紧压在试件上。其结构简单、测量精确,可以根据需要灵活设计,适应不同的测试对象,可以用于测量异形试件、小型试件的电阻;并且与试件连接时不要求焊接,却依然有很高的电气连接稳定性。

A convenient joint for the resistance measurement of the four lead method

【技术实现步骤摘要】
一种用于四引线法电阻测量的便捷接头
本专利技术涉及一种测电阻的设备,具体为一种用于四引线法电阻测量的便捷接头,属于电阻测试

技术介绍
四引线法是一种测量电子器件,尤其是小阻值电子器件的高精度测量方法。四引线法测量试件阻值时,需要在试件上固定两根电流引线和至少两根电压引线,这些引线,尤其是电压引线,需要与试件良好接触以保证测量的准确性,因此通常会采用焊接。电子器件的形式多种多样,某些器件没有供焊接使用预留端子,也不方便直接焊接,于是用四引线法测量时就需要较长时间进行前期准备工作,影响工作效率,甚至因为焊接质量问题影响测量结果的可靠性。现有技术中关于四引线法电阻测量的研究包括,如上海交通大学的“电输运特性测量装置及测量方法”(专利公开号:CN103941117A),公开了一种电输运特性测量装置,可以通过多个步骤测量晶体材料各向异性电输运特性,解决了传统四探针输运测试装置不能方便地测量各向异性电输运特性的问题,大大简化了操作过程,提高了实验效率。另外,珠海立飞技术服务有限公司的“一种四引线法电池夹具”(专利公开号:CN205506870U)公开了一种四引线法电池夹具,能够实现四引线法连接免除焊接电池端引线,提高了效率。还有,法雷奥汽车内部控制(上海)有限公司的“一种转向柱开关焊接通断检测装置”(专利公开号:CN206378567U)公开了一种应用于涉及汽车零部件装配
的技术专利,具体的讲是一种转向柱开关焊接通断检测装置,采用测试点探针和线束端连接器对插的四引线法并串联万用表量测阻抗的方法,检查焊接点通断,可适用于Volvo、Geely多种PCBA,方便,高效,节约成本。以上的专利技术和技术专利应用于各自的领域可以提高测量效率实现优异的技术效果,但它们只能用于特定的测量对象。并且这些设备、接头结构比较复杂,导致体积相对比庞大,不易测量尺寸比较小的测试对象。为解决上述技术问题,本专利技术需要提供一种结构简单、测量精确,同时能应用于精密器件电阻测量的便捷接头。
技术实现思路
本专利技术公开了一种用于四引线法电阻测量的便捷接头,其可以用于测量异形试件、小型试件的电阻,省略焊接过程,提高测量效率,并且结构简单、测量精确度高。一种用于四引线法电阻测量的便捷接头,电阻测量过程中是将待测试件固定于测试平台,然后通过测量装置进行测量;其特征在于,包括支架和触点,所述支架与所述测试平台连接,所述触点与所述试件连接,所述支架将所述触点紧压在所述试件上。进一步的,所述支架包括平台连接部和触点压紧部,所述平台连接部与所述测试平台可拆卸连接,所述触点压紧部与所述触点接触。优选的,所述平台连接部与所述测试平台通过粘接、铆钉或螺栓连接。优选的,所述触点压紧部包括调节螺栓,所述调节螺栓底部与所述触点接触。进一步的,所述触点包括绝缘块、弓形导片和导线;所述绝缘块与所述触点压紧部接触;所述弓形导片凹面与所述绝缘块连接,所述弓形导片凸面与所述试件连接,所述弓形导片与导线一端连接;所述导线的另一端与所述测量装置连接。优选的,所述弓形导片与所述绝缘块通过粘接、铆钉或螺栓连接。进一步的,所述触点与所述试件之间通过银胶连接。进一步的,所述便捷接头包括一个支架和四个触点;支架为一体结构,包括平台连接部和触点压紧部;平台连接部由两个位置对应的连接板组成,连接板分别与测试平台通过螺栓连接;触点压紧部包括一个压紧板和两个支撑板,两个支撑板一端分别与两个连接板的一端垂直连接,压紧板两端分别与两个支撑板远离连接板一端垂直连接,压紧板上设有螺孔,螺孔内安装有调节螺栓,调节螺栓底部与触点接触;触点包括绝缘块、弓形导片和导线,绝缘块为长方形结构,绝缘块的顶面与调节螺栓的底部接触;弓形导片凹面与绝缘块的底面连接,弓形导片凸面与试件连接,弓形导片与导线一端通过焊接连接,导线另一端与所述测量装置连接。进一步的,所述试件具有引线,所述触点个数和所述试件的引线个数之和大于或等于四。本专利技术公开的一种用于四引线法电阻测量的便捷接头,其结构简单、测量精确,可以根据需要灵活设计,适应不同的测试对象,可以用于测量异形试件、小型试件的电阻;并且与试件连接时不要求焊接,但是依然有很高的电气连接稳定性。本专利技术公开的便捷接头,设计触点通过弓形导片与待测试件接触,使得接触更可靠,并且提供的接触面积更大,能得到更低的接触电阻,因此能够测量更小的电阻值;而且弓形导片与试件的接触面积可调节,因此能够满足不同的测量需求。同时,即使外部条件变化,导致支架与触点间压力大幅增加时,该结构也能在一定程度上缓解作用在试件上的力,避免试件被破坏。本专利技术设计支架的平台连接部与测试平台可拆卸连接,在测量过程中可以保证支架与测试平台稳定连接,从而保证测量过程中的电气连接的稳定性。而可拆卸连接可以方便测量结束后拆卸支架,并且可拆卸连接的方式能够满足不同的测试需求。每个触点与支架之间的间距都可以单独用螺栓等结构进行微调,从而调整各个触点与试件之间的压力,进而调整弓形导片与试件之间的接触面积,以满足测试过程中的需求。本专利技术设置四个触点可以用于四引线法测量电阻。相比于现有技术中的测量仪器,本专利技术提供的便捷接头结构简单,测量精确度高,并且能够测量小试件、精密元器件的电阻。并且,在触点和试件之间涂抹银胶,使得接触电阻可逼近焊接电阻;同时使用银胶,测试后可以用有机溶剂洗去,因此对试件的要求少,污染小。四引线法是一种测量电子器件,尤其是小阻值电子器件的高精度测量方法。利用四引线法测量电阻时,需要两个电流引线和至少两个电压引线,而当试件本身具有引线时,只要保证便捷接头中触点的个数和试件本身的引线个数大于四,即可利用四引线法测量试件电阻。并且,当需要测量试件上不同点之间的电阻时,可以增加引线数量作为额外的电压引线,所以当测量试件不同点之间的电阻时可以增加便捷接头的数量。附图说明图1为一种用于四引线法电阻测量的便捷接头的结构示意图;图2为一种用于四引线法电阻测量的便捷接头的剖面图;图3为一种用于四引线法电阻测量的便捷接头的结构示意图;图4为第一次测量超导薄膜电阻随温度变化的RT曲线;图5为第二次测量超导薄膜电阻随温度变化的RT曲线;图6为使用传统四引线法测量超导薄膜电阻随温度变化的RT曲线。附图说明:1.支架;2.触点;3.连接板;4.压紧板;5.支撑板;6.调节螺栓;7.绝缘块;8.弓形导片;9.导线;10.试件;11.测试平台。具体实施方式下面将结合实施例对本专利技术作进一步说明。实施例1如图1所示,一种用于四引线法电阻测量的便捷接头,包括一个支架1和四个触点2;电阻测量是将待测试件固定在测试平台中进行测量。支架1为一体结构包括平台连接部和触点压紧部;平台连接部由两个位置对应的连接板3组成,连接板3分别与测试平台通过螺栓连接;触点压紧部包括一个压紧板4和两个支撑板5,两个支撑板5的一端分别与两个连接板3的一端垂直连接,压紧板4两端分别与两个支撑板5远离连接板3一端垂直连接,压紧板4上设有四个螺孔,螺孔内分别安装有调节螺栓6,调节螺栓6底部分别与触点2接触从而达到将触点2压紧在测试平台上的技术效果。触点2包括绝缘块7、弓形导片8和导线9,绝缘块7为长方体结构,绝缘块7的顶面与调节螺栓6的底面接触;弓形导片8凹面与绝缘块7底面连接,弓本文档来自技高网
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一种用于四引线法电阻测量的便捷接头

【技术保护点】
一种用于四引线法电阻测量的便捷接头,电阻测量过程中是将待测试件固定于测试平台,然后通过测量装置进行测量;其特征在于,包括支架和触点,所述支架与所述测试平台连接,所述触点与所述试件连接,所述支架将所述触点紧压在所述试件上。

【技术特征摘要】
1.一种用于四引线法电阻测量的便捷接头,电阻测量过程中是将待测试件固定于测试平台,然后通过测量装置进行测量;其特征在于,包括支架和触点,所述支架与所述测试平台连接,所述触点与所述试件连接,所述支架将所述触点紧压在所述试件上。2.根据权利要求1所述的一种用于四引线法电阻测量的便捷接头,其特征在于,所述支架包括平台连接部和触点压紧部,所述平台连接部与所述测试平台可拆卸连接,所述触点压紧部与所述触点接触。3.根据权利要求2所述的一种用于四引线法电阻测量的便捷接头,其特征在于,所述平台连接部与所述测试平台通过粘接、铆钉或螺栓连接。4.根据权利要求2所述的一种用于四引线法电阻测量的便捷接头,其特征在于,所述触点压紧部包括调节螺栓,所述调节螺栓底部与所述触点接触。5.根据权利要求2所述的一种用于四引线法电阻测量的便捷接头,其特征在于,所述触点包括绝缘块、弓形导片和导线;所述绝缘块与所述触点压紧部接触;所述弓形导片凹面与所述绝缘块连接,所述弓形导片凸面与所述试件连接,所述弓形导片与导线一端连接;所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:王三胜
申请(专利权)人:北京鼎臣世纪超导科技有限公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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