确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置和方法制造方法及图纸

技术编号:17343886 阅读:71 留言:0更新日期:2018-02-25 08:57
一种确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置和方法,所述装置包括:光源、相机、用于相机定位的定位装置、数据处理装置和判断装置,其中所述光源和所述相机位于所述透明材料同一侧,所述光源发射的自然光以布儒斯特角入射到所述透明材料的表面,所述定位装置将相机定位于入射光经所述透明材料的上表面或下表面反射后的反射光路上,所述相机用于分别观测上表面和下表面的成像,数据处理装置用于记录入射位置信息和所述相机观测到的成像信息,并对成像信息进行处理获得成像的强度,判断装置根据相机观测到的瑕疵/污渍的光强来判断瑕疵/污渍的位置。本发明专利技术的装置构造简单,能够准确、快速地实现透明材料瑕疵/污渍位置的判断。

【技术实现步骤摘要】
确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置和方法
本专利技术属于光学检测领域,具体涉及一种确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置和方法。
技术介绍
透明材料在人们生活、科研等方面得到了广泛应用,如,手机屏幕保护膜、相机镜头、大尺寸天文望远镜等,可以说透明材料的应用涉及各行业的方方面面。随着人们对手机、电视等电子设备体验感的要求不断提高,透明材料表面的洁净度需满足一定的要求。除此之外,科学研究的很多应用场景要求减小透明材料表面的灰尘附着,如,高能激光系统中,镜片上的灰尘会造成元器件的损伤。对空气洁净度的要求,在一定程度上减小了透明材料表面的污染,但对透明材料表面瑕疵/污染的区分及清洁在生活、生产及科研工作等方面发挥着重要作用。然而,在瑕疵及污渍尺寸很小的情况下,瑕疵/污渍位置(上表面或下表面)较难区分,进一步的影响了材料的筛选及清洁。
技术实现思路
为了解决现有技术中透明材料表面瑕疵/污渍位置(上表面/下表面)难区分的问题,本专利技术提出了一种确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置和方法。本专利技术提出的确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置包括:光源、相机、用于相机定位的定位装置、数本文档来自技高网...
确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置和方法

【技术保护点】
一种确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置,包括:光源、相机、用于相机定位的定位装置、数据处理装置和判断装置;其中所述光源和所述相机位于所述透明材料同一侧,所述光源发射的自然光以布儒斯特角入射到所述透明材料的表面;所述定位装置将相机定位于入射光经所述透明材料的上表面或下表面反射后的反射光路上;所述相机用于分别观测上表面和下表面的成像,所述相机的镜头前设置有s偏振片;所述数据处理装置用于记录入射位置信息和所述相机观测到的成像信息,并对成像信息进行处理获得成像的强度;所述判断装置根据相机观测到的瑕疵/污渍的光强来判断瑕疵/污渍的位置。

【技术特征摘要】
1.一种确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置,包括:光源、相机、用于相机定位的定位装置、数据处理装置和判断装置;其中所述光源和所述相机位于所述透明材料同一侧,所述光源发射的自然光以布儒斯特角入射到所述透明材料的表面;所述定位装置将相机定位于入射光经所述透明材料的上表面或下表面反射后的反射光路上;所述相机用于分别观测上表面和下表面的成像,所述相机的镜头前设置有s偏振片;所述数据处理装置用于记录入射位置信息和所述相机观测到的成像信息,并对成像信息进行处理获得成像的强度;所述判断装置根据相机观测到的瑕疵/污渍的光强来判断瑕疵/污渍的位置。2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,成像的强度通过在同一曝光时间下成像的饱和度或颜色来获得。3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,当相机只能在其中一个表面中的反射光路上观测到瑕疵/污渍的成像信息时,判断装置根据观测到瑕疵/污渍时相机的位置判断瑕疵/污渍的位置,当相机在两个表面的反射光路上都能观测到瑕疵/污渍的成像信息时,判断装置根据瑕疵/污渍成像的强度来判断瑕疵/污渍的位置。4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置包括两个相机,分别定位于入射光经透明材料的上表面和下表面反射后的反射光路上。5.一种确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置,包括光源、第一相机、第二相机、分光器件、定位装置、数据处理装置和判断装置;其中所述光源和所述第一相机、第二相机位于所述透明材料同一侧,所述光源发射的自然光以布...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭广妍林蔚然樊仲维宋菲君陈艳中
申请(专利权)人:中国科学院光电研究院
类型:发明
国别省市:北京,11

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