一种测量产品EMC问题具体位置的方法技术

本发明专利技术提供了一种测量产品EMC问题超标具体位置的方法，该方法利用微型化天线探头接收EMC辐射源信号，经过前置放大器放大后，输入频谱仪，通过频谱仪显示天线探头测得辐射源信号的强度大小，并通过不断移动天线探头的位置，观察频谱仪显示的信号强度大小，信号强度最大的位置即为EMC辐射源的位置。本发明专利技术通过定位定点的确认EMC超标位置，极大地放便找到产品EMC问题的源头。

A method for measuring the specific location of the product EMC problem

The present invention provides a method for measuring the specific location of EMC products exceed the standard, the method of using miniature antenna probe receiving EMC radiation source signal, amplified by the preamplifier input, spectrum analyzer, spectrum analyzer display antenna probe through the measured radiation source signal strength, and constantly moving through the antenna probe position. To observe the signal intensity spectrum display, the position with the largest signal strength for EMC radiation source location. The invention can locate the source of the product EMC problem with the confirmation of the location of the fixed point of the EMC.

【技术实现步骤摘要】
一种测量产品EMC问题具体位置的方法
本专利技术属于电磁兼容测试
，具体涉及的是一种测量产品EMC问题具体位置的方法。
技术介绍
电磁兼容(EMC)是对电子产品在电磁场方面干扰大小(EMI)和抗干扰能力(EMS)的综合评定，是产品质量最重要的指标之一，电磁兼容的测量由测试场地和测试仪器组成。电磁干扰测试是测量被测设备在正常工作状态下产生并向外发射的电磁波信号的大小来反应对周围电子设备干扰的强弱。电磁敏感度测试是测量被测设备对电磁骚扰的抗干扰的能力强弱。目前对产品的电磁兼容测试主要是在电波暗室进行的，测量距离为3m、5m和10m(一般都按3m测试)，测试的是整个产品的辐射骚扰场强；但是这种测试方法无法确认产品的EMC问题主要来源于哪里，无法定位确认辐射源，因而也就无法进行有效的整改。
技术实现思路
为此，本专利技术的目的在于提供一种测量产品EMC问题具体位置的方法，以解决现有检测方法无法准确定位辐射源的问题。本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的。一种测量产品EMC问题具体位置的方法，包括步骤：S1、使用现有暗室EMC测试方法，测量产品的辐射骚扰场强图，并记录超过EMC标准的辐射骚本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量产品EMC问题具体位置的方法，其特征在于，包括步骤：S1、使用现有暗室EMC测试方法，测量产品的辐射骚扰场强图，并记录超过EMC标准的辐射骚扰场强图的频率或频段；S2、使用灵敏度较高的微型天线，测试产品各个部位的EMC，并记录哪些部位的EMC符合步骤S1测得的超标频率或频段，以此来确认引起EMC超标的大概部位位置；S3、使用灵敏度低的微型天线，测试步骤S2测得超标部位的EMC，通过对比测得的辐射骚扰场强值得大小，确定EMC超标频段的主要辐射源。

【技术特征摘要】
1.一种测量产品EMC问题具体位置的方法，其特征在于，包括步骤：S1、使用现有暗室EMC测试方法，测量产品的辐射骚扰场强图，并记录超过EMC标准的辐射骚扰场强图的频率或频段；S2、使用灵敏度较高的微型天线，测试产品各个部位的EMC，并记录哪些部位的EMC符合步骤S1测得的超标频率或频段，以此来确认引起EMC超标的大概部位位置；S3、使用灵敏度低的微型天线，测试步骤S2测得超标部位的EMC，通过对比测得的辐射骚扰场强值得大小，确定EMC超标频段的主要辐射源。2.如权利要求1所述的测量产品EMC问题具体位置的方法，其特征在于，步骤S1包括：将测量产品放置于非金属转台上，且使测试天线的测试基准点与测量产品的测试距离为3m，然后分别在测试天线水平极化和垂直极化状态下，控制转台在0～360°范围内旋转，而测试天线在水平极化1m～4m以及垂直极化2m～4m范围内移动，以获得最大辐射骚扰值。3.如权利要求2所述的测量产品EMC...

【专利技术属性】
技术研发人员：李斌，李建生，
申请(专利权)人：深圳市科卫泰实业发展有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44