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本发明提供了一种测量产品EMC问题超标具体位置的方法，该方法利用微型化天线探头接收EMC辐射源信号，经过前置放大器放大后，输入频谱仪，通过频谱仪显示天线探头测得辐射源信号的强度大小，并通过不断移动天线探头的位置，观察频谱仪显示的信号强度大小...
该专利属于深圳市科卫泰实业发展有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市科卫泰实业发展有限公司授权不得商用。

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