一种凹槽式真空探针检测装置制造方法及图纸

技术编号:17276029 阅读:32 留言:0更新日期:2018-02-15 13:21
一种凹槽式真空探针检测装置,包括:显微镜、真空反应腔和设备支架,支架设置有的聚焦调节器,显微镜设置有物镜切换盘,真空反应腔为凹槽式,凹槽内的载物台上设置有垂直放置的探针。由于本申请的装置的真空反应腔为凹槽式,扩大了物镜与测量物品表面之间的空隙,并为探针留出更多的工作空间,又由于在真空反应腔内的载物平台上垂直放置探针,使得移动探针时,视线更好,可清晰、准确地观察待测物品的各个细节。

A groove vacuum probe testing device

A groove type vacuum probe detection device, including: microscope, vacuum reaction chamber and equipment bracket, bracket is arranged some focusing regulator, is provided with a switch disc microscope lens, vacuum reaction chamber is recessed, the groove of the carrier is provided with a vertical probe. Because the vacuum reaction chamber of the application for groove type, expanding the gap between the surface of a lens and measuring items, and to probe set aside more space to work, because the loading platform in the vacuum reaction chamber on the vertical probe, the mobile probe, a good line of sight, can clearly and accurately observe the the details of the object to be measured.

【技术实现步骤摘要】
一种凹槽式真空探针检测装置
本专利技术涉及真空高低温检测装置及仪器领域,具体涉及一种凹槽式真空探针检测装置。
技术介绍
真空探针检测装置是指在负压状态下的反应腔体内,使用高精度真空探针对物品表面进行长度、高度以及外观3D表面测量的一种检测装置,主要应用于高、低温、真空环境下的特殊测,透过反应腔体上方的观察窗可以观察所测量的物品,以便对所测量的物品进行精确测量,还可观察探针移动轨迹。对于不同的待测量物品,为了观察的清晰度,需要选择不同倍率的物镜进行观察,由于不同倍率的物镜,其本身光学焦距不同,需要上下调节动显微镜的位置,在待测量物品的表面聚焦。现有的反应腔体表面一般为平面式,为了给显微镜的上下移动预留较大的空间,现有的反映腔体内空间较小,探针工作的空间也较小,而且现有的探针一般为水平设置,在移动观察待测量物品,由于视线和角度问题,待测量物品的一些细节不能被看清楚。
技术实现思路
本申请提供一种凹槽式真空探针检测装置,扩大了物镜与测量物品表面之间的空隙,并为探针留出更多的工作空间,可更精细准确实时监控探针的移动轨迹。本申请一种凹槽式真空探针检测装置,该装置包括显微镜、真空反应腔和设备支架,该本文档来自技高网...
一种凹槽式真空探针检测装置

【技术保护点】
一种凹槽式真空探针检测装置,包括显微镜、真空反应腔和设备支架,其特征在于还包括:安装于设备支架上的聚焦调节器,用于调整显微镜的高度和水平位置;安装于显微镜上的物镜切换盘,用于切换不同倍率的物镜;所述真空反应腔为凹槽式,凹槽内设置有观察窗口,真空反应腔内、观察窗口下方设置有载物台,载物台上设置有垂直放置的探针,待测物品放置于探针顶部;所述凹槽为所述物镜工作区域,调节所述显微镜的高度,可使得所述物镜高度下降,伸入所述凹槽内观察待测物品。

【技术特征摘要】
1.一种凹槽式真空探针检测装置,包括显微镜、真空反应腔和设备支架,其特征在于还包括:安装于设备支架上的聚焦调节器,用于调整显微镜的高度和水平位置;安装于显微镜上的物镜切换盘,用于切换不同倍率的物镜;所述真空反应腔为凹槽式,凹槽内设置有观察窗口,真空反应腔内、观察窗口下方设置...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘世文熊翊世
申请(专利权)人:深圳市森美协尔科技有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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