The invention discloses an optical element surface defect detection device, which comprises a laser, a beam splitter, a beam expanding system, a reference mirror, a switching unit, a first detector, a digital micromirror and a detection unit. The laser emits fine beam, the beam expander for the thin beam into a wide beam, the wide beam beam forming interference again after the beam splitter is reflected to the switching unit; the first beam interference detector into the first detector and display through the external screen; the digital micro mirror is divided into different regions, the digital micro mirror by controlling the different regions of the micro mirror deflection corresponding interference beam entering the detection unit; the detection unit detects the sub scanning beam interference and store data. The optical element surface defect detection device has the advantages of fast scanning speed and high measurement precision.
【技术实现步骤摘要】
一种光学元件表面缺陷检测装置
本专利技术涉及光学检测
,尤其涉及一种光学元件表面缺陷检测装置。
技术介绍
光学元件表面缺陷是表面质量的重要指标,在紫外/极紫外光学系统、大功率激光等光学系统中,对该指标均有严格要求。目前,对该指标的检测手段极为有限,传统中多采用暗室法检测,但存在判读不准确、受人为影响大、无法长时间检测等缺点。市场上成熟的检测仪器也较为少见,多数产品与文献中主要基于单镜头加运动机构的方案。即选取合适的显微镜头,并配套运动机构带动镜头沿光学元件表面进行扫描,扫描得到的图像经后续分析处理以获得表面缺陷数据。但是这种方案实现难度较大,因为光学表面缺陷的小尺度决定了镜头的放大倍数,而满足放大倍数的镜头景深都比较小(几微米到几十微米),镜头的小景深又决定了运动机构的高精度,高精度运动机构价格昂贵,且会带来一系列复杂问题。以上原因导致该方案存在技术难度大、成本高,难以实现的缺点,且难以检测球面、非球面等大矢高元件。
技术实现思路
本专利技术旨在克服现有技术存在的缺陷,本专利技术采用以下技术方案:本专利技术提供了一种光学元件表面缺陷检测装置。所述光学元件表面缺陷检测装置包括:激光器、分束器、扩束系统、参考镜、切换单元、第一探测器、数字微镜以及检测单元;所述激光器发出细光束并将所述细光束经所述分束器入射至所述扩束系统;所述扩束系统用于将所述细光束变为宽光束,所述宽光束一部分传播至参考镜后原路返回形成参考波,另一部分经过透射传播至待测光学元件表面后反射形成检测波,所述参考波与所述检测波形成干涉光束再次经过分束器后反射至所述切换单元;所述切换单元控制所述干涉光 ...
【技术保护点】
一种光学元件表面缺陷检测装置,其特征在于,包括:激光器、分束器、扩束系统、参考镜、切换单元、第一探测器、数字微镜以及检测单元;所述激光器发出细光束并将所述细光束经所述分束器入射至所述扩束系统;所述扩束系统用于将所述细光束变为宽光束,所述宽光束一部分传播至参考镜后原路返回形成参考波,另一部分经过透射传播至待测光学元件表面后反射形成检测波,所述参考波与所述检测波形成干涉光束再次经过分束器后反射至所述切换单元;所述切换单元控制所述干涉光束进入第一探测器或进入所述数字微镜;所述第一探测器探测进入所述第一探测器的干涉光束并将其通过外部屏幕进行显示;所述数字微镜上设置有微镜阵列,所述微镜阵列划分为不同区域,所述数字微镜通过控制不同区域的微镜的偏转选择相应的子干涉光束进入所述检测单元;所述检测单元探测扫描所述子干涉光束并存储数据。
【技术特征摘要】
1.一种光学元件表面缺陷检测装置,其特征在于,包括:激光器、分束器、扩束系统、参考镜、切换单元、第一探测器、数字微镜以及检测单元;所述激光器发出细光束并将所述细光束经所述分束器入射至所述扩束系统;所述扩束系统用于将所述细光束变为宽光束,所述宽光束一部分传播至参考镜后原路返回形成参考波,另一部分经过透射传播至待测光学元件表面后反射形成检测波,所述参考波与所述检测波形成干涉光束再次经过分束器后反射至所述切换单元;所述切换单元控制所述干涉光束进入第一探测器或进入所述数字微镜;所述第一探测器探测进入所述第一探测器的干涉光束并将其通过外部屏幕进行显示;所述数字微镜上设置有微镜阵列,所述微镜阵列划分为不同区域,所述数字微镜通过控制不同区域的微镜的偏转选择相应的子干涉光束进入所述检测单元;所述检测单元探测扫描所述子干涉光束并存储数据。2.根据权利要求1所述的光学元件表面缺陷检测装置,其特征在于,所述检测单元包括依次设置的第一微透镜阵列,第二微透镜阵列以及第二探测器;所述第一微透镜阵列包括多个第一微透镜,所述第一微透镜与所述微镜阵列中的一个或若干个微镜相对应;所述第二微透镜阵列包括多个第二微透镜,所述第二微透镜阵列与所述第一微透镜阵列的结构及光学参数一致,且与所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:王绍治,刘健,隋永新,杨怀江,
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,
类型:发明
国别省市:吉林,22
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