一种软磁铁氧体磁芯的B‑H曲线测试电路制造技术

本实用新型专利技术涉及一种软磁铁氧体磁芯的B‑H曲线测试电路，电路中与非门U6A的输出端同时接芯片U1的CLK端口和芯片U2的W端口，芯片U1的D1‑D8端口为数据输入端，芯片U1的GND端口接地，芯片U1的VCC端口和OE端口同时接电源，芯片U1的Q1‑Q8端口分别接芯片U2的D1‑D8端口，芯片U2的VCC端口和RT端口同时接电源，且芯片U2的VCC端口和RT端口同时经电容C16接地，芯片U2的R端口为数据信号的写入端，芯片U2的Q1‑Q8为数据输入端，芯片U2的RS端口为数据信号的读出端，芯片U2的FF端口为存储满状态接口，本实用新型专利技术设计的测试电路数据传输速度和效率高，且由于不需要地址线，控制逻辑简单。

B H curve test circuit for soft ferrite core

B H curve test circuit of the utility model relates to a ferrite core, the output circuit of U6A NAND gate and then end chip U1 CLK port and W port of U2 chip, chip U1 D1 D8 port for data input, the U1 chip GND port grounding, U1 chip VCC port and OE port connected to the power supply at the same time, the U1 chip Q1 Q8 port are respectively connected with the U2 chip D1 D8 chip U2 port, VCC port and RT port and connected to the power supply, and the chip U2 VCC port and RT port and the C16 grounding capacitance, U2 chip R port write data signal terminal the chip U2 Q1 Q8 for data input, RS port chip U2 for data readout end signal, the U2 chip FF port for storage full interface, test circuit data transmission speed and efficiency of the design of the utility model is high, and because it does not need the address line, control logic Simple.

【技术实现步骤摘要】
一种软磁铁氧体磁芯的B-H曲线测试电路
本技术涉及检测电路领域，尤其涉及一种软磁铁氧体磁芯的B-H曲线测试电路。
技术介绍
随着科技日新月异的发展，磁性材料的应用范围也大大的拓宽，涉及到电力电工、汽车、电讯技术、航天航空、电视广播、交通以及系统控制等领域。例如，应用于电力制造行业的各类电机、电压器等，其中软磁铁氧体材料制作的磁芯是各种电子变压器和电感器的核心，起着至关重要的作用，也是应用最广泛、种类最多的磁性材料之一，因此对软磁铁氧体磁芯的B-H曲线测试尤为重要。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种软磁铁氧体磁芯的B-H曲线测试电路，以解决上述技术问题，为实现上述目的本技术采用以下技术方案：一种软磁铁氧体磁芯的B-H曲线测试电路，电路中与非门U6A的输出端同时接芯片U1的CLK端口和芯片U2的W端口，芯片U1的D1-D8端口为数据输入端，芯片U1的GND端口接地，芯片U1的VCC端口和OE端口同时接电源，且芯片U1的VCC端口和OE端口同时经电容C15接地，芯片U1的Q1-Q8端口分别接芯片U2的D1-D8端口，芯片U2的XI端口和GND端口同时接地，芯片U2的VCC端口和RT端口同时接本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种软磁铁氧体磁芯的B‑H曲线测试电路，其特征在于，电路中与非门U6A的输出端同时接芯片U1的CLK端口和芯片U2的W端口，芯片U1的D1‑D8端口为数据输入端，芯片U1的GND端口接地，芯片U1的VCC端口和OE端口同时接电源，且芯片U1的VCC端口和OE端口同时经电容C15接地，芯片U1的Q1‑Q8端口分别接芯片U2的D1‑D8端口，芯片U2的XI端口和GND端口同时接地，芯片U2的VCC端口和RT端口同时接电源，且芯片U2的VCC端口和RT端口同时经电容C16接地，芯片U2的R端口为数据信号的写入端，芯片U2的Q1‑Q8为数据输入端，芯片U2的RS端口为数据信号的读出端，芯片U2的FF端...

【技术特征摘要】
1.一种软磁铁氧体磁芯的B-H曲线测试电路，其特征在于，电路中与非门U6A的输出端同时接芯片U1的CLK端口和芯片U2的W端口，芯片U1的D1-D8端口为数据输入端，芯片U1的GND端口接地，芯片U1的VCC端口和OE端口同时接电源，且芯片U1的VCC端口和OE端口同时经电容C15接地，芯片U1的Q1-Q8端口分别接芯片U2的D1-D8端口，芯片U2的XI端口和GND端口同时接地，芯片U2的VCC端口...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁毅，孟国庆，屈庆举，颜景刚，张舒，李相，张朝印，徐士伟，
申请(专利权)人：山东巨恒电子有限责任公司，
类型：新型
国别省市：山东,37