一种破碎筛分系统技术方案

本发明专利技术公开了一种破碎筛分系统，包括中央处理模块、电源模块、存储器、显示器、光电检测模块、粉碎电机、蓝牙模块、温度传感器、霍尔传感器、按键模块、报警模块、提升电机和筛选电机。本发明专利技术破碎筛分系统采用稳压电源供电，能够确保控制系统的正常稳定供电，避免因电源问题而造成系统的误触发等异常操作，同时系统具有粉碎、筛分、二次粉碎的功能，对于粉碎不完全的物料能够继续反复粉碎，直到符合要求为止，系统还设有运行过程监测技术，能够检测各个部分的运行状态，避免异常情况的发生，保护系统和设备。

A crushing and screening system

【技术实现步骤摘要】
一种破碎筛分系统
本专利技术涉及一种破碎机，具体是一种破碎筛分系统。
技术介绍
破碎机是将大尺寸的固体原料粉碎至要求尺寸的机械。破碎机由粗碎、细碎、风力输送等装置组成，以高速撞击的形式达到破碎机之目的。利用风能一次成粉，取消了传统的筛选程序。主要应用矿山，建材等多种行业中，在粉碎过程中施加于固体的外力有剪切、冲击、碾压、研磨四种。剪切主要用在粗碎（破碎）以及粉碎作业，适用于有韧性或者有纤维的物料和大块料的破碎或粉碎作业；冲击主要用在粉碎作业中，适于脆性物料的粉碎；碾压主要用在高细度粉碎（超微粉碎）作业中，适于大多数性质的物料进行超微粉碎作业；研磨主要用于超微粉碎或超大型粉碎设备，适于粉碎作业后的进一步粉碎作业。现有的破碎机设备大多只具有单一的破碎功能，而单纯的一次破碎并不能够把所有的物料都粉碎到理想的大小，此时需要人工进行二次破碎，费时费力，而且现有技术中无法对设备运行过程中的状态进行监测，导致异常发生也无法及时知晓，从而严重影响设备的使用寿命。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种破碎筛分系统，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种破碎筛分系统，包括中央处理模块、电源模块、存储器、显示器、光电检测模块、粉碎电机、蓝牙模块、温度传感器、霍尔传感器、按键模块、报警模块、提升电机和筛选电机，所述中央处理模块分别连接电源模块、存储器、显示器、光电检测模块、粉碎电机、蓝牙模块、温度传感器、霍尔传感器、按键模块、报警模块、提升电机和筛选电机。作为本专利技术的优选方案：所述电源模块包括芯片IC1、芯片IC2、MOS管Q1和电阻R1，电阻R1的一端连接电阻R2、瞬态电压抑制二极管D1、输入电压U1、芯片IC1的引脚8和芯片IC1的引脚3，瞬态电压抑制二极管D1的另一端接地，电阻R1的另一端连接芯片IC1的引脚2，电阻R2的另一端连接芯片IC1的引脚7和MOS管Q1的漏极，芯片IC1的引脚6连接电阻R3、电阻R5、电阻R6、电容C1和芯片IC2的引脚1，电容C1的另一端连接电阻R4，电阻R4的另一端连接芯片IC1的引脚4，芯片IC1的引脚3连接电容C4，电容C4的另一端接地，芯片IC1的引脚4接地，电阻R5的另一端连接电容C2，电容C2的另一端连接芯片IC2的引脚2，电阻R6的另一端连接MOS管Q1的栅极，MOS管Q1的源极连接电阻R7、电容C3、芯片IC1的引脚1和输出电压U2，电阻R7的另一端连接电阻R8的另一端和芯片IC2的引脚8，电阻R8的另一端接地，芯片IC2的引脚5连接芯片IC2的引脚6并接地，电容C3的另一端接地，电阻R3的另一端连接电源VCC，所述芯片IC1的型号为LTC1422。作为本专利技术的优选方案：所述芯片IC2的型号为LT1431。作为本专利技术的优选方案：所述中央处理模块的核心元件为MC51系列单片机。作为本专利技术的优选方案：所述显示屏为7寸液晶屏。作为本专利技术的优选方案：所述粉碎电机、提升电机和筛选电机均为直流电机。作为本专利技术的优选方案：所述光电检测模块为对射式光电二极管。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术破碎筛分系统采用稳压电源供电，能够确保控制系统的正常稳定供电，避免因电源问题而造成系统的误触发等异常操作，同时系统具有粉碎、筛分、二次粉碎的功能，对于粉碎不完全的物料能够继续反复粉碎，直到符合要求为止，系统还设有运行过程监测技术，能够检测各个部分的运行状态，避免异常情况的发生，保护系统和设备。附图说明图1为破碎筛分系统的结构框图；图2为电源模块的电路图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1、2，一种破碎筛分系统，包括中央处理模块、电源模块、存储器、显示器、光电检测模块、粉碎电机、蓝牙模块、温度传感器、霍尔传感器、按键模块、报警模块、提升电机和筛选电机，所述中央处理模块分别连接电源模块、存储器、显示器、光电检测模块、粉碎电机、蓝牙模块、温度传感器、霍尔传感器、按键模块、报警模块、提升电机和筛选电机。作为本专利技术的优选方案：所述电源模块包括芯片IC1、芯片IC2、MOS管Q1和电阻R1，电阻R1的一端连接电阻R2、瞬态电压抑制二极管D1、输入电压U1、芯片IC1的引脚8和芯片IC1的引脚3，瞬态电压抑制二极管D1的另一端接地，电阻R1的另一端连接芯片IC1的引脚2，电阻R2的另一端连接芯片IC1的引脚7和MOS管Q1的漏极，芯片IC1的引脚6连接电阻R3、电阻R5、电阻R6、电容C1和芯片IC2的引脚1，电容C1的另一端连接电阻R4，电阻R4的另一端连接芯片IC1的引脚4，芯片IC1的引脚3连接电容C4，电容C4的另一端接地，芯片IC1的引脚4接地，电阻R5的另一端连接电容C2，电容C2的另一端连接芯片IC2的引脚2，电阻R6的另一端连接MOS管Q1的栅极，MOS管Q1的源极连接电阻R7、电容C3、芯片IC1的引脚1和输出电压U2，电阻R7的另一端连接电阻R8的另一端和芯片IC2的引脚8，电阻R8的另一端接地，芯片IC2的引脚5连接芯片IC2的引脚6并接地，电容C3的另一端接地，电阻R3的另一端连接电源VCC，所述芯片IC1的型号为LTC1422。芯片IC2的型号为LT1431。中央处理模块的核心元件为MC51系列单片机。显示屏为7寸液晶屏。粉碎电机、提升电机和筛选电机均为直流电机。光电检测模块为对射式光电二极管。本专利技术的工作原理是：首先系统中的光电检测模块检测进料口的信息，通过对射式的二极管实现，当检测到有物料进入时，其向单片机发送触发信号，单片机随即启动粉碎电机、提升电机和筛选电机，粉碎电机带动粉碎辊对物料进行粉碎，粉碎后的物料落入由筛分电机带动的筛网上，小颗粒的物料经过筛网后落下，完成粉碎操作，大颗粒的物料经过筛网后送入由提升电机带动的提升装置中，提升装置的出料口位于粉碎电机上方，进行二次粉碎，周而复始，做到物料完全被粉碎的目的，系统中的霍尔传感器用于检测各个电机的转速情况，温度传感器检测设备温度，当两者任何一个出现异常，就会触发系统，停止设备的运转，并且通过报警模块和蓝牙模块发出近程和远程的双重报警，按键模块用于设定各项数据参数，显示屏可以查看数据参数和报警情况等信息。系统中的电源模块如图2所示，具体原理如下：输入的电压U1进入稳压模块中，此时图2中的LTC1422的2脚为高电位，6脚变为低电平，其吸收电流为1OmA，这时MOS管Q1截止，输出U2为0，因此LTC1422片内比较器的同相输入端1脚的电压也为0。由于片内比较器输出电压低于片内1.232V参考电压，因此5脚保持低电平。经过一个定时周期后，LTC1422的6脚为MOS管Q1提供1OμA电流。12V电压也通过R3接到6脚，以1.2mA电流经R3对电容C1充电。R3和C1缓慢降低Q1栅极的电压上升时间，从而限制其冲击电流。当VT1栅极电压升至接近2V时，VT1开始导通，其输出随着电压上升。当输出电压上升超过1.232V时，LTC1422的5脚断开为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种破碎筛分系统，包括中央处理模块、电源模块、存储器、显示器、光电检测模块、粉碎电机、蓝牙模块、温度传感器、霍尔传感器、按键模块、报警模块、提升电机和筛选电机，其特征在于，所述中央处理模块分别连接电源模块、存储器、显示器、光电检测模块、粉碎电机、蓝牙模块、温度传感器、霍尔传感器、按键模块、报警模块、提升电机和筛选电机。

【技术特征摘要】
1.一种破碎筛分系统，包括中央处理模块、电源模块、存储器、显示器、光电检测模块、粉碎电机、蓝牙模块、温度传感器、霍尔传感器、按键模块、报警模块、提升电机和筛选电机，其特征在于，所述中央处理模块分别连接电源模块、存储器、显示器、光电检测模块、粉碎电机、蓝牙模块、温度传感器、霍尔传感器、按键模块、报警模块、提升电机和筛选电机。2.根据权利要求1所述的一种破碎筛分系统，其特征在于，所述电源模块包括芯片IC1、芯片IC2、MOS管Q1和电阻R1，电阻R1的一端连接电阻R2、瞬态电压抑制二极管D1、输入电压U1、芯片IC1的引脚8和芯片IC1的引脚3，瞬态电压抑制二极管D1的另一端接地，电阻R1的另一端连接芯片IC1的引脚2，电阻R2的另一端连接芯片IC1的引脚7和MOS管Q1的漏极，芯片IC1的引脚6连接电阻R3、电阻R5、电阻R6、电容C1和芯片IC2的引脚1，电容C1的另一端连接电阻R4，电阻R4的另一端连接芯片IC1的引脚4，芯片IC1的引脚3连接电容C4，电容C4的另一端接地，...

【专利技术属性】
技术研发人员：李玉，侯月明，程凡，吴凡，贾传科，
申请(专利权)人：枣庄市瑞隆机械制造有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37