放大镜和检测显示面板异物点的方法技术

本发明专利技术提出了放大镜和检测显示面板异物点的方法，该放大镜包括：镜片，该镜片上设置有异物点标样和刻度尺。本发明专利技术所提出的放大镜，其镜片带有刻度尺和异物点标样，当质检人员在发现出显示面板上不良点时，并判断出其具体发生层位之后，只需使用该放大镜即可快速地完成异物点的尺寸测量和与标准点比对，无需再使用并移动对比卡，一步动作的操作更简便且耗时更少，可有效地缩短显示面板的质检时间，从而提升显示面板的不良分析效率。

A method of magnifying the mirror and detecting the foreign objects in the display panel

The invention provides a magnifying glass and a method for detecting the foreign body points of the display panel. The magnifying glass comprises a lens, and the foreign body spot standard sample and the scale ruler are arranged on the lens. The magnifying glass provided by the invention, the lens with the scale and foreign material samples, when the quality inspection found in a bad point on the panel, and determine its specific horizon, just use the magnifying glass to quickly complete the measurement point and target point body alignment, without then use the contrast and move the card, a move operation is simpler and less time consuming, can effectively shorten the time of the display panel quality inspection, so as to enhance the efficiency of the panel display defect analysis.

【技术实现步骤摘要】
放大镜和检测显示面板异物点的方法
本专利技术涉及显示面板检测
，具体的，本专利技术涉及放大镜和检测显示面板异物点的方法。
技术介绍
目前，在液晶显示器(LCD)的阵列基板(TFT)制作过程中，容易出现很多异物点类的不良情况出现。根据发生层位的不同，主要分为两种类型，即液晶盒(Cell)内部的异物、偏光片(POL)与液晶盒(Cell)之间的异物，然后针对不同的发生层位，需要采取不同的措施对其进行改善。现阶段，质检人员在发现异物点类的不良情况后，需要借助放大镜来确认出不良点的发生层位，放大镜下的异物如图1所示，之后还需要再借助标准比对卡来判定不良的大小，对比卡如图2所示。如此，就需要两步动作才能完成对异物点类不良情况的测量，操作上将放大镜和比对卡这两种辅助工具配合使用比较复杂，从而造成了检测过程耗时较久的问题。所以，现阶段用于判定显示面板的不良点的辅助工具仍有待改进。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。本专利技术是基于专利技术人的下列发现而完成的：本专利技术的专利技术人在研究过程中发现，目前点灯岗位的质检人员在判断出显示面板上不良点具体的类型和发生层位后，还需要使用带刻度尺的放大镜先测量出异物点的尺寸，其中放大镜的镜片上的刻度尺可参考图3，然后再将透明的带有点规(即异物点标样)的比对卡移至显示面板上，并使用一系列从小到大的不同直径尺寸的点规逐一覆盖异物点，当图1所示的异物点能被某个点规完全覆盖时，即可判断该显示面板是否合格。所以，配合使用放大镜和比对卡进行判定的步骤比较复杂和耗时。针对上述技术问题，本专利技术的专利技术人设计了一种镜片带有刻度尺和异物点标样的放大镜，在质检人员在判断出显示面板上不良点的具体发生层位后，只需使用放大镜即可快速地完成异物点的尺寸测量和与标准点比对，无需再使用并移动对比卡，一步动作的操作更简便且耗时更少，可有效地缩短显示面板的质检时间，从而提升显示面板的不良分析效率。有鉴于此，本专利技术的一个目的在于提出一种可同时将异物点与异物点标样比对、操作简便或者提升不良分析效率的放大镜。在本专利技术的第一方面，本专利技术提出了一种放大镜。根据本专利技术的实施例，所述放大镜包括：镜片，所述镜片上设置有异物点标样和刻度尺。专利技术人意外地发现，本专利技术实施例的放大镜，其镜片带有刻度尺和异物点标样，当质检人员在发现显示面板上不良点时，并判断出其具体发生层位之后，只需使用该放大镜即可快速地完成异物点的尺寸测量和与标准点比对，无需再使用并移动对比卡，一步动作的操作更简便且耗时更少，可有效地缩短显示面板的质检时间，从而提升显示面板的不良分析效率。另外，根据本专利技术上述实施例的放大镜，还可以具有如下附加的技术特征：根据本专利技术的实施例，所述异物点标样设置在所述镜片的上部；所述刻度尺设置在所述镜片的中间。根据本专利技术的实施例，所述镜片上设置有多个异物点标样。根据本专利技术的实施例，所述多个异物点标样的个数为5个。根据本专利技术的实施例，所述异物点标样为实心的圆。根据本专利技术的实施例，所述多个异物点标样的直径尺寸不同。根据本专利技术的实施例，所述镜片的放大倍率为20倍，且所述多个异物点标样的直径分别为0.10mm、0.15mm、0.20mm、0.25mm和0.30mm。在本专利技术的第二方面，本专利技术提出了一种检测显示面板异物点的方法。根据本专利技术的实施例，所述方法包括：发现显示面板上的不良点；当判断所述不良点为异物点时，通过放大镜上的异物点标样进行所述异物点的比对。专利技术人意外地发现，采用本专利技术实施例的检测方法，在发现显示面板上不良点后，质检人员只需使用放大镜这一步操作，即可完成异物点与标准点比对，无需再使用对比卡的步骤，而且该检测方法的效率更高、耗时更短。另外，根据本专利技术上述实施例的检测方法，还可以具有如下附加的技术特征：根据本专利技术的实施例，所述发现显示面板上的不良点是通过以下步骤进行的：利用光源照射所述显示面板，在所述显示面板远离所述光源的一侧，通过肉眼观察所述显示面板。根据本专利技术的实施例，在所述发现显示面板上的不良点之后，进行所述比对之前，所述方法进一步包括：通过所述放大镜确认所述不良点的发生层位。本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是显示面板在点灯检测过程中出现异物点类不良情况；图2是现有技术的一种比对卡的照片；图3是现有技术的放大镜的镜片上的刻度尺的示意图；图4是本专利技术一个实施例的放大镜的镜片上的刻度尺和异物点标样的示意图；图5是本专利技术另一个实施例的放大镜的镜片上的刻度尺和异物点标样的示意图；图6是本专利技术另一个实施例的放大镜的镜片上的刻度尺和异物点标样的示意图；图7是本专利技术一个实施例的检测显示面板异物点的方法流程图；图8是本专利技术另一个实施例的检测显示面板异物点的方法流程图。附图标记100标尺200异物点标样具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，本
人员会理解，下面实施例旨在用于解释本专利技术，而不应视为对本专利技术的限制。除非特别说明，在下面实施例中没有明确描述具体技术或条件的，本领域技术人员可以按照本领域内的常用的技术或条件或按照产品说明书进行。所用试剂或仪器未注明生产厂商者，均为可通过市购到的常规产品。在本专利技术的一个方面，本专利技术提出了一种放大镜。参照图4～6，对本专利技术的放大镜进行详细的描述。根据本专利技术的实施例，该放大镜包括镜片；其中，参考图4，该镜片上设置有异物点标200和刻度尺100。如此，质检人员在发现显示面板上不良点时，并判断出其具体发生层位之后，只需使用该放大镜即可快速地完成异物点的尺寸测量和与标准点比对，无需再使用对比卡，从而减少确认的步骤，进而提升不良分析的效率。根据本专利技术的实施例，镜片上异物点标样200和刻度尺100的具体设置位置，都不受特别的限制，本领域技术人员可根据实际比对过程中质检人员视野中的实际图像进行相应地调整。在本专利技术的一些实施例中，参考图5，异物点标样200可设置在镜片的上部，而刻度尺100可设置在镜片的中间。如此，方便质检人员将异物点等不良情况置于视野中心，从而方便对异物点的测量，而且，上部的异物点标样200也不会妨碍标尺100对异物点的测量。根据本专利技术的实施例，镜片上设置可以有多个异物点标样200，如此，可满足不同分辨率合格要求的显示面板的检测。需要说明的是，本文中所有“多个”具体是指两个或两个以上。根据本专利技术的实施例，镜片上异物点标样200的具体个数不受特别的限制，本领域技术人员可根据该放大镜实际用于检测的显示面板的合格标准进行相应地设计和选择。在本专利技术的一些实施例中，参考图5，镜片上的多个异物点标样的数目可以为5个。根据本专利技术的实施例，异物点标样200的具体形状不受特别的限制，本领域内常用的比对卡上的标准形状均可，本领域技术人员可根据待检测的产品常出现的不良情况的具体形状进行相应的设计。在本专利技术的一些实施例中，参考图5，异物点标样可以为实心的圆。如此，可方便质检人员判断异物点类不良情况是否符合一般显示面板上小于最大直径圆点的合格标准。根据本专利技术的实施例，实心圆的异物点标样200的具体直径尺寸，不受特别的限制，本领域技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种放大镜，其特征在于，包括：镜片，所述镜片上设置有异物点标样和刻度尺。

【技术特征摘要】
1.一种放大镜，其特征在于，包括：镜片，所述镜片上设置有异物点标样和刻度尺。2.根据权利要求1所述的放大镜，其特征在于，所述异物点标样设置在所述镜片的上部；所述刻度尺设置在所述镜片的中间。3.根据权利要求1所述的放大镜，其特征在于，所述镜片上设置有多个异物点标样。4.根据权利要求3所述的放大镜，其特征在于，所述多个异物点标样的数目为5个。5.根据权利要求3所述的放大镜，其特征在于，所述异物点标样为实心的圆。6.根据权利要求5所述的放大镜，其特征在于，所述多个异物点标样的直径尺寸不同。7.根据权利要求1所述的放大镜，其特征在于，所述镜片的放大倍率为20倍，且所述多...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊廷忠，张蓉，王丙瑞，王红彬，刘志骞，张贺，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11