气体分析装置制造方法及图纸
Gas analysis device
The invention reduces the influence of mist or dust in the analysis object gas. The invention provides a gas analysis device includes: the irradiation part object gas laser irradiation analysis flue circulation; and the relative irradiation part configured to clamp the flue, receiving the laser through the analysis of target gas after the light receiving part; and a cylinder, the cylinder is arranged between the light emitting part and the light the Ministry, for the laser through the internal in the flue, the formation of the first object oriented analysis of gas hole upstream side and the downstream side of the object oriented analysis of the gas hole second.
【技术实现步骤摘要】
气体分析装置
本专利技术涉及气体分析装置。以往，已知有激光式的气体分析装置。气体分析装置具备向分析对象气体照射激光的照射部、和接受通过分析对象气体后的激光的受光部。气体分析装置根据受光部的受光量分析吸收频谱。气体分析装置根据吸收频谱，对分析对象气体中的对象物质的浓度进行分析(例如，参照专利文献1)。[现有技术文献][专利文献][专利文献1]日本专利特开2009-270917号公报
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题激光式气体分析装置中，在分析对象气体中包含薄雾或灰尘的情况下，激光因薄雾或灰尘而散射或被吸收。根据薄雾或灰尘的量，受光部中的激光的受光量可能减少，从而难以测定对象物质的浓度。解决技术问题所采用的技术方案本专利技术的一个实施方式中，气体分析装置可以具备照射部、受光部以及筒。照射部可以对烟道内流通的分析对象气体照射激光。受光部可以与照射部相对配置为将烟道夹持。受光部可以接受通过分析对象气体后的激光。筒可以是在照射部和受光部之间配置的一体型的筒，使激光通过内部。烟道内，可以在筒形成第一孔和第二孔。第一孔可以面向分析对象气体的上游侧。第二孔可以面向分析对...
【技术保护点】
一种气体分析装置，其特征在于，具备：照射部，该照射部对烟道内流通的分析对象气体照射激光；受光部，该受光部与所述照射部相对配置为将所述烟道夹持，接受通过所述分析对象气体后的所述激光；以及一体型的筒，该筒配置在所述照射部和所述受光部之间，以供所述激光通过内部，在所述烟道内形成有面向所述分析对象气体的上游侧的第一孔和面向所述分析对象气体的下游侧的第二孔。
【技术特征摘要】
2016.07.13 JP 2016-1383531.一种气体分析装置，其特征在于，具备：照射部，该照射部对烟道内流通的分析对象气体照射激光；受光部，该受光部与所述照射部相对配置为将所述烟道夹持，接受通过所述分析对象气体后的所述激光；以及一体型的筒，该筒配置在所述照射部和所述受光部之间，以供所述激光通过内部，在所述烟道内形成有面向所述分析对象气体的上游侧的第一孔和面向所述分析对象气体的下游侧的第二孔。2.权利要求1所述的气体分析装置，其特征在于，具备：照射部侧导入部，该照射部侧导入部从所述筒的照射部侧的端部向所述筒内导入吹扫气体；受光部侧导入部，该受光部侧导入部从所述筒的受光部侧的端部向所述筒内导入吹扫气体。3.权利要求1或2所述的气体分析装置，其特征在于，所述第二孔在所述分析对象气体的下游侧配置为与所述第一孔相对，且开口面积比所述第一孔大。4.权利要求1到3的...
【专利技术属性】
技术研发人员：赤尾幸造，谷口裕，
申请(专利权)人：富士电机株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP
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