一种深紫外光倍频测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种深紫外光倍频测试装置，属于光学非线性频率变化技术领域，该测试装置包括：光源(1)设置在密闭暗室(2)外部的入口处，其发出紫外光进入到密闭暗室(2)内形成光路；密闭暗室(2)为真空或填充氮气的暗室；样品架(3)活动的设置在密闭暗室(2)内的光路上；样品库(4)设置在光路的一侧与样品架(3)对应的位置，容纳有一种或多种样品；样品控制杆(5)一端与样品架(3)连接，另一端伸出密闭暗室(2)，控制样品架(3)在样品库(4)与光路之间移动。本发明专利技术通过活动设置的样品架(3)和样品控制杆(5)实现了在密闭暗室(2)中置换样品无需开腔的目的，测量误差小，保证了测试结果的重复性和可比性。

A deep ultraviolet light doubling test device

The invention discloses a deep ultraviolet harmonic test device, which belongs to the field of nonlinear optical frequency change technology, the test device includes a light source (1) arranged in a closed chamber (2) outside the entrance, which emit ultraviolet light into the closed chamber (2) formed in the optical path; closed chamber (2) is vacuum or filled nitrogen chamber; a sample holder (3) is movably arranged in a closed chamber (2) within the optical path; sample library (4) is arranged on one side of the optical path and the sample holder (3) corresponding to the location, containing one or more samples; samples of control rod (5) and 3 (end of sample holder) connection, the other end extends out of the closed chamber (2), a sample holder (3) in the control samples (4) and the optical path between the mobile. The sample frame of the invention through the activities set (3) and a control rod (5) samples achieved in a closed chamber (2) in the sample without replacement to open, small measurement error, ensure the repeatability of test results and comparability.

【技术实现步骤摘要】
一种深紫外光倍频测试装置
本专利技术涉及光学非线性频率变化
，更具体涉及一种深紫外光倍频测试装置。
技术介绍
光学非线性频率变换是一种扩展激光频率的技术手段，对激光技术的发展和拓宽激光的应用领域具有十分重要的意义，并将促进一些交叉学科和一些新领域的发展。探索新的非线性光学材料过程中由于生长单晶比较困难，需要大量时间和资金投入。因此以某种方式能首先对晶体的非线性常数作一些评估是很重要的。发展粉末倍频法是行之有效的方法之一。但是现有的倍频测试装置存在如下缺陷：1、现有的测试装置无法实现基频光小于370nm波段的相关测试，主要原因在于波长小于370nm的基频光产生的倍频光波长在185nm以下，空气对其吸收较大，无法在空气环境下传播。2、现有的测试装置中置换测试样品需要频繁开腔，操作繁琐，且造成测量误差较大。3、现有的测试装置的通光入口无法去除杂散光，影响测量的准确性。4、现有的测试装置衰减片设置单一，真空环境下倍频光的透过率无法调节，而且必须开腔才能更换衰减片。试验过程中，无法保证倍频光的光强恰好在光电倍增管的测量动态范围内，影响测量的准确性。
技术实现思路
(一)专利技术目的本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种深紫外光倍频测试装置，用于发出紫外光照射样品产生深紫外倍频光，其特征在于，包括：光源(1)，设置在密闭暗室(2)外部的入口处，其发出紫外光进入到密闭暗室(2)内形成光路，所述密闭暗室(2)为真空或填充氮气的暗室；样品架(3)，活动的设置在所述密闭暗室(2)内的所述光路上；样品库(4)，设置在所述光路的一侧与所述样品架(3)对应的位置，容纳有一种或多种样品；样品控制杆(5)，其一端与所述样品架(3)连接，另一端伸出所述密闭暗室(2)，设置为控制所述样品架(3)在所述样品库(4)与所述光路之间移动。

【技术特征摘要】
1.一种深紫外光倍频测试装置，用于发出紫外光照射样品产生深紫外倍频光，其特征在于，包括：光源(1)，设置在密闭暗室(2)外部的入口处，其发出紫外光进入到密闭暗室(2)内形成光路，所述密闭暗室(2)为真空或填充氮气的暗室；样品架(3)，活动的设置在所述密闭暗室(2)内的所述光路上；样品库(4)，设置在所述光路的一侧与所述样品架(3)对应的位置，容纳有一种或多种样品；样品控制杆(5)，其一端与所述样品架(3)连接，另一端伸出所述密闭暗室(2)，设置为控制所述样品架(3)在所述样品库(4)与所述光路之间移动。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述样品库(4)形成为直线形，所述样品库(4)连接到所述密闭暗室(2)外的控制端，设置为在该控制端的控制下平行于所述光路移动；或者，所述样品库(4)形成为直线形，所述样品控制杆(5)伸出所述密闭暗室(2)的一端与控制端连接，设置为在该控制端的控制下平行于所述光路移动。3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述样品库(4)形成为圆盘形或圆柱形，所述样品库(4)连接到所述密闭暗室(2)外的控制端，设置为在该控制端的控制下旋转。4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述样品库(4)形成为弧形，所述样品库(4)连接到所述密闭暗室(2)外的控制端，设置为在该控制端的控制下旋转；或者，所述样品库(4)形成为弧形，所述样品控制杆(5)伸出所述密闭暗室(2)的一端与控制端连接，设置为在该控制端的控制下沿着所述样品库(4)的弧形内径旋转。5.根据权利要求1-4任一项所述的测试装置，其特征在于，所述样品库(4)包括一个或多个样品盒(41)；所述样品架(3)设置为夹持或放开一个所述样品盒(41)。6.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，还包括：传动机构(6)，其一端与所述样品库(4)连接，另一端伸出所述密闭暗室(2)与所述控制端连接；所述传动机构(6)在所述控制端的控制下，带动所述样品库(4)平行于所述光路移动。7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述传动机构(6)包括：齿条(61)，与所述样品库(4)固定连接或一体成型；齿轮(62)，位于传动轴(63)...

【专利技术属性】
技术研发人员：宗楠，杨峰，杨尚，彭钦军，许祖彦，张申金，王志敏，张丰丰，
申请(专利权)人：中国科学院理化技术研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11