一种光压测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光压测量装置及方法，属于光压测量技术领域。光压测量装置包括底座、水平滑动滑块、倾角调节装置、支座、竖直滑动滑块、张拉装置、夹具、圆形薄膜，所述水平滑动滑块置于底座上的水平滑槽内，所述竖直滑动滑块置于支座上的竖直滑槽内，竖直滑块中央设有方形孔，张拉装置连接在方形孔内，张拉装置用于通过夹具夹紧圆形薄膜，倾角调节装置用于调节圆形薄膜的前后方向的倾角。光压测量装置与光源、分光板、补偿板、观察屏、固定反射镜共同组成光压测量系统。光压测量方法通过光压测量系统实现。本发明专利技术提供的光压测量装置及方法，测量装置结构更简单，操作更方便，测量变形更精细，适合于非常小的光压的测量。

A pressure measuring device and method

The invention discloses a pressure measuring device and a method thereof, belonging to the technical field of pressure measurement. A pressure measuring device comprises a base, horizontal slider, angle adjusting device, bearing, vertical slider, Zhang La apparatus, fixture, circular membrane, the level of the horizontal slide chute is arranged on the base of the vertical, the vertical slider is arranged on the saddle sliding groove, a vertical sliding block is arranged at the center of the square hole, tension the device is connected with the square hole, the tensioning device used by clamping round film, inclination angle adjusting device for adjusting the direction of circular thin films before and after. A pressure measuring device and the light source, light compensation, board, observation screen, fixed mirror composed of pressure measurement system. A pressure measuring method is realized by the pressure measurement system. A pressure measuring device and method provided by the invention, measuring device has the advantages of simpler structure, more convenient operation, more precise measurement of the deformation measurement, suitable for very small pressure.

【技术实现步骤摘要】
一种光压测量装置及方法
本专利技术具体涉及一种光压测量装置及方法，属于光压测量
具体涉及一种利用周边固定的圆形薄膜的变形理论解和迈克尔逊干涉法测定光压大小的装置和方法。
技术介绍
光具有波粒二象性，其传播过程中主要显示出波动性，其与物体发生作用时主要显示出粒子性。当光照射在物体上之时，光粒子与物体之间会交换动能，根据动量定理可知，此时物体便可获得动能。这一现象在宏观上即表现为光具有压强，一定面积的物体因光压作用而受到一定的力。因为光压的数值量级相当小，所以无法使用普通的测力装置对其进行测量。专利技术专利ZL201110233271.8公开了一种用于基于光压法的高能激光能量参数测量方法和装置。专利技术专利申请CN105527020A公开了一种基于光纤光路的光压演示及测量系统。专利技术专利CN201410023274.2公开了一种基于纳米银膜的光压传感器及其光压检测方法。在实际应用中，物体所受到的光压大小会受到诸如材料反射率、材料表面均匀度等因素的影响，物体实际受到的光压相比基于光强的理论计算公式所得的数值会有一定的减小，因此测量物体实际受到的光压的大小尤为重要。为了测量物体实际本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光压测量装置，包括底座，其特征在于，所述光压测量装置还包括水平滑动滑块、倾角调节装置、支座、竖直滑动滑块、张拉装置、夹具、圆形薄膜，所述水平滑动滑块置于底座上的水平滑槽内，所述竖直滑动滑块置于支座上的竖直滑槽内，竖直滑块中央设有方形孔，张拉装置连接在方形孔内，张拉装置用于通过夹具夹紧圆形薄膜，所述倾角调节装置用于调节圆形薄膜的前后方向的倾角。

【技术特征摘要】
1.一种光压测量装置，包括底座，其特征在于，所述光压测量装置还包括水平滑动滑块、倾角调节装置、支座、竖直滑动滑块、张拉装置、夹具、圆形薄膜，所述水平滑动滑块置于底座上的水平滑槽内，所述竖直滑动滑块置于支座上的竖直滑槽内，竖直滑块中央设有方形孔，张拉装置连接在方形孔内，张拉装置用于通过夹具夹紧圆形薄膜，所述倾角调节装置用于调节圆形薄膜的前后方向的倾角。2.如权利要求1所述的光压测量装置，其特征在于，所述水平滑动滑块与水平滑槽之间设有紧固螺钉，所述竖直滑动滑块与竖直滑槽之间设有紧固螺钉。3.如权利要求1所述的光压测量装置，其特征在于，所述张拉装置连接在方形孔内的方式为，方形孔四边内壁上各设有一个方形凸起，张拉装置上设有与4个方形凸起对应的4个方形孔，张拉装置嵌套在方形凸起上。4.如权利要求1所述的光压测量装置，其特征在于，所述夹具数量为4个，4个夹具分别对应张拉装置的圆形夹持部分的圆周四等分位置设置，夹具上设置螺纹孔及夹紧螺钉。5.一种光压测量系统，包括权利要求1至4任一项所述的光压测量装置，其特征在于，所述光压测量系统还包括光源、分光板、补偿板、观察屏、固定反射镜，所述光压测量装置与光源、分光板、补偿板、观察屏、固定反射镜共同组成迈克尔逊干涉仪结构，光压测量装置用于在迈克尔逊干涉仪结构内作为可动反射镜使用。6.一种光压测量方法，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：史爱明，蒋力，王宗阳，
申请(专利权)人：西北工业大学，
类型：发明
国别省市：陕西,61