一种台内滩相薄储层分布的预测方法技术

本发明专利技术提出一种台内滩相薄储层分布的预测方法，包括如下步骤：判断研究区目的层位对应的沉积体的沉积相类型，当以颗粒滩沉积为主体时，选取等时地质体；确定等时地质体对应的储层的成因；当成因为颗粒滩相控储层时，判断颗粒滩的暴露时间；当暴露时间为短期暴露或非暴露时，判断等时地质体厚度与储层累计厚度之间的关系；当为正相关关系时，建立等时地质体厚度与储层产能的关系曲线；依据等时地质体厚度与储层产能的关系曲线，按照等时地质体厚度划分储集区，利用等时地质体厚度进行预测。该预测方法能够利用有限的取心资料和测井资料，预测台内滩相薄储层的分布情况。

【技术实现步骤摘要】
一种台内滩相薄储层分布的预测方法
本专利技术属于油气田勘探
，尤其涉及一种台内滩相薄储层分布的预测方法。
技术介绍
近来，随着油气勘探的深入，岩性油气藏所占比重越来越大，且越来越受到关注。海相碳酸盐岩台地内部的滩相储层就是这类油气储层中的一类主要储层，由于其非均质性极强，对其形成机制和分布进行研究，对于海相油气勘探具有重要意义。谭秀成等报道了碳酸盐岩台地内部颗粒岩储层的形成机制，其研究表明：位于浪基面之上、靠近海平面的微地貌高地处，由于波浪作用最强，且沉积速率最快，以发育滩核为特征，容易发生同生期岩溶作用，易于形成同生岩溶型储集层；接近浪基面处，由于波浪作用以及沉积速率相对逊色，以发育滩缘为特征，由于滩缘暴露几率小，且粒间孔往往被胶结致密化，因而，其储层相对欠发育；在浪基面之下的微地貌低地处，由于几乎没有波浪作用，且沉积速率最慢，主要发育滩间海及开阔潮下，由于滩间海及开阔潮下的细粒沉积物迅速压实致密化，易导致储层不发育。上述报道公开的形成机制能够为海相油气勘探提供重要的理论基础，然而，对于海相碳酸盐岩台地内部的滩相储层的分布，目前仍无具体可行的预测方法。目前，常用的储层分布预测方法为地震储集层识别技术，然而，该技术只能识别厚度大于10m的储集层，对于规模较小且通常表现为米级薄储层特征的台内滩相薄储层并不适用。因而，如何预测台内滩相薄储层的分布，是当前急需解决的一项技术问题。
技术实现思路
本专利技术针对上述的技术问题，提出一种台内滩相薄储层分布的预测方法，能够利用有限的取心资料和测井资料，预测台内滩相薄储层的分布情况。为了达到上述目的，本专利技术采用的技术方案为：一种台内滩相薄储层分布的预测方法，包括如下步骤：(1)选取研究区内的多口探井，对所述探井中的取心井进行岩心观察，判断目的层位对应的沉积体的沉积相类型，当所有取心井目的层位对应的沉积体均以颗粒滩沉积为主体时，根据所述探井的自然伽马测井曲线在目的层位内选取等时地质体；(2)确定步骤(1)中选取的等时地质体对应的储层的成因；(3)当步骤(2)中确定的成因为颗粒滩相控储层时，判断所述储层中颗粒滩的暴露时间；(4)当步骤(3)中判断的暴露时间为短期暴露或非暴露时，获取所述探井中具备测井储集层解释条件的探井对应的等时地质体厚度及对应的储层累计厚度，并判断所述等时地质体厚度与所述储层累计厚度之间的关系是否为正相关关系；(5)当步骤(4)中判断的关系为正相关关系时，获取所述探井中已知测试产能的探井对应的等时地质体厚度和储层产能，并建立等时地质体厚度与储层产能的关系曲线；(6)根据等时地质体厚度与储层产能的关系曲线，取所述关系曲线的斜率为0.6时对应的等时地质体厚度为第一转折厚度，取所述关系曲线的斜率为0.1时对应的等时地质体厚度为第二转折厚度；当未知产能储层对应的等时地质体厚度大于第一转折厚度时，预测其为最有利储集区；当未知产能储层对应的等时地质体厚度介于第一转折厚度和第二转折厚度之间时，预测其为次有利储集区；当未知产能储层对应的等时地质体厚度小于第二转折厚度时，预测其为一般储集区。作为优选，步骤(2)中确定储层成因的具体步骤为：对所述取心井的岩心进行取样并制作铸体薄片，通过镜下鉴定岩心样品的孔隙和胶结物特征确定成因。作为优选，步骤(3)中通过岩心观察和镜下鉴定判断颗粒滩的暴露时间。作为优选，步骤(4)中，所述等时地质体厚度通过所述等时地质体的底界面对应的深度减去顶界面对应的深度获得。作为优选，步骤(4)中，所述储层累计厚度根据测井解释数据获得。与现有技术相比，本专利技术的优点和积极效果在于：本专利技术提供的台内滩相薄储层分布的预测方法，可以在取心资料有限的条件下，通过建立等时地质体厚度与储层产能之间的关系，并根据等时地质体厚度划分最有利储集区、次有利储集区和一般储集区，进而利用未知储层对应的等时地质体厚度有效地对台内滩相薄储层分布进行预测，对有利区筛选及井位部署等具有指导意义，对于海相油气勘探具有重要意义。附图说明图1为本专利技术实施例所提供的台内滩相薄储层分布的预测方法的流程图；图2为本专利技术实施例1所提供的蜀南威远地区部分探井的自然伽马测井曲线及选取的等时地质体示意图，其中斜线填充部分表示的为选取的等时地质体；图3为本专利技术实施例1所提供的蜀南威远地区威寒1井寒武系洗象池群底部“针孔”砂屑云岩发育层段样品的镜下照片，其中，b图为a图的局部放大照片；图4为本专利技术实施例1所提供的等时地质体厚度与储层累计厚度的关系图；图5为本专利技术实施例1所提供的等时地质体厚度与储层产能的关系图；图6为本专利技术实施例1所提供蜀南威远地区寒武系洗象池群底部台内滩相薄储层分布预测图；具体实施方式下面将对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例提供了一种台内滩相薄储层分布的预测方法，其流程图如图1所示，包括如下步骤：(1)选取研究区内的多口探井，对所述探井中的取心井进行岩心观察，判断目的层位对应的沉积体的沉积相类型，当所有取心井目的层位对应的沉积体均以颗粒滩沉积为主体时，根据所述探井的自然伽马测井曲线在目的层位内选取等时地质体。在本步骤中，需要说明的是，通过岩心观察可确定目的层位对应的沉积体的岩性岩相组合，进而结合地质背景可确定沉积相类型。由于只有当目的层位对应的沉积体属于同沉积稳定沉降的台地内环境，且以颗粒滩沉积为主体时，即目的层位对应的沉积体属于台内滩相时，才能够采用本专利技术提供的这种台内滩相薄储层分布的预测方法进行预测，因而，本步骤首先对目的层位对应的沉积体的沉积相类型进行了判断。进一步的，针对颗粒滩沉积为主体的沉积体，由于其自然伽马测井曲线响应普遍具有类似“两高夹一低”的特征，因而，可根据探井对应的自然伽马测井曲线，选取其中的低值段作为等时地质体。需要说明的是，所述等时地质体是指在某一地质时期内同时稳定沉积的地质单元，其顶底界面具有良好的可追踪对比性和等时性。此外，还需要说明的是，选取的等时地质体对应的厚度或沉积体对应的沉积时间跨度不宜过大，否则会影响预测结果的准确性。(2)确定步骤(1)中选取的等时地质体对应的储层的成因。在本步骤中，需要说明的是，由于本专利技术提供的这种台内滩相薄储层分布的预测方法仅适用于颗粒滩相控储层，因而，需要对储层的成因进行判断。(3)当步骤(2)中确定的成因为颗粒滩相控储层时，判断所述储层中颗粒滩的暴露时间。在本步骤中，需要说明的是，由于颗粒滩长期暴露时会导致颗粒滩上部被剥蚀，无法采用本专利技术提供的这种台内滩相薄储层分布的预测方法进行预测，因而，需要对颗粒滩的暴露时间进行判断。(4)当步骤(3)中判断的暴露时间为短期暴露或非暴露时，获取所述探井中具备测井储集层解释条件的探井对应的等时地质体厚度及对应的储层累计厚度，并判断所述等时地质体厚度与所述储层累计厚度之间的关系是否为正相关关系。在本步骤中，需要说明的是，由于当等时地质体的厚度与储层的累计厚度之间不存在正相关关系时，无法采用本专利技术提供的这种台内滩相薄储层分布的预测方法进行预测，因而，需要对等时地质体的厚度与储层的累计厚度本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种台内滩相薄储层分布的预测方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)选取研究区内的多口探井，对所述探井中的取心井进行岩心观察，判断目的层位对应的沉积体的沉积相类型，当所有取心井目的层位对应的沉积体均以颗粒滩沉积为主体时，根据所述探井的自然伽马测井曲线在目的层位内选取等时地质体；(2)确定步骤(1)中选取的等时地质体对应的储层的成因；(3)当步骤(2)中确定的成因为颗粒滩相控储层时，判断所述储层中颗粒滩的暴露时间；(4)当步骤(3)中判断的暴露时间为短期暴露或非暴露时，获取所述探井中具备测井储集层解释条件的探井对应的等时地质体厚度及对应的储层累计厚度，并判断所述等时地质体厚度与所述储层累计厚度之间的关系是否为正相关关系；(5)当步骤(4)中判断的关系为正相关关系时，获取所述探井中已知测试产能的探井对应的等时地质体厚度和储层产能，并建立等时地质体厚度与储层产能的关系曲线；(6)根据等时地质体厚度与储层产能的关系曲线，取所述关系曲线的斜率为0.6时对应的等时地质体厚度为第一转折厚度，取所述关系曲线的斜率为0.1时对应的等时地质体厚度为第二转折厚度；当未知产能储层对应的等时地质体厚度大于第一转折厚度时，预测其为最有利储集区；当未知产能储层对应的等时地质体厚度介于第一转折厚度和第二转折厚度之间时，预测其为次有利储集区；当未知产能储层对应的等时地质体厚度小于第二转折厚度时，预测其为一般储集区。...

【技术特征摘要】
1.一种台内滩相薄储层分布的预测方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)选取研究区内的多口探井，对所述探井中的取心井进行岩心观察，判断目的层位对应的沉积体的沉积相类型，当所有取心井目的层位对应的沉积体均以颗粒滩沉积为主体时，根据所述探井的自然伽马测井曲线在目的层位内选取等时地质体；(2)确定步骤(1)中选取的等时地质体对应的储层的成因；(3)当步骤(2)中确定的成因为颗粒滩相控储层时，判断所述储层中颗粒滩的暴露时间；(4)当步骤(3)中判断的暴露时间为短期暴露或非暴露时，获取所述探井中具备测井储集层解释条件的探井对应的等时地质体厚度及对应的储层累计厚度，并判断所述等时地质体厚度与所述储层累计厚度之间的关系是否为正相关关系；(5)当步骤(4)中判断的关系为正相关关系时，获取所述探井中已知测试产能的探井对应的等时地质体厚度和储层产能，并建立等时地质体厚度与储层产能的关系曲线；(6)根据等时地质体厚度与储层产能的关系曲线，取所述关系曲线的斜率为0.6时对应的等时地质体厚度为第一转折厚度，取所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖笛，谭秀成，李凌，
申请(专利权)人：西南石油大学，
类型：发明
国别省市：四川,51