一种高度综合检具制造技术

本发明专利技术公开了一种高度综合检具，包括用于检测零件下侧型面高度偏差的高度检测仪、定位基座和检测台，定位基座固定安装在检测台上，多个高度检测仪围绕所述定位基座布置，以达到对零件不同下侧型面的同时测量；检测前，将标准零件放置在定位基座上，对各个高度检测仪的千分表调零，并根据各个下侧型面要求的公差确定合格范围；检测时，将待检测的零件放置于定位基座上，查看各个高度检测仪的千分表指针指示的数值，分别与对应的合格范围对比，存在不属于对应合格范围的数值则判定零件不合格。利用本发明专利技术检测结果直观，可对复杂零件的多个下侧型面同时检测，提高检测速度，其定位准确能降低检测误差，有效提高生产效率和零件出厂质量。

【技术实现步骤摘要】
一种高度综合检具
本专利技术涉及测量设备，具体是一种零件高度检具。
技术介绍
目前，工业应用中的零件高度检测装置大多只适用于零件单一平面的高度检测，而对于需要同时检测零件的多个不同平面高度时，则需要一一定位，单独对每个平面高度进行检测，这种方式则过于缓慢。更近一步，如图5、图6所示的零件，其中心存在中心孔，零件的多个下侧型面的高度尺寸均为装配尺寸，这些高度尺寸均以图5所示的基准面为基准，则当需要对该类零件不同下侧型面高度进行检测时，就越发的困难了。首先，零件下侧型面的测量就存在诸多问题，在成品检测时无法利用现有的高度检具检测，只能利用游标卡尺手工测量，这种方式不仅效率低下，其测量数据也容易因定位不准存在较大误差，对于下方存在凸缘的零件，下侧型面的高度检测受下方凸缘影响则更加提高了手工测量的难度，有时则需要分段测量来确定目标段的尺寸，如此易产生较大的误差，而且作为成品检验测量，传统的高度测量还需对测量段进行读数，这增加了检验人员的工作量，拖慢生产效率。其次，对一个零件的不同下侧型面高度以手工测量方式一一进行检测，就使得原本测量误差较大的情况下使得一个零件的误差量增大，影响其使用，而且，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高度综合检具，其特征在于：包括用于检测零件下侧型面高度偏差的高度检测仪(1)、用于定位零件的定位基座(2)和检测台(3)，所述定位基座(2)固定安装在所述检测台(3)的中部，所述高度检测仪(1)有多个，并且围绕所述定位基座(2)布置；所述高度检测仪(1)包括底座(11)、杠杆(12)、千分表(13)和杠杆支点(121)，所述杠杆支点(121)设置在底座(11)上，所述杠杆(12)的中部枢接于所述杠杆支点(121)，所述杠杆(12)的一端设置有圆弧测头(122)，另一端设置有凸台(123)，所述凸台(123)与千分表(13)的测头连接，所述圆弧测头(122)的轴线和所述千分表(13)测头的轴...

【技术特征摘要】
1.一种高度综合检具，其特征在于：包括用于检测零件下侧型面高度偏差的高度检测仪(1)、用于定位零件的定位基座(2)和检测台(3)，所述定位基座(2)固定安装在所述检测台(3)的中部，所述高度检测仪(1)有多个，并且围绕所述定位基座(2)布置；所述高度检测仪(1)包括底座(11)、杠杆(12)、千分表(13)和杠杆支点(121)，所述杠杆支点(121)设置在底座(11)上，所述杠杆(12)的中部枢接于所述杠杆支点(121)，所述杠杆(12)的一端设置有圆弧测头(122)，另一端设置有凸台(123)，所述凸台(123)与千分表(13)的测头连接，所述圆弧测头(122)的轴线和所述千分表(13)测头的轴线到杠杆支点(121)中心的距离相等，所述杠杆(12)连接有弹性机构以使设置有圆弧测头(122)的一端保持上翘。2.根据权利要求1所述的一种高度综合检具，其特征在于：所述定位基座(2)包括与零件的中心孔相适配的定位柱(21)和抵接零件基准面的定位台(22)，所述定位台(22)为环绕定位柱(21)设置的支撑件，且所述定位台(22)设置有供所述杠杆(12)穿过的缺口。3.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：王拴银，祝章锐，
申请(专利权)人：江门市力泰科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44