双包层光纤纤芯功率测量装置制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
双包层光纤纤芯功率测量装置
本技术涉及光电通信产品测量设备领域，特别涉及一种用于测量双包层光纤功率的测量装置。
技术介绍
双包层光纤具有内包层光和纤芯光。需要测量纤芯光的功率，现有的测量方法是直接采用光功率计检测，但因纤芯光受内包层光的影响，导致测出的功率值不正确。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种双包层光纤纤芯功率测量装置，使内包层光扩散出去，避免影响纤芯光的测量。本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：双包层光纤纤芯功率测量装置，包括左右两侧分别具有通光孔的架体、固定在所述架体一侧并且用于安装光功率计的夹具、安装在所述架体另一侧并且带有与其同中心轴线设置的透镜的支架以及固定在所述支架上并且用于插装光纤的连接头；所述夹具、支架和连接头三者的中心轴线为同一条中心轴线。进一步设置，所述架体包括板体以及分别相对固定在板体左右两侧的支板；所述通光孔开设在所述支板上。进一步设置，所述支架包括大圆环体以及设置于所述大圆环体的中心通孔处的小圆环体，所述小圆环体与大圆环体螺纹连接且该小圆环体能沿中心通孔的内壁轴向调节间距；所述透镜安装在所述小圆环体上。进一步设置，所述连接头通过螺丝固定在大圆环体上。进一步设置，所述大圆环体通过连接件固定在所述架体上。采用本技术方案，双包层光纤插装在连接头上，光功率计固定在夹具上，双包层光纤发射出光线，光线穿过通光孔射在光功率计上；其中，内包层光通过透镜的折射，使其扩散到光功率计的芯片探测区域外围；而纤芯光通过透镜射在芯片探测区域内进行测量。与现有技术相比，本装置对纤芯光的功率测量更加精准。综上所述，本技术具有以下有益效果：本装置结...
【技术保护点】
双包层光纤纤芯功率测量装置，其特征是，包括左右两侧分别具有通光孔(12)的架体(1)、固定在所述架体(1)一侧并且用于安装光功率计的夹具(2)、安装在所述架体(1)另一侧并且带有与其同中心轴线设置的透镜(33)的支架(3)以及固定在所述支架(3)上并且用于插装光纤的连接头(4)；所述夹具(2)、支架(3)和连接头(4)三者的中心轴线为同一条中心轴线。
【技术特征摘要】
1.双包层光纤纤芯功率测量装置，其特征是，包括左右两侧分别具有通光孔(12)的架体(1)、固定在所述架体(1)一侧并且用于安装光功率计的夹具(2)、安装在所述架体(1)另一侧并且带有与其同中心轴线设置的透镜(33)的支架(3)以及固定在所述支架(3)上并且用于插装光纤的连接头(4)；所述夹具(2)、支架(3)和连接头(4)三者的中心轴线为同一条中心轴线。2.根据权利要求1所述的双包层光纤纤芯功率测量装置，其特征是，所述架体(1)包括板体以及分别相对固定在板体左右两侧的支板(11)；所述通光孔(12)开设在所述支板(11)上。3...
【专利技术属性】
技术研发人员：奥玛·麦赫麦特·赛泽曼，
申请(专利权)人：浙江奥智光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33
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