一种用于射频电路匹配调试的调试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于射频电路匹配调试的调试装置，其包括基底以及调节模组；调节模组与待调试的射频电路的传输线电性连接；调节模组包括，导体带，设置于基底上；滑动接触部，与导体带电性连接，其被配置为：当其沿导体带的长度方向滑动时，将导体带的一部分短路，并将导体带的其余部分接入射频电路。调试过程中，调节滑动接触部滑动，使接入射频电路的微带传输线的有效部分连续变化，以使匹配最优，达到调试的目的。采用该调试装置对射频电路进行匹配调试时无需更换和重新焊接元件，也无需重新制作调试电路板，减少了调试过程中无效迭代过程，提高了整体的调试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于射频电路匹配调试的调试装置
本专利技术属于射频电路调试
，特别涉及一种用于射频电路匹配调试的调试装置。
技术介绍
无线通信技术发展日新月异，其中，射频电路的设计是无线通信设备开发的核心组成部分。在射频电路设计研发过程中，射频电路的匹配调试是非常重要的环节。在匹配调试时，现有调试方法通常有两种：一种是采用分离的元件，比如电感或者电容来构建匹配网络。在调试过程中，需要多次更换不同标称值的元件或改变元件的位置，来达到调试的目的，以使匹配最优。该种方法中每一次更换元件或更换元件位置都需要对元件进行重新焊接，造成调试效率很低。另一种调试方法是在被调试电路PCB上留出一些微带枝节，这些微带枝节作为匹配网络。后期调试的时候通过改变这些微带枝节的大小来达到调试的目的，以使匹配最优。该种方法不能适应当前电路设计高度集成化的要求，且在调试的过程中，微带枝节也需多次迭代制作，仍然影响调试的效率。因此，如何在射频电路匹配调试过程中，提高调试效率成为了一个亟待解决的技术问题。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本专利技术的实施例首先提供了一种用于射频电路匹配调试的调试装置，包括基底以及调节模组；所述调节模组与待调试的射频电路的传输线电性连接；所述调节模组包括，导体带，设置于所述基底上；滑动接触部，与所述导体带电性连接，其被配置为：当其沿所述导体带的长度方向滑动时，将所述导体带的一部分短路，并将所述导体带的其余部分接入所述射频电路。优选地，所述导体带包括中心带，以及沿所述中心带两侧设置的接地带；所述中心带的一端与所述射频电路的传输线电性连接。优选地，所述滑动接触部包括由导体制成的接触杆，所述接触杆与所述中心带和所述接地带分别滑动接触；所述接触杆被配置为：当其沿所述中心带的长度方向滑动时，以所述接触杆与所述中心带接触处为短路界限，将所述中心带的与所述射频电路的传输线电性连接的一端至所述短路界限之间的部分接入所述射频电路。优选地，所述导体带为浮置导线，所述浮置导线的一端与所述射频电路的传输线电性连接。优选地，所述滑动接触部包括屏蔽件和接触探针；所述接触探针的一端与所述浮置导线滑动接触；所述屏蔽件包括固定端和伸缩端，所述固定端固定连接于所述浮置导线的另一端；所述伸缩端跟随所述接触探针滑动；所述接触探针被配置为：当其沿所述浮置导线的长度方向滑动时，以所述接触探针与所述浮置导线的接触处为短路界限，将所述浮置导线的一端至所述短路界限之间的部分接入所述射频电路。优选地，所述屏蔽件的特征阻抗小于所述浮置导线的特征阻抗。优选地，所述屏蔽件的特征阻抗Z满足：其中，ε代表基底的相对介电常数，h代表基底的厚度，W代表屏蔽件的宽度，T代表屏蔽件的厚度。优选地，所述屏蔽件由金属制成。通过在调试装置中设置导体带与滑动接触部，并使得滑动接触部沿导体带长度方向滑动，使导体带的一部分短路，其余部分接入射频电路。滑动过程中，接入射频电路的微带传输线，其有效部分连续变化，以使匹配最优，达到调试的目的。相比于现有技术，采用本专利技术实施例的调试装置进行调试时，无需更换和重新焊接元件，也无需重新制作调试电路板，减少了调试过程中的无效迭代过程，提高了调试的效率。附图说明附图用来提供对本申请的技术方案或现有技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分。其中，表达本申请实施例的附图与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，但并不构成对本申请技术方案的限制。图1是根据本专利技术一实施例的调试装置的构造示意图；图2是应用图1所示调试装置的等效原理图；图3是根据本专利技术另一实施例的调试装置的构造示意图；图4是应用图3所示调试装置的等效原理图。具体实施方式以下将结合附图及实施例来详细说明本专利技术的实施方式，借此对本专利技术如何应用技术手段来解决技术问题，并达成相应技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。本申请实施例以及实施例中的各个特征，在不相冲突前提下可以相互结合，所形成的技术方案均在本专利技术的保护范围之内。在射频系统的设计中，保证阻抗匹配非常重要，它关系到射频系统的传输效率、功率容量与工作稳定性。本专利技术实施例中是采用短截线匹配来实现阻抗匹配的。其实现原理可概述为，将一根或多根微带传输线串接或并接于射频电路的传输线上,接入传输线的微带传输线会产生附加反射，通过该附加反射来抵消传输线中原来的反射,进而达到阻抗匹配的目的。基于上述原理，本专利技术的实施例提出了一种用于射频电路匹配调试的调试装置。该调试装置中，设置有基底以及调节模组，其中，基底为一种介质基板，可以为PCB基板，例如电气性能满足调试需求的环氧树脂基板。调节模组与待调试的射频电路的传输线电性连接。调节模组中进一步设置有导体带以及滑动接触部。导体带直接设置在基底上，滑动接触部与导体带电性连接。滑动接触部作为调节结构，可以沿导体带长度方向滑动，使导体带的一部分接入待调试的射频电路。导体带与基底共同构成微带传输线，随着滑动接触部的连续移动，接入射频电路的一部分导体带，其长度是连续变化的。也就是说，在本专利技术的实施例中，调试装置接入射频电路的微带传输线的有效部分是可以连续调节的。接入射频电路的微带传输线会产生附加反射。连续调节导体带的有效长度，会使产生的附加反射发生变化。当该附加反射变化到与原有反射相互抵消或抵消达到设计需求时，就认为实现了匹配。应用本专利技术实施例中的调试装置对射频电路进行匹配调试时，可以实现连续调节导体带的有效长度，进而可以精细化的调整微带传输线在射频电路中产生的附加反射。在匹配调试过程时，可以避免由于使用参数不连续的匹配网络，而不能快速达到调试目的的弊端。例如分别以标称值为2欧和5欧的电阻搭建匹配网络，而实际可达到匹配的匹配网络，为标称值3.5欧的电阻搭建的匹配网络，为达成调试目的，就需进行多次迭代调试。而本专利技术实施例中可连续调节导体带的有效长度，精细化的调整产生的附加反射，可避免这种多次迭代，快速达到匹配调试目的。下面以两个具体的实施例对本专利技术作进一步说明。如图1所示，为本专利技术实施例的调试装置一优选方案的构造示意图。在本实施例中，基底与调节模组中的导体带共同构成的微带传输线结构表现为共面波导的形式。共面波导是一种性能优越、加工方便的微带传输线，在单片微波集成电路MMIC电路中应用广泛。本实施例中，导体带的结构包括中心带2，和沿中心带2两侧设置的接地带3。中心带2、接地带3都位于基底1上。本实施例中，滑动接触部为一接触杆4。接触杆4横置在中心带2和接地带3上，同时与中心带2和接地带3相接触，且接触杆4可以沿中心带2及接地带3的长度的方向滑动。接触杆4采用导体制成。在本实施例中，中心带2一端与射频电路的传输线电性连接，且中心带2通过接触杆4与接地带3电性连接，也即中心带2在滑动接触处是接地的。如图2所示，为利用本实施例的调试装置接入射频电路进行匹配调试的等效原理图。图2中，P1，A0，P2之间的水平连线表示射频电路的传输线，P1为信号源，P2为负载，A0表示传输线本身特征阻抗。A1表示接入传输线的微带传输线的特征阻抗，这里指构成的共面波导的部分特征阻抗。A1上端的竖直线与水平连线相交，表示微带传输线与待调试的传输线电性连接，交点x的位置为连接位置。接地带3与接触杆4之间的连接等效为A1的下端接地(参见图1)。如图1所示，将中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于射频电路匹配调试的调试装置，包括基底以及调节模组；所述调节模组与待调试的射频电路的传输线电性连接；所述调节模组包括，导体带，设置于所述基底上；滑动接触部，与所述导体带电性连接，其被配置为：当其沿所述导体带的长度方向滑动时，将所述导体带的一部分短路，并将所述导体带的其余部分接入所述射频电路。

【技术特征摘要】
1.一种用于射频电路匹配调试的调试装置，包括基底以及调节模组；所述调节模组与待调试的射频电路的传输线电性连接；所述调节模组包括，导体带，设置于所述基底上；滑动接触部，与所述导体带电性连接，其被配置为：当其沿所述导体带的长度方向滑动时，将所述导体带的一部分短路，并将所述导体带的其余部分接入所述射频电路。2.根据权利要求1所述的调试装置，其特征在于，所述导体带包括中心带，以及沿所述中心带两侧设置的接地带；所述中心带的一端与所述射频电路的传输线电性连接。3.根据权利要求2所述的调试装置，其特征在于，所述滑动接触部包括由导体制成的接触杆，所述接触杆与所述中心带和所述接地带分别滑动接触；所述接触杆被配置为：当其沿所述中心带的长度方向滑动时，以所述接触杆与所述中心带接触处为短路界限，将所述中心带的与所述射频电路的传输线电性连接的一端至所述短路界限之间的部分接入所述射频电路。4.根据权利要求1所述的调试装置，其特征在于，所述导体带为浮置导线，所述浮置导线的一端与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：艾君，
申请(专利权)人：艾君，
类型：发明
国别省市：北京,11