光谱分析设备、光谱分析方法以及光谱图显示的方法技术

本发明专利技术涉及光谱分析设备、光谱分析方法以及光谱图显示的方法。提供了一种光谱分析设备，包括处理单元，被配置为使用分析函数生成分析数据，在所述分析函数中，包括作为函数元素的线性函数和对数函数且强度值被设置为来自测量数据的变量，所述测量数据包括通过使用具有不同检测波长带的多个光接收元件检测来自测量目标对象的光而获取的光的强度值。

【技术实现步骤摘要】
光谱分析设备、光谱分析方法以及光谱图显示的方法本申请是国际申请日为2012年9月12日、国际申请号为PCT/JP2012/005780、专利技术名称为“光谱分析设备、细颗粒测量设备以及用于光谱分析或光谱图显示的方法和程序”的PCT申请的中国国家阶段申请的分案申请，该中国国家阶段申请的进入国家阶段日为2014年3月6日，申请号为201280043375.5。
本技术涉及光谱分析设备、细颗粒测量设备以及用于光谱分析或光谱图显示的方法和程序。更具体地，本技术涉及能够获得准确地反映测量目标对象的光学特性的光谱图的光谱分析设备等。
技术介绍
流式细胞仪是通过对流过流动池的诸如细胞、珠子等的细颗粒照射光并检测从细颗粒发射的荧光、散射光等来光学测量细颗粒的特性的设备。例如，当检测到细胞的荧光时，将具有适当波长和强度的激发光(诸如激光)照射到荧光燃料标记的细胞。通过透镜等将从荧光染料发射的荧光会聚，使用诸如过滤器或二向色镜的波长选择元件选择适当波长带的光，且使用诸如光电倍增管(PMT)的光接收元件检测所选择的光。此时，能够通过波长选择元件和光接收元件的多个组合同时检测和分析来自标记到细胞的多个荧光燃本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光谱分析设备，包括：处理单元，被配置为使用分析函数来生成分析数据，在所述分析函数中，包括作为函数元素的线性函数和对数函数且强度值被设置为来自测量数据的变量，所述测量数据包括通过使用具有不同的检测波长带的多个光接收元件检测来自测量目标对象的光而获取的光的强度值，其中所述处理单元被配置为在产生所述分析数据之前以每个光接收元件的检测波长带宽校正所述强度值，其中，通过将所述强度值除以所述检测波长带宽来校正所述强度值。

【技术特征摘要】
2011.09.13 JP 2011-1999011.一种光谱分析设备，包括：处理单元，被配置为使用分析函数来生成分析数据，在所述分析函数中，包括作为函数元素的线性函数和对数函数且强度值被设置为来自测量数据的变量，所述测量数据包括通过使用具有不同的检测波长带的多个光接收元件检测来自测量目标对象的光而获取的光的强度值，其中所述处理单元被配置为在产生所述分析数据之前以每个光接收元件的检测波长带宽校正所述强度值，其中，通过将所述强度值除以所述检测波长带宽来校正所述强度值。2.根据权利要求1所述的光谱分析设备，包括：显示单元，被配置为在一个轴表示对应于所述检测波长带的值且另一个轴表示所述分析函数的输出值的光谱图中显示所述分析数据。3.根据权利要求2所述的光谱分析设备，其中，所述处理单元通过将对于所述强度值小于所述测量数据中的预定值的数据所述线性函数被设置为主函数元素的函数以及对于所述强度值大于所述测量数据中的所述预定值的数据所述对数函数被设置为主函数元素的函数应用为所述分析函数来生成所述分析数据。4.根据权利要求3所述的光谱分析设备，其中，所述显示单元显示所述光谱图，在所述光谱图中，在所述输出值大于预定值的区域中，所述输出值的轴被设置为对数轴，并且在所述输出值小于所述预定值的区域中，所述输出值的轴被设置为线性轴。5.根据权利要求4所述的光谱分析设备，其中，在从包括通过使用具有不同检测波长带的多个光接收元...

【专利技术属性】
技术研发人员：新田尚，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：日本,JP