获取目标点的高度的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种获取目标点的高度的方法和装置。其中，该方法包括：将基准面上的基准点的坐标写入预设空数组，得到基准面的结构数组；在结构数组中查找一个或多个参考点，其中，参考点与投影点的水平距离小于结构数组中，除参考点之外的其他点与投影点的水平距离，投影点为目标点在基准面上的垂直投影点；根据目标点的坐标和参考点的坐标确定目标点与基准面的高度。本发明专利技术解决了现有技术中计算空间点距离地面的高度的计算方法复杂，导致计算效率低的技术问题。

The method and device for obtaining the height of the target point

The invention discloses a method and device for obtaining the height of the target point. Among them, the method includes: the coordinates of fiducial points on plane into the preset array structure reference plane array; search the array structure of one or more reference points, the horizontal distance between the reference point and the projection point is less than the structure array, in addition to the reference point outside of the other point and projection the horizontal distance, vertical projection point projection point target points on the reference surface; according to the coordinates of target coordinates and the reference point to determine the target point and datum height. The invention solves the technical problem that the calculation method of the height of the space point distance to the ground is complex in the existing technology, and leads to the technical problem of low calculation efficiency.

【技术实现步骤摘要】
获取目标点的高度的方法和装置
本专利技术涉及数据处理领域，具体而言，涉及一种获取目标点的高度的方法和装置。
技术介绍
在对大气流场的数值模拟后处理应用中，尤其在风场模拟的后处理中，需要计算空间任意位置的距地面高度，或者需要对空间点集中的所有点的距地面高度赋值。这种运算通常需要大量的时间开销和运算资源开销。在目前公开的或商用的数值模拟软件或技术中，由于其主要着眼通用性和广泛适用性，没有专门针对大气流场的分析，也没有将特定距地面高度处的整体流场特性作为分析目标。所以在类似技术中，对于点距离地面的高度的运算速度较慢。针对现有技术中计算空间点距离地面的高度的计算方法复杂，导致计算效率低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种获取目标点的高度的方法和装置，以至少解决现有技术中计算空间点距离地面的高度的计算方法复杂，导致计算效率低的技术问题。根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种获取目标点的高度的方法，包括：将基准面上的基准点的坐标写入预设空数组，得到基准面的结构数组；在结构数组中查找一个或多个参考点，其中，参考点与投影点的水平距离小于结构数组中，除参考点之外的其他点与投影点的水平距离，投影点为目标点在基准面上的垂直投影点；根据目标点的坐标和参考点的坐标确定目标点与基准面的高度。进一步地，获取基准长度；根据基准长度对基准点的坐标进行整数化处理，得到基准点的整数坐标，其中，基准点的坐标包括第一坐标、第二坐标和第三坐标，第一坐标和第二坐标用于表征基准点在和基准面上的水平位置，第三坐标用于表征基准点相对于预设平面的高度；构建二维数组，其中，根据基准点的第一坐标对应的第一整数坐标和基准长度确定二维数组的第一维度，根据基准点的第二坐标对应的第二整数坐标确定二维数组的第二维度；确定基准点的坐标为二维数组中的元素。进一步地，通过如下公式确定二维数组的第一维度：通过如下公式确定二维数组的第二维度：其中，M为第一维度，N为第二维度，△l为基准长度，xmax为基准点中第一整数坐标的最大值，xmin为基准点中第一整数坐标的最小值，ymax为基准点中第二整数坐标的最大值，ymin为基准点中第二整数坐标的最小值。进一步地，获取基准面上的基准点集合；将预设空数组的指针指向基准点集合中的首个基准点；取出首个基准点的坐标，指针指向下一个基准点，直至没有基准点可以取值；将取出的坐标值按照基准长度进行整数化处理，并将整数化处理后的坐标写入预设空数组的对应位置。进一步地，获取参考点的第三坐标与目标点的第三坐标之差；确定参考点的第三坐标与目标点的第三坐标之差为目标点距离基准面的高度。进一步地，获取多个参考点的焦点；确定参考点的第三坐标与焦点的第三坐标之差为目标点距离基准面的高度。根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种获取目标点的高度的装置，包括：写入模块，用于将基准面上的基准点的坐标写入预设空数组，得到基准面的结构数组；查找模块，用于在结构数组中查找一个或多个参考点，其中，参考点与投影点的水平距离小于结构数组中，除参考点之外的其他点与投影点的水平距离，投影点为目标点在基准面上的垂直投影点；确定模块，用于根据目标点的坐标和参考点的坐标确定目标点与基准面的高度。进一步地，获取子模块，用于获取基准长度；处理子模块，用于根据基准长度对基准点的坐标进行整数化处理，得到基准点的整数坐标，其中，基准点的坐标包括第一坐标、第二坐标和第三坐标，第一坐标和第二坐标用于表征基准点在和基准面上的水平位置，第三坐标用于表征基准点相对于预设平面的高度；构建子模块，用于构建二维数组，其中，根据基准点的第一坐标对应的第一整数坐标和基准长度确定二维数组的第一维度，根据基准点的第二坐标对应的第二整数坐标确定二维数组的第二维度；确定子模块，用于确定二维数组中的元素，其中，元素为基准点的坐标。根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种存储介质，存储介质包括存储的程序，其中，在程序运行时控制存储介质所在设备执行上述任意一项的获取目标点的高度的方法。根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种处理器，其特征在于，处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行上述任意一项的获取目标点的高度的方法。在本专利技术实施例中，将基准面上的基准点的坐标写入预设空数组，得到基准面的结构数组，在结构数组中查找一个或多个参考点，根据目标点的坐标和参考点的坐标确定目标点与基准面的高度。上述方案通过将目标点投影至基准面，来确定在基准面中与投影点最接近的参考点，并根据参考点的坐标和目标点的坐标获取目标点相对于地面的高度，从而简化了获取高度信息的运算过程，解决了现有技术中计算空间点距离地面的高度的计算方法复杂，导致计算效率低的技术问题。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1是根据本专利技术实施例的获取目标点的高度的方法的流程图；图2是根据本申请上述实施例的一种获取目标点的高度的方法的流程；以及图3是根据本申请实施例中的一种获取目标点的高度的装置的示意图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。实施例1根据本专利技术实施例，提供了一种获取目标点的高度的方法的实施例，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。图1是根据本专利技术实施例的获取目标点的高度的方法的流程图，如图1所示，该方法包括如下步骤：步骤S102，将基准面上的基准点的坐标写入预设空数组，得到基准面的结构数组。具体的，上述基准面可以是地面，基准点的坐标可以通过坐标(x，y，z)来表示，其中，(x，y)用于表征基准点在基准面这一平面中的位置，z用于表征基准点相对于预设平面的高度。上述预设空数组可以是多维数组，用于存储基准点的坐标信息，得到基准面的结构数据。步骤S104，在结构数组中查找一个或多个参考点，其中，参考点与投影点的水平距离小于结构数组中，除参考点之外的其他点与投影点的水平距离，投影点为目标点在基准面上的垂直投影点。具体的，上述目标点可以是在大气流场中按照预定的网格取得的格点。在一种可选的实施例中，在获取一个本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种获取目标点的高度的方法，其特征在于，包括：将基准面上的基准点的坐标写入预设空数组，得到所述基准面的结构数组；在所述结构数组中查找一个或多个参考点，其中，所述参考点与投影点的水平距离小于所述结构数组中，除所述参考点之外的其他点与所述投影点的水平距离，所述投影点为目标点在所述基准面上的垂直投影点；根据所述目标点的坐标和所述参考点的坐标确定所述目标点与所述基准面的高度。

【技术特征摘要】
1.一种获取目标点的高度的方法，其特征在于，包括：将基准面上的基准点的坐标写入预设空数组，得到所述基准面的结构数组；在所述结构数组中查找一个或多个参考点，其中，所述参考点与投影点的水平距离小于所述结构数组中，除所述参考点之外的其他点与所述投影点的水平距离，所述投影点为目标点在所述基准面上的垂直投影点；根据所述目标点的坐标和所述参考点的坐标确定所述目标点与所述基准面的高度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在将基准面上的点的坐标写入预设空数组，得到所述基准面的结构数组之前，所述方法还包括：构建所述预设空数组，其中，构建所述预设空数组的步骤包括：获取基准长度；根据所述基准长度对所述基准点的坐标进行整数化处理，得到所述基准点的整数坐标，其中，所述基准点的坐标包括第一坐标、第二坐标和第三坐标，所述第一坐标和所述第二坐标用于表征所述基准点在和所述基准面上的水平位置，所述第三坐标用于表征所述基准点相对于预设平面的高度；构建二维数组，其中，根据所述基准点的第一坐标对应的第一整数坐标和所述基准长度确定所述二维数组的第一维度，根据所述基准点的第二坐标对应的第二整数坐标确定所述二维数组的第二维度；确定所述基准点的坐标为所述二维数组中的元素。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述基准点的第一坐标对应的第一整数坐标和所述基准长度确定所述二维数组的第一维度，根据所述基准点的第二坐标对应的第二整数坐标确定所述二维数组的第二维度，包括：通过如下公式确定所述二维数组的第一维度：通过如下公式确定所述二维数组的第二维度：其中，M为所述第一维度，N为所述第二维度，△l为所述基准长度，xmax为所述基准点中第一整数坐标的最大值，xmin为所述基准点中第一整数坐标的最小值，ymax为所述基准点中第二整数坐标的最大值，ymin为所述基准点中第二整数坐标的最小值。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将基准面上的基准点的坐标写入预设空数组，得到所述基准面的结构数组，包括：获取所述基准面上的基准点集合；将所述预设空数组的指针指向所述基准点集合中的首个基准点；取出所述首个基准点的坐标，所述指针指向下一个基准点，直至没有基准点可以取值；将取出的坐标值按照基准长度进行整数化处理，并将整数化处理后的坐标写入所述预设空数组的对应位置。5.根据权利要求1至4中任意一项所述的方法，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：马铭远，徐越，
申请(专利权)人：中国华能集团清洁能源技术研究院有限公司，华能集团技术创新中心，
类型：发明
国别省市：北京,11