测试参数处理方法、装置及测试器制造方法及图纸
Test parameter processing method, device and tester
The invention provides a processing method, device and test parameter tester, the method includes: determining the test distance between the test event location and tester; according to the test distance, determine the pulse width tester for launch to test the test event; according to the determined test distance, the to determine the pulse width, as well as for scheduled rules determine the test parameters of the tester, determine the test parameters of the tester. The invention solves the problem that the testing system has high professional requirements for the tester in the related technology, and then achieves the effect of reducing the professional requirements of the tester.
【技术实现步骤摘要】
测试参数处理方法、装置及测试器
本专利技术涉及通信领域，具体而言，涉及一种测试参数处理方法、装置及测试器。
技术介绍
光时域反射计(OpticalTimeDomainReflectometer，简称OTDR)是一种光电一体化测量系统，应用于光缆线路的维护、施工及在线测试中。OTDR的原理是利用光线在光纤中传输时的瑞利散射和菲涅尔反射所产生的背向散射，通过雪崩光电二极管(AvalanchePhotoDiode，简称APD)接收光测量信号，将光测量信号转换成原始测试数据，以原始测试数据为素材，通过事件分析算法，获取事件，从而达到测量光纤长度、获取光纤的传输衰减、结果衰减和光纤故障定位的效果。目前，比较常用的OTDR测试系统需要事先设定好大量测试参数，测试参数众多并且同样的参数在不同的拓扑下测试的效果差别很大，需用人为调整参数才能得到更佳的测试效果，对测试人员有较高的专业要求。可见，相关技术中，存在测试系统(例如，OTDR测试系统)对测试人员有较高的专业要求的问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种测试参数处理方法、装置及测试器，以至少解决相关技术中OTDR测试系统...
【技术保护点】
一种测试参数处理方法，其特征在于，包括：确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离；根据所述测试距离，确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的脉宽；根据确定的所述测试距离，确定的所述脉宽，以及用于确定所述测试器的测试参数的预定规则，确定所述测试器的测试参数。
【技术特征摘要】
1.一种测试参数处理方法，其特征在于，包括：确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离；根据所述测试距离，确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的脉宽；根据确定的所述测试距离，确定的所述脉宽，以及用于确定所述测试器的测试参数的预定规则，确定所述测试器的测试参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定所述测试事件所在位置与所述测试器之间的所述测试距离之前，还包括：根据对所述测试事件进行测试的预先存储的测试结果，确定所述测试事件所在的位置。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述测试距离，确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的所述脉宽包括：根据所述测试距离，确定满足所述测试距离的脉宽范围；根据确定的所述脉宽范围，确定所述脉宽。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据确定的所述测试距离，确定的所述脉宽，以及用于确定所述测试器的测试参数的预定规则，确定所述测试器的测试参数之前，还包括：确定对所述测试事件进行测试的测试类型对应的所述预定规则。5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述测试参数包括以下至少之一...
【专利技术属性】
技术研发人员：柏煜轩，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
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