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本发明提供了一种测试参数处理方法、装置及测试器，该方法包括：确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离；根据所述测试距离，确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的脉宽；根据确定的所述测试距离，确定的所述脉宽，以及用于确定所述测试器的...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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