检测工装制造技术

本申请实施例提供一种检测工装，包括：用于放置待检测电路板的第一支架、设置有检测探针第二支架以及连接所述第一支架与所述第二支架的导向结构；所述导向结构引导所述第一支架与所述第二支架靠近，使所述待检测电路板的待检测点与所述检测探针电连接，以根据所述检测探针输出的电信号确定对所述待检测电路板的检测结果，缩短了检测时间，提高了待检测电路板的生产效率。

Test tooling

Including the embodiment of the application provides a detection tool, for the first bracket, place a detection circuit board is provided with a detection probe second bracket and a guide structure is connected with the first bracket and the second bracket; the guide structure guides the first bracket and the second bracket near the point to be detected, the the detection circuit board is electrically connected with the detection probe, to determine the detection results of the detection circuit board according to the electrical signal output of the detection probe, shorten detection time, improve the production efficiency for circuit board detection rate.

【技术实现步骤摘要】
检测工装
本申请实施例涉及电路板检测
，尤其涉及一种检测工装。
技术介绍
在印制电路板(PCB板)制作完成后，需要对PCB板的各项特性进行检测，以保证印制电路板是否符合标准，而PCB板的绝缘特性是一项重要特性。现有技术中，主要使用万用表来检测PCB板的绝缘特性。在使用万用表进行检测时，需要通过人工操作，对PCB板的多个待检测点进行检测，才能确定PCB板的绝缘特性是否达标，使得检测过程花费的时间长，极大的影响了PCB板的生产效率。
技术实现思路
本申请实施例的目的在于提供一种检测工装，用以至少解决现有技术中的上述问题。本申请实施例提供一种检测工装，包括：用于放置待检测电路板的第一支架、设置有检测探针第二支架以及连接所述第一支架与所述第二支架的导向结构；所述导向结构引导所述第一支架与所述第二支架靠近，使所述待检测电路板的待检测点与所述检测探针电连接，以根据所述检测探针输出的电信号确定对所述待检测电路板的检测结果。在本申请任一实施例中，还包括：支撑底座，所述支撑底座设置在所述第二支架远离所述检测探针的一侧，用于支撑所述第二支架。在本申请任一实施例中，所述导向结构一端固定在第二支架上，另一端与所述第一支架滑动连接，以支撑所述第一支架，并引导所述第一支架靠近所述第二支架。在本申请任一实施例中，所述第一支架上设置有支撑部以及让位孔，所述让位孔与所述待检测电路板的形状适配，所述支撑部与所述让位孔配合以支撑所述待检测电路板。在本申请任一实施例中，所述让位孔的形状为类长方形，所述支撑部设置在所述让位孔的拐角处。在本申请任一实施例中，所述第一支架上设置有限位块，所述限位块用于限制所述待检测电路板在所述第一支架上的位置。在本申请任一实施例中，所述限位块滑动设置在所述第一支架上用于放置所述待检测电路板的一侧面，所述限位块滑动至与所述待检测电路板的一侧接触以限制所述待检测电路板的移动，或，所述限位块滑动至与所述待检测电路板分离以取消对所述待检测电路板移动的限制。在本申请任一实施例中，所述限位块的数量至少为两个，分别设置在所述第一支架上用于放置所述待检测电路板的一侧面，并分别位于所述待检测电路板的两侧。在本申请任一实施例中，所述限位块为U型结构。在本申请任一实施例中，所述导向结构为轴承，所述轴承上设置有回弹机构，使所述第一支架和/或所述第二支架回弹至设定位置。在本申请任一实施例中，所述第一支架或所述第二支架上设有位置传感器，用于感应所述第一支架与所述第二支架之间的距离。在本申请任一实施例中，所述第二支架上设置有探针底座，所述探针底座上设置有所述检测探针，所述检测探针与所述待检测电路板的待检测点的位置适配。在本申请任一实施例中，所述待检测电路板的待检测点包括公共检测点以及至少一个绝缘检测点；所述检测探针包括公共检测探针以及至少一个绝缘检测探针；所述公共检测探针用于向所述公共检测点增加预设电压，所述绝缘检测探针用于输出所述绝缘检测点对应的电信号。在本申请任一实施例中，还包括：处理模块，所述处理模块与所述检测探针电连接，用于根据所述检测探针输出的电信号确定所述检测结果。在本申请任一实施例中，还包括：蜂鸣器、指示灯、显示屏中的任一种或多种的组合，所述蜂鸣器、指示灯、显示屏中的任一种或多种的组合与所述处理模块电连接，用于输出所述检测结果。本申请实施例提供的检测工装，包括：用于放置待检测电路板的第一支架、设置有检测探针第二支架以及连接所述第一支架与所述第二支架的导向结构；所述导向结构引导所述第一支架与所述第二支架靠近，使所述待检测电路板的待检测点与所述检测探针电连接，以根据所述检测探针输出的电信号确定对所述待检测电路板的检测结果，无需再通过人工操作进行测试，缩短了检测时间，提高了待检测电路板的生产效率。附图说明图1A为本申请实施例一提供的一种检测工装结构示意图；图1B为本申请实施例一提供的一种检测工装的结构示意图；图1C为本申请实施例一提供的一种检测工装的结构示意图；图2为本申请实施例提供的一种现有技术中待检测电路板的结构示意图；图3A为本申请实施例二提供的一种放置待检测电路板后的检测工装结构示意图；图3B为本申请实施例二提供的另一种放置待检测电路板后的检测工装结构示意图；图4为本申请实施例三提供的一种检测工装的结构示意图；图5为本申请实施例四提供的一种检测工装操作流程图；图6为本申请实施例四中的一种PLC梯形图；图7为本申请实施例四中的另一种PLC梯形图；图8为本申请实施例四中的再一种PLC梯形图。具体实施方式以下将配合图式及实施例来详细说明本申请的实施方式，藉此对本申请如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。图1A为本申请实施例一提供的一种检测工装结构示意图，图1B为本申请实施例一提供的一种检测工装的结构示意图，图1C为本申请实施例一提供的一种检测工装的结构示意图，如图1A、图1B、图1C所示，其包括：用于放置待检测电路板的第一支架11、设置有检测探针121的第二支架12以及连接所述第一支架11与所述第二支架12的导向结构13；所述导向结构13引导所述第一支架11与所述第二支架12靠近，使所述待检测电路板的待检测点与所述检测探针121电连接，以根据所述检测探针121输出的电信号确定对所述待检测电路板的检测结果，图中仅以黑点示例性地标出检测探针121的设置位置，探针的具体形状可参考现有技术。本实施例中，所述第一支架11上设置有支撑部111以及让位孔112，所述让位孔112与所述待检测电路板的形状适配，所述支撑部111与所述让位孔112配合以支撑所述待检测电路板。让位孔112的形状可以根据待检测电路板的外观特性决定，让位孔112与支撑部111配合可以放置并支撑置待检测电路板，同时让位孔112的存在为待检测点与检测探针121的接触留出了位置，方便进行检测。具体的，本实施例中，由于待检测电路板的形状为类长方形，则所述让位孔112的形状为类长方形。所述支撑部111可以包括多个，多个支撑部111分别设置在所述让位孔112的拐角处。图2为本申请实施例提供的一种现有技术中待检测电路板的结构示意图，如图2所示，所述待检测电路板为类长方形的PCB板，则所述让位孔112的形状为类长方形，如前所述，所述支撑部111可以包括多个，多个支撑部111分别设置在所述让位孔112的拐角处。当然，图2中仅以待检测PCB板进行举例说明，本申请提供的检测工装可以还适用于封装后的芯片、加工完成的电子部件如U盘等，本实施例在此不进行限定。本实施例中，所述第一支架11上设置有限位块，所述限位块用于限制所述待检测电路板在所述第一支架11上的位置，限位块具体可以为下述的第一限位块113以及第二限位块114。具体的，在通过上述让位孔112放置待检测电路板后，通过限位块进一步将待检测电路板固定在第一支架11上，从而保证后续测量时待检测电路板的稳定。再结合图1B、图1C所示，所述限位块可以滑动设置在所述第一支架11上用于放置所述待检测电路板的一侧面。图3A为本申请实施例二提供的一种放置待检测电路板后的检测工装结构示意图，图3B为本申请实施例二提供的另一种放置待检测电路板后的检测工装结构示意图。如图3A、图3B所示，在放置待检测电路板后，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测工装，其特征在于，包括：用于放置待检测电路板的第一支架、设置有检测探针的第二支架以及连接所述第一支架与所述第二支架的导向结构；所述导向结构引导所述第一支架与所述第二支架靠近，使所述待检测电路板的待检测点与所述检测探针电连接，以根据所述检测探针输出的电信号确定对所述待检测电路板的检测结果。

【技术特征摘要】
1.一种检测工装，其特征在于，包括：用于放置待检测电路板的第一支架、设置有检测探针的第二支架以及连接所述第一支架与所述第二支架的导向结构；所述导向结构引导所述第一支架与所述第二支架靠近，使所述待检测电路板的待检测点与所述检测探针电连接，以根据所述检测探针输出的电信号确定对所述待检测电路板的检测结果。2.根据权利要求1所述的检测工装，其特征在于，还包括：支撑底座，所述支撑底座设置在所述第二支架远离所述检测探针的一侧，用于支撑所述第二支架。3.根据权利要求1所述的检测工装，其特征在于，所述导向结构一端固定在第二支架上，另一端与所述第一支架滑动连接，以支撑所述第一支架，并引导所述第一支架靠近所述第二支架。4.根据权利要求1所述的检测工装，其特征在于，所述第一支架上设置有支撑部以及让位孔，所述让位孔与所述待检测电路板的形状适配，所述支撑部与所述让位孔配合以支撑所述待检测电路板。5.根据权利要求4所述的检测工装，其特征在于，所述让位孔的形状为类长方形，所述支撑部设置在所述让位孔的拐角处。6.根据权利要求1所述的检测工装，其特征在于，所述第一支架上设置有限位块，所述限位块用于限制所述待检测电路板在所述第一支架上的位置。7.根据权利要求6所述的检测工装，其特征在于，所述限位块滑动设置在所述第一支架上用于放置所述待检测电路板的一侧面，所述限位块滑动至与所述待检测电路板的一侧接触以限制所述待检测电路板的移动，或，所述限位块滑动至与所述待检测电路板分离以取消对所述待检测电路板移动的限制。8...

【专利技术属性】
技术研发人员：李超，田志峰，
申请(专利权)人：纳恩博天津科技有限公司，
类型：发明
国别省市：天津,12