阵列基板及阵列基板测试结构制造技术
Test structure of array substrate and array substrate
The invention discloses an array substrate, the array substrate includes a display area and a non display area, the non display area is provided with a plurality of test signal pins, multiple pressing pins and a plurality of transmission lines, the test signal receiving pins and the pressing pins arranged in a row. The array substrate of the invention reduces the width of the non display area of the electronic device, and is convenient for the design of the narrow frame of the electronic device.
【技术实现步骤摘要】
阵列基板及阵列基板测试结构
本专利技术涉及触控
，尤其涉及一种阵列基板及阵列基板测试结构。
技术介绍
随着科学技术的不断发展，越来越多的具有显示功能的电子装置被广泛的应用于人们的日常生活以及工作当中，为人们的日常生活以及工作带来了巨大的便利，成为当今人们不可或缺的重要工具。电子装置通常包括阵列基板。阵列基板包括非显示区以及显示区。显示区通常设置用于驱动电子装置工作的功能线路，比如触控电极等。非显示区围绕所述显示区设置，通常用于设置测试引脚等。电子装置的制作过程要将阵列基板与液晶层以及彩膜基板进行成盒，封装。而在成盒之后或者成盒之前一般会对阵列基板的功能线路进行短路或断路的测试。为了对阵列基板进行测试，传统方式是在阵列基板的非显示区域中出引脚的端口设置专门测试阵列基板功能线路短路或断路的测试开关电路及专门的测试信号输入端子。为方便扎探针，测试开关电路信号输入端子的体积往往比较大(单个端子400um×400um，共有10～20个)，会占用较大空间，不便于电子装置的窄边框设计。
技术实现思路
本专利技术提供一种阵列基板。一种阵列基板，所述阵列基板包括显示区及非显示区，...
【技术保护点】
一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括显示区及非显示区，所述非显示区设置有多个测试信号接收引脚、多个压合引脚以及多个传输线，所述测试信号接收引脚与所述压合引脚排列成一排。
【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括显示区及非显示区，所述非显示区设置有多个测试信号接收引脚、多个压合引脚以及多个传输线，所述测试信号接收引脚与所述压合引脚排列成一排。2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试信号接收引脚与所述压合引脚尺寸一致。3.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述压合引脚用于连接COF模块，所述测试信号传输线电连接所述测试电路及测试信号接收引脚，多个所述测试信号接收引脚用于接收N个测试信号，并将N个所述测试信号经由所述测试信号传输线传输至所述测试电路，所述测试电路设置于所述非显示区邻近所述显示区的一端，用于根据N个所述测试信号得到M个测试信号，并将M个测试信号传输至所述显示区中的功能线路，以检测所述功能线路是否短路或者断路，所述测试电路与所述非显示区远离所述显示区的一端的距离小于或等于预设距离，其中，N和M均为正整数，且M大于N。4.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试信号接收引脚设置在所述压合引脚的左右两侧位置上，并与所述压合引脚呈直线排列成一排。5.如权利要求1所述的阵列基板，...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄耀立，贺兴龙，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42
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