用于测试模拟信号的系统技术方案

本发明专利技术提供一种用于测试模拟信号的系统，所述系统包括参考信号生成装置、多个比较装置以及存储装置，其中，所述参考信号生成装置用于生成参考信号；所述比较装置的数量与待测信号的数量相同，每个比较装置分别用于将一个待测信号与所述参考信号进行比较并生成比较结果信号；以及所述存储装置用于存储基于所述比较结果信号的测量结果并串行输出所述测量结果。本发明专利技术所提供的用于测试模拟信号的系统可以同时测量多个待测信号，减少测试时间，并且由于采用存储装置存储并串行输出测量结果，因此能够减少测试操作所需的焊盘，从而降低测试操作的复杂性。

A system used to test analog signals

The present invention provides a system for testing the analog signal, the system includes a reference signal generating device, a comparing device and a storage device, wherein, the reference signal generating device for generating a reference signal; the number of the comparison device and the signal number of the same amount of each device are respectively used to compare a signal to be measured and the reference signal is compared and generates a comparison result signal; and the storage device for storage based on the comparison results of signal and serial output of the measurement results. The invention provides a system for testing the analog signal can be measured at the same time a number of the detected signal, reduce test time, and the storage device stores and serial output measurement results, so it can reduce the required test pad operation, thereby reducing the complexity of test operation.

【技术实现步骤摘要】
用于测试模拟信号的系统
本专利技术涉及集成电路
，具体而言涉及一种用于测试模拟信号的系统。
技术介绍
随着工艺尺寸的不断缩小，芯片上面集成的电路越来越多，功能也变得越来越复杂，芯片测试所需要的I/O焊盘(PAD)也会随之增加，而PAD之间有严格的尺寸限制，一定长度的PAD数目非常有限，给芯片测试造成了很大的困难。传统的测量模拟信号电压的方式是将模拟信号接到PAD测量。随着电路复杂度的增加，会需要很多的PAD，测试时间将随着信号数目的增加而增加，同时增加了测试操作的复杂性，也会给测试的准确性造成影响。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本专利技术提供一种用于测试模拟信号的系统，其特征在于，所述系统包括参考信号生成装置、多个比较装置以及存储装置，其中，所述参考信号生成装置用于生成参考信号；所述比较装置的数量与待测信号的数量相同，每个比较装置分别用于将一个待测信号与所述参考信号进行比较并生成比较结果信号；以及所述存储装置用于存储基于所述比较结果信号的测量结果并串行输出所述测量结果。在本专利技术的一个实施例中，所述参考信号生成装置进一步用于生成在预定基准信号范围内按照预定增量进行变化的阶梯参考信号。在本专利技术的一个实施例中，当所述待测信号在所述预定基准信号范围内时，所述测量结果包括使所述比较装置输出的比较结果信号发生跳变时的阶梯参考信号。示例性地，当所述待测信号在所述预定基准信号范围内时，所述测量结果进一步为使所述比较装置输出的比较结果信号发生跳变时的阶梯参考信号在预定基准信号的基础上按照所述预定增量所变化的次数。在本专利技术的一个实施例中，当所述待测信号不在所述预定基准信号范围内时，所述测量结果为所述比较装置的比较结果信号。示例性地，所述比较结果信号包括第一信号和第二信号，所述第一信号指示所述待测信号小于所述预定基准信号范围的最小值，所述第二信号指示所述待测信号大于所述预定基准信号范围的最大值。在本专利技术的一个实施例中，所述存储装置包括锁存器和存储器，所述锁存器锁存所述测量结果并将所述测量结果写入到所述存储器，所述存储器在读使能时串行输出所述测量结果。在本专利技术的一个实施例中，所述参考信号生成装置由分压电路实现。示例性地，所述分压电路包括多个串联连接的电阻。在本专利技术的一个实施例中，所述比较装置由运算放大器实现。本专利技术所提供的用于测试模拟信号的系统可以同时测量多个待测信号，减少测试时间，并且由于采用存储装置存储并串行输出测量结果，因此能够减少测试操作所需的焊盘，从而降低测试操作的复杂性。附图说明本专利技术的下列附图在此作为本专利技术的一部分用于理解本专利技术。附图中示出了本专利技术的实施例及其描述，用来解释本专利技术的原理。附图中：图1示出了现有的测试模拟信号的示例性电路；图2示出了根据本专利技术实施例的用于测试模拟信号的系统的结构示意图；图3示出了根据本专利技术实施例的用于测试模拟信号的系统的示例性电路；图4示出了图3所示电路的工作流程示意图；以及图5示出了图3所示电路的仿真结果示意图。具体实施方式在下文的描述中，给出了大量具体的细节以便提供对本专利技术更为彻底的理解。然而，对于本领域技术人员而言显而易见的是，本专利技术可以无需一个或多个这些细节而得以实施。在其他的例子中，为了避免与本专利技术发生混淆，对于本领域公知的一些技术特征未进行描述。应当理解的是，本专利技术能够以不同形式实施，而不应当解释为局限于这里提出的实施例。相反地，提供这些实施例将使公开彻底和完全，并且将本专利技术的范围完全地传递给本领域技术人员。在此使用的术语的目的仅在于描述具体实施例并且不作为本专利技术的限制。在此使用时，单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也意图包括复数形式，除非上下文清楚指出另外的方式。还应明白术语“组成”和/或“包括”，当在该说明书中使用时，确定所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或部件的存在，但不排除一个或更多其它的特征、整数、步骤、操作、元件、部件和/或组的存在或添加。在此使用时，术语“和/或”包括相关所列项目的任何及所有组合。为了彻底理解本专利技术，将在下列的描述中提出详细的步骤以及详细的结构，以便阐释本专利技术提出的技术方案。本专利技术的较佳实施例详细描述如下，然而除了这些详细描述外，本专利技术还可以具有其他实施方式。图1示出了现有的测试模拟信号的示例性电路100。如图1所示，该测试模拟信号的示例性电路100包括多路复用器104和比较器106。其中，电路100在经电源108上电后，多路复用器104在选择信号110的控制下从多个待测信号102中选择一个待测信号输入到比较器106；比较器106在使能信号114的控制下将多路复用器104所选择的一个待测信号与参考信号112进行比较，并直接输出比较结果116作为测量结果。对于图1所示的测试模拟信号的电路100，由于运用多路复用器选择一个待测信号，因此每次仅能测试一个待测信号。随着电路复杂度的增加，待测信号的数目随之增加，如采用图1所示的电路100，测试时间也将随着待测信号数目的增加而增加。此外，随着电路复杂度的增加，所需要的PAD的数目也随之增加，这将增加测试操作的复杂性，也会给测试的准确性造成影响。而且，运用多路复用器选择待测信号并逐个进行模数转换，对于新的工艺节点，需要重新设计电路并仿真以保证电路的功能，这将增加电路的复杂程度，并增加测量所需的时间。为了克服上述缺陷，本专利技术提供一种用于测试模拟信号的系统。图2示出了根据本专利技术实施例的用于测试模拟信号的系统200的结构示意图。如图2所示，系统200包括参考信号生成装置201、多个比较装置202(1)～202(n)以及存储装置203。其中，参考信号生成装置201用于生成参考信号，该参考信号用于输入到比较装置202以与待测信号进行比较。比较装置202的数量取决于待测信号的数量，例如当包括n个待测信号1～n时，比较装置202的数量为n，例如如图2所示的比较装置202(1)～202(n)，其中n为大于1的自然数。每个比较装置202分别用于将一个待测信号与参考信号进行比较并各自生成比较结果的信号1～n。存储装置203用于存储基于多个比较装置202各自的比较结果信号的测量结果，并在使能信号(未在图2中示出)的控制下串行地输出测量结果。示例性地，该测量结果可以为比较装置202的比较结果信号。可替代地，该测量结果可以为基于多个比较结果信号的其他信号，例如在某比较结果信号下的参考信号等，稍后会进行更详细的描述。由于用于测试模拟信号的系统200包括与待测信号数目相同的比较装置，因此可以同时大批量的测试多个待测信号，大大减少了测试时间。此外，由于采用存储装置存储多个测量结果，并将多个测量结果串行输出，因此可以大大减少所需要的PAD的数目，实现利用有限的I/OPAD测量大量的信号，大大降低了测试操作的复杂性。根据本专利技术的一个实施例，参考信号生成装置201可以进一步用于生成在预定基准信号范围内按照预定增量进行变化的阶梯参考信号。示例性地，预定基准信号范围可以包括从第一基准信号到第二基准信号的范围，其中第一基准信号小于第二基准信号。参考信号生成装置201可以生成在第一基准信号的基础上按照预定的增量(步进值)增大的阶梯参考信号，或者在第二基准信号的基础上按照预定的增量减小的阶梯参考信号。这样，可以提高参考信号(参考本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试模拟信号的系统，其特征在于，所述系统包括参考信号生成装置、多个比较装置以及存储装置，其中，所述参考信号生成装置用于生成参考信号；所述比较装置的数量与待测信号的数量相同，每个比较装置分别用于将一个待测信号与所述参考信号进行比较并生成比较结果信号；以及所述存储装置用于存储基于所述比较结果信号的测量结果并串行输出所述测量结果。

【技术特征摘要】
1.一种用于测试模拟信号的系统，其特征在于，所述系统包括参考信号生成装置、多个比较装置以及存储装置，其中，所述参考信号生成装置用于生成参考信号；所述比较装置的数量与待测信号的数量相同，每个比较装置分别用于将一个待测信号与所述参考信号进行比较并生成比较结果信号；以及所述存储装置用于存储基于所述比较结果信号的测量结果并串行输出所述测量结果。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述参考信号生成装置进一步用于生成在预定基准信号范围内按照预定增量进行变化的阶梯参考信号。3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，当所述待测信号在所述预定基准信号范围内时，所述测量结果包括使所述比较装置输出的比较结果信号发生跳变时的阶梯参考信号。4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，当所述待测信号在所述预定基准信号范围内时，所述测量结果进一步为使所述比较装置输出的比较结果信号发生跳变时的阶梯参考信号在预定基准信号的基础上...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨家奇，王克涛，郑荣乐，黄正太，黄正乙，
申请(专利权)人：中芯国际集成电路制造上海有限公司，中芯国际集成电路制造北京有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31