The invention discloses a test method of BBU discharge, relates to a storage system, by writing test scripts, the test script can invoke the implementation and the test script to execute permissions; using the test script, cycle test of BBU discharge function, and the test execution results log; its implementation the steps include: 1) BBU high end DHG discharge enable FET; 2) open system power down test, read the current BBU discharge current value; 3) to determine whether the abnormal discharge current; 4) to stop the power down system testing; 5) 1000 cycles. This method can realize the cyclic test of BBU discharge, greatly improve the test efficiency and save a lot of human resources. It can test whether the BBU discharge function is normal, so as to ensure that the data in the storage system is not lost when the system is down, improving the system performance.
【技术实现步骤摘要】
一种BBU循环放电的测试方法
本专利技术涉及存储系统领域,具体的说是一种BBU循环放电的测试方法。
技术介绍
通常,计算机的存储系统包含存放程序和数据的各种存储设备、控制部件及管理信息调度的设备和算法,存储系统的性能在计算机中的地位日趋重要。存储系统需要具备数据保护功能,许多存储设备都会配备BBU(BatteryBackupUnit,电池备份单元)。在电源AC断电的情况下,由BBU放电来维持存储系统正常运行数据落盘,从而确保存储系统中数据不丢失。为了保证BBU在AC断电的情况下能够放电,需要对BBU的放电功能进行大量测试,甚至达到上千次测试。
技术实现思路
本专利技术针对目前技术发展的需求和不足之处,提供一种BBU循环放电的测试方法。本专利技术所述一种BBU循环放电的测试方法,解决上述技术问题采用的技术方案如下:所述BBU循环放电的测试方法,通过编写测试脚本,确定测试脚本能够调用执行,并对测试脚本赋予执行权限;使用该测试脚本,对BBU放电功能进行循环测试,并将测试执行结果写入日志。优选的,该BBU循环放电的测试方法,其具体实现步骤包括:1)拉高BBU放电使能端DHGFET;2)开启系统掉电测试,读取当前BBU放电电流值;3)判断放电电流是否异常;4)停止系统掉电测试;5)大量循环上述操作。优选的,对BBU循环放电测试,循环1000次。本专利技术所述一种BBU循环放电的测试方法,与现有技术相比具有的有益效果是:本方法能够实现BBU放电的循环测试,极大提高了测试效率,节省了大量人力资源;通过本方法,能够测试BBU放电功能是否正常,进而保证存储系统内数据在系统掉电时 ...
【技术保护点】
一种BBU循环放电的测试方法,其特征在于, 通过编写测试脚本,确定所述测试脚本能够调用执行,并对测试脚本赋予执行权限;使用所述测试脚本,对BBU放电功能进行循环测试,并将测试执行结果写入日志。
【技术特征摘要】
1.一种BBU循环放电的测试方法,其特征在于,通过编写测试脚本,确定所述测试脚本能够调用执行,并对测试脚本赋予执行权限;使用所述测试脚本,对BBU放电功能进行循环测试,并将测试执行结果写入日志。2.根据权利要求1所述一种BBU循环放电的测试方法,其特征在于,使用所述测试脚本,对BBU放电功能进行循环测试,其具体实现步骤包括:1)拉高BBU放电使能端DHGFET;2)开启系统掉电测试,读取当前BBU放电电流值;3)判断放电电流是否异常;4)停止系统掉电测试;5)大量循环上述操作。3.根据权利要求2所述一种BBU循环放电的测试方法,其特征在于,所述步骤5),循环1000次。4.根据权利要求2所述一种BBU循环放电的测试方法,其特征在于,所述测试脚本具体如下:#!/bin/bash#查看并确保DHGFETBBU放电使能端打开FET_STAT=$((`i2cctl-b0rw,0xb,0x46`))if((($FET_STAT&2)=...
【专利技术属性】
技术研发人员:李佳颖,
申请(专利权)人:郑州云海信息技术有限公司,
类型:发明
国别省市:河南,41
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