用于控制原子发射光谱仪的设备和方法技术
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于控制原子发射光谱仪的设备和方法
本专利技术涉及用于火花或原子发射光谱仪(AES)的控制器的领域，确切地说，涉及火花产生器的控制器。具体来说，本专利技术涉及建立AES的安全操作。
技术介绍
火花或原子发射光谱测定(也称为光学发射光谱学)为用于分析样品的众所周知的技术。使固态样品经受火花或放电，这使样品的一部分汽化且将原子和离子促成为激发态。在受激原子和离子弛豫为较低能量状态期间发射光，其中对放出的光的后续光谱分析提供关于样品的材料组成的信息。火花或电弧原子发射光谱仪(AES)通常包括具有样品固持器的火花架(或火花台)，所述样品固持器由用于安装样品的接收器板或分析台组成。接收器板可以接地或保持在固定电压下，且含有通向下部的气室的孔口。大于孔口的样品可以安装在孔口上方以在样品与接收器板之间形成气密密封。优选地，使用夹具来将样品牢固地固持在孔口上方的适当位置，且将样品紧固到接收器板。AES的电极布置于气室中，接近于板的孔口但与其间隔开。将电压施加到电极在电极与板或样品之间引起火花或电弧。这使得样品的经由板的孔口而曝露于火花的部分将汽化或消融。为避免光学光谱掺杂，样品在...
【技术保护点】
一种用于建立原子发射光谱仪(AES)的安全操作以分析布置在所述AES的样品固持器上的样品的控制器，所述控制器经配置以：接收指示所述样品在所述样品固持器上的布置的两个或多于两个测试参数中的每一个的测量值；以及比较所述两个或多于两个测试参数中的每一个与每一测试参数的目标值范围以确定所述样品是否正确地布置在所述样品固持器上。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.11.07 GB 1419888.11.一种用于建立原子发射光谱仪(AES)的安全操作以分析布置在所述AES的样品固持器上的样品的控制器，所述控制器经配置以：接收指示所述样品在所述样品固持器上的布置的两个或多于两个测试参数中的每一个的测量值；以及比较所述两个或多于两个测试参数中的每一个与每一测试参数的目标值范围以确定所述样品是否正确地布置在所述样品固持器上。2.根据权利要求1所述的控制器，所述控制器进一步经配置以在所述两个或多于两个测试参数中的一个或多个不在所述测试参数的所述目标值范围内的情况下，停用所述AES的电极。3.根据权利要求1或2所述的控制器，其中所述两个或多于两个测试参数中的每一个是选自由以下各者组成的群组：取决于所述样品固持器处的第一端子与第二端子之间的所述电流的电参数；容纳所述AES的电极的气室中的气体压力；所述样品固持器的一部分的位移。4.根据权利要求1到3中任一权利要求所述的控制器，其中所述两个或多于两个测试参数是不相同的测试参数。5.根据权利要求3或4所述的控制器，其中所述两个或多于两个测试参数中的至少一个为所述电参数。6.根据权利要求5所述的控制器，其中所述第一端子在所述样品固持器的样品接收器处，且所述第二端子在所述样品固持器的夹持元件处，所述夹持元件用于将所述样品紧固到所述样品固持器的样品接收器。7.根据权利要求5或6中任一权利要求所述的控制器，其中所述控制器进一步经配置以起始所述第一端子与所述第二端子之间的电流。8.根据权利要求5到7中任一权利要求所述的控制器，其中所述电参数为阻抗。9.根据权利要求3或4所述的控制器，其中所述两个或多于两个测试参数中的至少一个为所述气体压力。10.根据权利要求9所述的控制器，其中所述气体压力是在经过一段时间间隔之后测量。11.根据权利要求3或4所述的控制器，其中所述两个或多于两个测试参数中的至少一个为所述位移。12.根据权利要求11所述的控制器，其中所述位移等于在第一时间测得的所述样品固持器的夹持元件的第一位置与在第二时间测得的所述样品固持器的所述夹持元件的第二位置之间的差，所述夹持元件用于将所述样品紧固到所述样品接收器。13.根据权利要求11或12所述的控制器，其中所述位移为所述夹持元件的角位移。14.根据权利要求2或在附属于权利要求2时根据权利要求3到13所述的控制器，其中停用所述电极包括控制开关以调节穿过所述电极的高电压电流。15.根据前述权利要求中任一权利要求所述的控制器，其进一步经配置以在激励所述电极时提供提供视觉指示符。16.一种原子发射光谱仪(AES)，其包括根据权利要求1到15中...
【专利技术属性】
技术研发人员：R·法卡斯，T·玛乌拉斯，
申请(专利权)人：塞莫费雪科学埃居布朗有限公司，
类型：发明
国别省市：瑞士,CH
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