【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】发射光谱法的改进
[0001]本专利技术涉及发射光谱法领域。特别地，本专利技术涉及对发射光谱仪中的吹扫气体的控制进行的改进。
技术介绍
[0002]发射光谱法是众所周知的用于分析样品的技术。该技术用于确定样品的组成分子或原子。当被激发到高能态的原子弛豫到低能态或基能态时，就会发射光子。发射光子的波长与原子弛豫的激发态和原子衰变到的弛豫态之间的能隙相关。不同种类的原子具有不同的原子发射光谱，因此光谱的检测可用于确定样品的成分。
[0003]所谓发射谱线一般在电磁光谱的红外、可见和紫外波段。可以通过设置摄谱仪以检测电磁光谱的不同波长的辐射。研究人员对检测紫外区域内的原子发射谱线特别感兴趣。紫外线(UV)辐射是位于光谱的可见光和X射线区域之间的电磁辐射，通常介于380nm和5nm之间。真空紫外(VUV)辐射是光谱中紫外区域的一部分，小于200nm。为了获得样品中各种元素的信息，光谱仪必须能够将波长低于200nm，尤其是低于190nm的光子从样品传输到检测器，因为许多元素在弛豫到较低能量状态时会在该波长范围内发射光子。用于定...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于控制通过光谱仪的气体流量的方法，包括：使气体通过所述光谱仪的内部，其中来自样品的光可以沿着第一路径穿过所述内部以到达第一检测器，并且所述气体对所述光谱仪分析的光谱区域内的光是透明的；将来自光源的光沿着第二路径通过所述气体传输到第二检测器；在所述第二检测器处检测来自所述光源的光在所述光的一个或多个波长处的强度；将所述检测到的光强度与对应于所述光谱仪的所述内部的所述气体的期望透射率的相应设定值进行比较，并基于所述比较产生至少一个误差信号；以及基于所述误差信号调整所述气体通过所述光谱仪的内部的流速。2.根据权利要求1所述的方法，其中调节通过所述光谱仪的所述内部的所述气体的流速以使所述检测强度和设定值之间的差异最小。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述光谱仪为发射光谱仪，优选为火花发射光谱仪或LIBS光谱仪。4.根据任一前述权利要求所述的方法，其中所述第二路径在所述光谱仪的所述内部。5.根据任一前述权利要求所述的方法，其中所述第二路径在与所述内部流体连通的测量单元内。6.根据权利要求5所述的方法，其中所述测量单元通过闭环流体回路与所述内部流体连通。7.根据任一前述权利要求所述的方法，其中所述第二路径是通过所述气体的单程路径。8.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其中所述第二路径包括通过所述气体的多程路径。9.根据任一前述权利要求所述的方法，其中所述光是VUV光或近IR(NIR)光。10.根据任一前述权利要求所述的方法，其中在单个波长或单个波长带处检测所述光的强度。11.根据权利要求1至9中任一项所述的方法，其中在两个或更多个非连续波长或两个或更多个非连续波长带处检测所述光的强度。12.根据任一前述权利要求所述的方法，其中在水和/或分子氧的一个或多个吸收波长处检测所述光的强度。13.根据任一前述权利要求所述的方法，其中将检测到的所述光强度与对应的设定值进行比较、产生至少一个误差信号以及调整所述气体流速的步骤是使用比例积分微分(PID)控制来执行的。14.一种发射光谱法，在光谱仪中包括以下步骤：提供待分析的样品；激发所述样品发光；使用具有第一检测器的摄谱仪对所述发射光进行光谱分析，以确定所述样品中的一种或多种元素，其中所述发射光沿着第一路径穿过内部以到达所述第一检测器；使基本上UV透明的气体通过所述内部；以及使用根据权利要求1至13中任一项所述的方法控制通过所述内部的基本上UV透明的气
流。15.一种用于控制通过光谱仪的气体流量的装置，包括：外壳，其包含内部，其中来自样品的光可以沿第一路径通过所述内部以到达第一检测器；气源，用于使基本上UV透明的气体通过所述内部；光源，用于沿第二路径通过所述气体传输光；第二检测器，用于检测来自所述光源的光在所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：P，
申请(专利权)人：塞莫费雪科学埃居布朗有限公司，
类型：发明
国别省市：
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