样品分析系统技术方案

提供的是一种用于从使用包括从荧光X射线分析仪，原子吸收光度计和电感耦合等离子体发射分析仪中选择的至少一个装置以及从红外分光光度计和拉曼分光光度计中选择的至少一个装置的多个分析装置获取的目标样品的测定数据识别目标样品的样品分析系统。该系统包括：用于保存使用分析装置对于每个参照物获取的测定数据的存储部；用于对于每个分析装置，比较目标样品的测定数据与参照物的测定数据并且用于确定目标样品与每个参照物的匹配度的测定数据比对部；用于从对于分析装置确定的匹配度计算综合匹配度的综合匹配度计算部；以及用于输出关于以综合匹配度的递减次序的预定数目的参照物的信息的比对结果输出部。

Sample analysis system

Provided is a used from use from X ray fluorescence analyzer, data analysis system for determination of target samples at least one device, emission analyzer, atomic absorption spectrophotometer and inductively coupled plasma analysis device and a plurality of at least one device spectrophotometer from infrared and Raman selection spectrophotometer the acquisition of the target samples. The system includes a storage unit is used to analyze the measured data stored for each reference device access; used for each analysis device, measurement data comparison target samples and the reference measurement data and used to determine the target sample and each reference, determining the degree of data comparison; for the comprehensive matching degree calculation section from the analysis of the matching degree determination device matching degree calculation; and comparison for the output reference on a predetermined number in descending order of the matching result of the information output.

【技术实现步骤摘要】
样品分析系统
本专利技术涉及用于通过比较目标样品的测定数据与参照物的测定数据识别目标样品的样品分析系统，其中目标样品的测定数据使用多种分析装置获取，该多种分析装置包括从都适合于无机物的分析的荧光X射线分析仪，原子吸收光度计和电感耦合等离子体发射分析仪中选择的至少一个装置，以及从都适合于有机物的分析的红外分光光度计和拉曼分光光度计中选择的至少一个装置。
技术介绍
如果其中混入了乙烯基，金属或者类似的异物的食品或者类似的产品被运送至市场，产品的可信赖性将显著地降低。因此，在工厂或者类似的设施中，进行产品的污染检查。如果在产品的检查中发现了异物，则分析该异物以确定所包含物质或元素的种类，数量及其他特性。随后通过使用参照物数据库识别异物以揭示其起源以及混入路径。适合于乙烯基或者类似的由有机物组成的异物的分析的分析装置是傅里叶变换红外分光光度计(FTIR)。在FTIR中，利用通过包括固定镜和移动镜的迈克尔逊干涉仪产生的干涉波照射异物，并且测定透射光或者反射光作为干涉图。通过傅立叶变换该干涉图，获取吸收光谱，横轴表示波数并且纵轴表示强度(例如吸光度或者透射率)。在吸收光谱上，红外吸收出现在对应于包含在异物中的各种物质的振动能或者转动能的量的波长处。因此，通过比较异物的吸收光谱图与预先存储在参照物数据库中的各种参照物的吸收光谱图，可以从包含的物质的类似性来识别异物(例如，参见专利文献1)。另一方面，适合于金属或者类似的包含无机物的异物的分析的分析装置是能量分散型荧光X射线分析仪(EDX)。在EDX中，利用X射线照射异物以获取荧光光谱。在荧光光谱上，X射线荧光峰值出现在各元素特有的能量位置上。因此，通过在荧光光谱上确定峰值位置可以识别包含在异物中的元素。识别出的元素的量可以通过两种方法确定：FP法(基本参数法)以及校准曲线法。在FP法中，各元素的定量值通过使用具有假设的主要成分的组成的理论公式再现X射线荧光的测定强度确定(例如，参见专利文献2或者3)。与需要通过测定多个具有相同组成和已知含量的标准样品来制定校准曲线的校准曲线法相比，FP法有利在这种任务是不必要的并且分析可以被轻易地进行。通过FP法确定的定量值通常被称为“半定量值”以将其与通过校准曲线法确定的精确的定量值相区分。通过比较由FP法确定的异物中元素的半定量值与包含在预先存储于参照物数据库的各种参照物中的元素的半定量值，可以从包含的物质的类似性识别异物。引用列表专利文献专利文献1：JP2001-74650A专利文献2：JP8-334481A专利文献3：JP2010-223908A
技术实现思路
技术问题关于既包含无机物又包含有机物的异物，传统的识别方法是比较使用FTIR获取的吸收光谱与存储在参照物数据库中的吸收光谱以及同样比较使用EDX获取的半定量确定结果与存储在参照物数据库中的半定量数值。使用FTIR的异物的识别主要基于有机物的匹配度，而使用EDX的异物的识别主要基于无机物的匹配度。因此，在一些情况下，通过FTIR的识别的结果不同于通过EDX的识别的结果。在这种情况下，分析操作员需要考虑使用两个装置获取的识别结果进行最终的判断。由于判断依赖于分析操作员的经验，不够熟练的操作员可能将相同的异物错误地识别为不同的物(例如，对无机物具有足够知识量的分析操作员，如果该操作员对有机物不具有足够的知识量，可能会错误地判断FTIR识别的结果)。上述FTIR和EDX的组合是分析装置的一个具体的实例。在一些情况下，原子吸收光度计或者电感耦合等离子体发射分析仪被用作对于无机物的分析的合适的装置。此外，拉曼分光光度计可以被用作对于有机物的分析的合适的装置。三个或者更多的装置也可以被同时用以分析异物。这些变体的任何一种同样具有上述问题。本专利技术要解决的问题是提供能够不用依赖于分析操作员的熟练度以及不管目标样品是否是有机物或者无机物，而正确地识别目标样品(例如，异物)的样品分析系统。问题的解决方案被研究用于解决前述问题的本专利技术是用于从使用多个分析装置获取的目标样品的测定数据来识别目标样品的样品分析系统，所述多个分析装置包括从荧光X射线分析仪，原子吸收光度计和电感耦合等离子体发射分析仪中选择的至少一个装置，以及从红外分光光度计和拉曼分光光度计中选择的至少一个装置，所述系统包含：a)存储部，使用每一个所述分析装置对于多个参照物中的每一个参照物所获取的测定数据被存储在所述存储部中；b)测定数据比对部，所述测定数据比对部用于对于每一个所述分析装置，比较所述目标样品的所述测定数据与所述多个参照物的所述测定数据，并且用于确定所述目标样品与所述多个参照物中的每一个参照物的匹配度；c)综合匹配度计算部，所述综合匹配度计算部用于通过综合对于所述多个分析装置确定的所述匹配度来对于所述多个参照物中的每一个参照物，计算综合匹配度；d)比对结果输出部，所述比对结果输出部用于输出关于以所述综合匹配度的递减次序的预定数目的所述参照物的信息。综合匹配度可以例如通过将对于各分析装置被确定的匹配度相加或者平均来确定。如同稍后将描述的那样，从测定数据确定的目标样品的性质同样可以反映在综合匹配度的计算中。关于通过比对结果输出部输出的参照物的信息的实例包括名称和参照物的测定数据。输出可以以任何一种恰当的形式产生，例如在显示单元的屏幕上的显示或者通过打印机的输出。在根据本专利技术的样品分析系统中，存储部保存预先存储的对于多个参照物使用多个分析装置对于多个参照物的每个获取的测定数据，该多个分析装置包括从都适合于无机物的分析的荧光xX射线分析仪，原子吸收光度计和电感耦合等离子体发射分析仪中选择的至少一个装置，以及从都适合于有机物的分析的红外分光光度计和拉曼分光光度计选择的至少一个装置。对于每个分析装置，系统比较目标样品的测定数据与每个参照物的测定数据，并且确定对于每个参照物的匹配度。此外，对于每个参照物，系统通过综合对于各分析装置被确定的匹配度来对于每个参照物计算综合匹配度，并且输出关于以综合匹配度的递减次序的预定数目的参照物的一条信息。利用该样品分析系统，关于预定数目的参照物的一条信息可以以综合匹配度的递减次序被获取而不需要分析操作员进行任何判断。因此，不用依赖于分析操作员的熟练度并且不管目标样品是否是有机物或者无机物，样品可以被正确地识别。在根据本专利技术的样品分析系统中，如果荧光X射线分析仪被包括在多个分析装置中，使用荧光X射线分析仪获取的测定数据包含与目标样品的康普顿散射线和瑞利散射线相关的数据。在使用荧光X射线分析仪的测定中，康普顿散射线的强度随着有机物(即由碳，氢，氧，氮和其他轻量元素组成的物质)的百分比的增加而增加，而瑞利散射线的强度随着无机物的百分比的增加而增加。因此，根据本专利技术的样品分析系统可以按照以下被配置：所述多个分析装置包括荧光X射线分析仪；所述系统进一步地包括：e)散射线强度比计算部，所述散射线强度比计算部用于从使用所述荧光X射线分析仪获取的所述目标样品的所述测定数据来计算康普顿散射线和瑞利散射线之间的强度比；和f)系数决定部，所述系数决定部用于基于所述强度比确定系数，所述系数用于加权与所述荧光X射线分析仪和所述红外分光光度计或者所述拉曼分光光度计相关的所述匹配度，以及所述综合匹配度计算部在将所述系数应用至本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种样品分析系统，其特征在于，所述样品分析系统用于从使用多个分析装置获取的目标样品的测定数据来识别所述目标样品，所述多个分析装置包括从荧光X射线分析仪，原子吸收光度计和电感耦合等离子体发射分析仪中选择的至少一个装置，以及从红外分光光度计和拉曼分光光度计中选择的至少一个装置，所述系统包含：a)存储部，使用每一个所述分析装置对于多个参照物中的每一个参照物所获取的测定数据被存储在所述存储部中；b)测定数据比对部，所述测定数据比对部用于对于每一个所述分析装置，比较所述目标样品的所述测定数据与所述多个参照物的所述测定数据，并且用于确定所述目标样品与所述多个参照物中的每一个参照物的匹配度；c)综合匹配度计算部，所述综合匹配度计算部用于通过综合对于所述多个分析装置确定的所述匹配度来对于所述多个参照物中的每一个参照物，计算综合匹配度；以及d)比对结果输出部，所述比对结果输出部用于输出关于以所述综合匹配度的递减次序的预定数目的所述参照物的信息。

【技术特征摘要】
2016.04.21 JP 2016-0849641.一种样品分析系统，其特征在于，所述样品分析系统用于从使用多个分析装置获取的目标样品的测定数据来识别所述目标样品，所述多个分析装置包括从荧光X射线分析仪，原子吸收光度计和电感耦合等离子体发射分析仪中选择的至少一个装置，以及从红外分光光度计和拉曼分光光度计中选择的至少一个装置，所述系统包含：a)存储部，使用每一个所述分析装置对于多个参照物中的每一个参照物所获取的测定数据被存储在所述存储部中；b)测定数据比对部，所述测定数据比对部用于对于每一个所述分析装置，比较所述目标样品的所述测定数据与所述多个参照物的所述测定数据，并且用于确定所述目标样品与所述多个参照物中的每一个参照物的匹配度；c)综合匹配度计算部，所述综合匹配度计算部用于通过综合对于所述多个...

【专利技术属性】
技术研发人员：村上幸雄，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本,JP