The invention discloses a tunable multi peak and spectral resolution of the direct measurement of the light source, including light slit, zoom, optical splitter, optical reflector and a slit; the polychromatic light into the light through the slit, the zoom quasi reflection to the light splitter, light is divided optical device light reflected back into the zoom and convergence, reflector to light by a slit, slit light output monochromatic light. The light source can provide multi peak monochromatic light, and can directly detect the spectral resolution of spectral imager and spectrometer.
【技术实现步骤摘要】
可调多峰且实现光谱分辨率直接测量的光源
本专利技术涉及光谱成像
,尤其涉及一种可调多峰且实现光谱分辨率直接测量的光源。
技术介绍
光谱成像是上世纪80年代初期发展起来的一种广泛应用于科学研究、社会生产和军事等领域中的光电探测技术。光谱成像仪是通过特定的光学系统和感光元件收集目标的光谱和空间的信息。其中光谱分辨率是光谱成像仪的一个重要指标,表示仪器能够分辨出最小波长间隔的极限,被定义为仪器达到光谱响应最大值的50%时的波长宽度。目前光谱分辨率的测试方法是利用光谱定标测得仪器的光谱响应函数,从而计算出光谱分辨率。具体方法是:利用单色仪输出单色光,单色光的带宽小于被测仪器光谱响应带宽的十分之一,记录仪器对每个波长的响应值,从而可以得到仪器的响应与单色仪输出波长的关系曲线,即光谱响应曲线。光谱响应曲线的线形为高斯型,计算光谱响应最大值的50%时的波长宽度,即光谱响应带宽,作为光谱分辨率。但是,上述方案属于间接测量,不确定度因子比较多,测量过程复杂,需要逐个波长扫描。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种可调多峰且实现光谱分辨率直接测量的光源,可以输出一种明暗相间的光 ...
【技术保护点】
一种可调多峰且实现光谱分辨率直接测量的光源,其特征在于,包括:入光狭缝、变焦组件、分光器件、反射镜和出光狭缝;其中,复色光通过入光狭缝后,经变焦组件准直射到分光器件上,光线被分光器件分光后反射重新进入变焦组件会聚,并被反射镜反射到出光狭缝,由出光狭缝上输出单色光。
【技术特征摘要】
1.一种可调多峰且实现光谱分辨率直接测量的光源,其特征在于,包括:入光狭缝、变焦组件、分光器件、反射镜和出光狭缝;其中,复色光通过入光狭缝后,经变焦组件准直射到分光器件上,光线被分光器件分光后反射重新进入变焦组件会聚,并被反射镜反射到出光狭缝,由出光狭缝上输出单色光。2.根据权利要求1所述的一种可调多峰且实现光谱分辨率直接测量的光源,其特征在于,所述变焦组件为焦距可变的成像系统,焦距的变化不改变物像的相对位置关系,即变焦组件与入光狭缝的相对位置保持不变。3.根据权利要求1所述的一种可调多峰且实现光谱分辨率直接测量的光源,其特征在于,所述分光器件包括:光栅;光栅的法线与变焦组件的光轴有一可变夹角,保证反射光能够通过...
【专利技术属性】
技术研发人员:王建威,吕群波,李伟艳,张丹丹,裴琳林,刘扬阳,赵娜,
申请(专利权)人:中国科学院光电研究院,
类型:发明
国别省市:北京,11
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