一种颗粒检测工装制造技术

本实用新型专利技术公开了一种颗粒检测工装，包括上样品托盘、下样品托盘和两根定位销，上样品托盘和下样品托盘均为圆盘结构，上样品托盘的下表面加工有多个未穿孔的半球孔，下样品托盘的上表面加工有多个未穿孔的圆锥孔，半球孔与圆锥孔一一对应，半球孔的孔径≥所述圆锥孔的最大孔径，每个样品托盘上各加工两个定位销孔，一个位于样品托盘中央，另一个位于样品托盘边缘；上样品托盘的下表面和下样品托盘的上表面叠合在一起使圆锥孔和半球孔一一对应相扣，两根圆柱状定位销分别插入样品托盘中央和边缘的定位销孔中将上样品托盘和下样品托盘定位在一起。该工装可针对颗粒样品进行批量检测，并确保了颗粒检测过程中的安全性，同时大幅提高了检测效率。

A particle inspection tooling

The utility model discloses a particle detection device, including sample tray, sample tray and two positioning pins, the sample tray and sample tray is a disc structure, surface processing on the sample tray has a plurality of holes without perforation of the hemisphere, under the surface of the sample tray has a plurality of processing the conical hole imperforation, hemispherical hole and the conical hole corresponding to the maximum pore hole diameter greater than the hemispherical tapered holes, each sample tray on the processing of two positioning pin holes, a sample is located in the center of the tray, and one at the edge on the lower surface of the sample tray; sample tray and sample tray the upper surface of the stack together to make conical hole and hemispherical holes corresponding buckle, the two cylindrical positioning pin are respectively inserted into the sample tray and the edge of the central pin holes on the sample tray and sample tray positioning In harness\u3002 The device can be used for batch detection of particle samples, and ensure the safety in the process of particle detection, and greatly improve the detection efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种颗粒检测工装
本技术涉及工业CT检测工装，更具体地，本技术涉及一种用于工业CT设备检测颗粒检测工装。
技术介绍
颗粒内部结构的检测并没有固定的方法，一般在用于工业CT设备检测时，由于颗粒尺寸较小，又没有统一标准的工装夹具，且一般的夹具不易夹住颗粒，因此通常是就近取材，如用针状物(或细柱物)尖端顶起颗粒，配合不干胶等进行固定。但这种工装具有不确定性、临时性等缺点，且在检测过程中存在颗粒跌落的安全隐患。同时，临时工装只能检测一枚或几枚颗粒，不能进行批量检测，因此检测效率极为低下。
技术实现思路
本技术克服了现有技术的不足，提供一种用于工业CT设备检测颗粒检测工装，以期望能提出一种颗粒检测的方法以确保颗粒检测过程中的安全性，并大幅提高颗粒的检测效率。为解决上述的技术问题，本技术的一种实施方式采用以下技术方案：一种颗粒检测工装，包括上样品托盘、下样品托盘和两根定位销，所述上样品托盘和下样品托盘均为圆盘结构，上样品托盘的下表面加工有多个未穿孔的半球孔，下样品托盘的上表面加工有多个未穿孔的圆锥孔，所述半球孔与圆锥孔一一对应，所述半球孔的孔径≥所述圆锥孔的最大孔径，每个样品托盘上各加工两个定位销孔，一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种颗粒检测工装，其特征在于包括上样品托盘(1)、下样品托盘(2)和两根定位销(3)，所述上样品托盘和下样品托盘均为圆盘结构，上样品托盘的下表面加工有多个未穿孔的半球孔(4)，下样品托盘的上表面加工有多个未穿孔的圆锥孔(5)，所述半球孔与圆锥孔一一对应，所述半球孔的孔径≥所述圆锥孔的最大孔径，每个样品托盘上各加工两个定位销孔，一个位于样品托盘中央，另一个位于样品托盘边缘；上样品托盘的下表面和下样品托盘的上表面叠合在一起使圆锥孔和半球孔一一对应相扣，两根圆柱状定位销分别插入样品托盘中央和边缘的定位销孔中将上样品托盘和下样品托盘定位在一起。

【技术特征摘要】
1.一种颗粒检测工装，其特征在于包括上样品托盘(1)、下样品托盘(2)和两根定位销(3)，所述上样品托盘和下样品托盘均为圆盘结构，上样品托盘的下表面加工有多个未穿孔的半球孔(4)，下样品托盘的上表面加工有多个未穿孔的圆锥孔(5)，所述半球孔与圆锥孔一一对应，所述半球孔的孔径≥所述圆锥孔的最大孔径，每个样品托盘上各加工两个定位销孔，一个位于样品托盘中央，另一个位于样品托盘边缘；上样品托盘的下表面和下样品托盘的上表面叠合在一起使圆锥孔和半球孔一一对应相扣，两根圆柱状定位销分别插入样品托盘中央和边缘的定位销孔中将上样品托盘和下样品托盘定位在一起。2.根据权利要求1所述的颗粒检测工装，其特征在于还包括至少一个中样品托盘(6)，所述中样品...

【专利技术属性】
技术研发人员：陶杰，戴斌，陈华，张伟斌，杨存丰，刘晨，刘本德，王依全，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院化工材料研究所，
类型：新型
国别省市：四川,51