一种半球状样品检测工装制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半球状样品检测工装，包括上样品腔、下样品腔、样品托盘和定位销，上样品腔和下样品腔都为圆盘结构，每个样品腔的上端面加工有多个与被检半球状样品轮廓一致的圆孔槽，在每个样品腔的下端面刻数字编号，上样品腔和下样品腔的圆盘上各加工一个定位销孔；样品托盘为碗状结构，上样品腔与下样品腔的圆孔槽端面两两贴靠在一起装入样品托盘中；定位销为圆柱状结构，插入上样品腔和下样品腔中的定位销孔中。本实用型所述的工装可保证射线束中心同时通过多发半球状样品的端面，避免检测图像发生畸变，同时提高了检测效率。

Tooling for hemispherical sample detection

The utility model discloses a hemispherical sample detection device, including sample chamber, sample chamber, sample tray and the positioning pin, the sample chamber and the sample cavity for the disc structure, processing on the end of each sample chamber has a plurality of circular hole groove and the semi spherical sample contour consistent. Moment number at the bottom of each sample cavity surface, the sample chamber and the sample cavity disc on the processing of a positioning pin hole; sample tray is bowl shaped, 22 circular groove on the sample chamber and the sample chamber close together into the sample tray; the positioning pin is a cylindrical structure. Insert the pin holes on the sample chamber and the samples in the cavity. The device can ensure the ray beam center to pass through the end face of the multi hemisphere sample at the same time to avoid the distortion of the detection image and improve the detection efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种半球状样品检测工装
本技术涉及工业CT检测工装，更具体地，本技术涉及一种用于工业CT设备检测半球状样品的检测工装。
技术介绍
经过CT检测发现，半球状产品下端面及内部随机分布不同大小的高密度物质。该高密度物质的存在是该类型产品制造、检测及应用过程中都需要关注的方面，该产品的下端面及其近表面存在高密度物质即为不合格产品，需要筛选出来。目前，采用微焦点CT技术对该半球状产品进行断层扫描，获得半球状产品内部结构和质量的断层图像，并依据图像分析半球状产品内部结构、杂质尺寸与分布状况等。为确保产品质量满足要求，需要将CT技术作为该产品的检测手段，确定半球状产品CT检测方法和检测判据，通过CT检测剔除下端面及其近表面内存在高密度杂质的产品。该技术作为生产工艺和筛选产品的有效手段，需要对大量的产品进行检测和诊断，实现工程应用，然而产品数量巨大和CT检测本身的效率问题，有必要对检测工装进行改进。
技术实现思路
本技术克服了现有技术的不足，提供一种半球状样品检测工装，以期望提高半球状样品的CT检测效率。为解决上述的技术问题，本技术的一种实施方式采用以下技术方案：一种半球状样品检测工装，它包括上样品腔、下样本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半球状样品检测工装，其特征在于它包括上样品腔(4)、下样品腔(3)、样品托盘(1)和定位销(2)，所述上样品腔和下样品腔都为圆盘结构，每个样品腔的上端面加工有多个与被检半球状样品轮廓一致的圆孔槽(5)，圆孔槽在上、下样品腔的上端面(7)均匀分布，与每个圆孔槽相对应地，在每个样品腔的下端面(8)刻数字编号，上样品腔和下样品腔的圆盘上各加工一个定位销孔(6)；所述样品托盘为碗状结构，上样品腔与下样品腔的圆孔槽端面两两贴靠在一起装入样品托盘中；所述定位销为圆柱状结构，插入上样品腔和下样品腔中的定位销孔中使得上样品腔和下样品腔被定位在一起。

【技术特征摘要】
1.一种半球状样品检测工装，其特征在于它包括上样品腔(4)、下样品腔(3)、样品托盘(1)和定位销(2)，所述上样品腔和下样品腔都为圆盘结构，每个样品腔的上端面加工有多个与被检半球状样品轮廓一致的圆孔槽(5)，圆孔槽在上、下样品腔的上端面(7)均匀分布，与每个圆孔槽相对应地，在每个样品腔的下端面(8)刻数字编号，上样品腔和下样品腔的圆盘上各加工一个定位销孔(6)；所述样品托盘为碗状结构，上样品腔与下样品腔的圆孔槽端面两两贴靠在一起装入样品托盘中；所述定位销为圆柱状结构，插入上样品腔和下样品腔中的定位销孔中使得上样品腔和下样品腔被定位在一起。2.根据权利要求1所述的半球状样品检测工装，其特征在于所述样品托盘的侧壁设置两个缺口(9)，两个缺口位置左右对立。3.根据权利要求1所述的半球状样品检测工装，其特征在于所述数字编号为阴文。4.根据权利要求1所述的半球状样品检测工装，其特征在于所述上样品腔的上端...

【专利技术属性】
技术研发人员：戴斌，王依全，丁永荣，陶杰，刘本德，邓勇，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院化工材料研究所，
类型：新型
国别省市：四川,51