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本实用新型公开了一种半球状样品检测工装，包括上样品腔、下样品腔、样品托盘和定位销，上样品腔和下样品腔都为圆盘结构，每个样品腔的上端面加工有多个与被检半球状样品轮廓一致的圆孔槽，在每个样品腔的下端面刻数字编号，上样品腔和下样品腔的圆盘上各加工...
该专利属于中国工程物理研究院化工材料研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院化工材料研究所授权不得商用。

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