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本实用新型公开了一种颗粒检测工装，包括上样品托盘、下样品托盘和两根定位销，上样品托盘和下样品托盘均为圆盘结构，上样品托盘的下表面加工有多个未穿孔的半球孔，下样品托盘的上表面加工有多个未穿孔的圆锥孔，半球孔与圆锥孔一一对应，半球孔的孔径≥所述...
该专利属于中国工程物理研究院化工材料研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院化工材料研究所授权不得商用。

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