探针切换装置及PCB阻抗测试机制造方法及图纸

技术编号:16498077 阅读:47 留言:0更新日期:2017-11-04 10:32
本发明专利技术提供了一种探针切换装置及PCB阻抗测试机,该探针切换装置包括:支撑体(10);第一探针部,相对支撑体(10)可移动设置,第一探针部具有至少两个第一检测位置,第一探针部可在至少两个第一检测位置之间移动切换;至少两个第二探针部,相对支撑体(10)可移动设置,每个第二探针部具有与第一探针部配合的第二检测位置及避让第一探针部与其余的第二探针部配合的避让位置,第二探针部可在第二检测位置与避让位置之间移动切换。本发明专利技术有效的解决了现有技术中切换探针时需要更换探针组件拆卸繁琐、测试精度低的问题,可实现自动化测试。

Probe switching device and PCB impedance tester

The present invention provides a probe switching device and PCB impedance tester, the probe switching device comprises a support body (10); the first probe part relative to the supporting body (10) is movably arranged, the first probe portion has at least two first detection position, the first probe portion of the movable switch between at least two the first position detection; at least two of the second probe, relative to the support body (10) is movably arranged, each part has first and second probe probe with second position detection and avoidance of the first probe with the rest of the second probes with obstacle to probe position, second portion of the movable switch between the second position and detection avoid position. The invention effectively solves the problem that the probe component needs to be replaced when the probe is switched in the prior art, the disassembly is complicated, and the testing accuracy is low, so that the automatic test can be realized.

【技术实现步骤摘要】
探针切换装置及PCB阻抗测试机
本专利技术涉及PCB测试
,具体涉及一种探针切换装置及PCB阻抗测试机。
技术介绍
目前,PCB阻抗测试机包括探针组件,探针组件包括探针座和固定在探针座上且用于测试PCB的差分的一对探针,一对探针之间的间距是固定的,高频阻抗测试需要将两个探针短接(即导通探针电路),两个探针之间通过短接铜片进行短接。测试完差分之后,需要手动将测试机上的探针组件拆卸下来,换上用于测试单端的探针组件。探针组件需要切换时,都是手动将整个探针组件拆卸下来,拆卸繁琐,降低测试效率,需要制作更多的探针,成本较高,并且更换频繁会发生磨损及导致装配位置不精确,从而导致测试精度降低。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种探针切换装置及PCB阻抗测试机,以解决现有技术中更换探针组件时拆卸繁琐、测试精度低的问题。为实现上述目的,本专利技术提供了一种探针切换装置,包括:支撑体;第一探针部,相对支撑体可移动设置,第一探针部具有至少两个第一检测位置,第一探针部可在至少两个第一检测位置之间移动切换;至少两个第二探针部,相对支撑体可移动设置,每个第二探针部具有与第一探针部配合的第二检测位置及避让第一探针部与其余的第二探针部配合的避让位置,第二探针部可在第二检测位置与避让位置之间移动切换。进一步地,探针切换装置还包括设置在支撑体上且与第一探针部连接的第一驱动机构,第一驱动机构驱动第一探针部在至少两个第一检测位置之间进行切换。进一步地,第一驱动机构驱动第一探针部沿水平方向直线移动。进一步地,探针切换装置还包括连接在第一驱动机构和第一探针部之间的连接部,第一驱动机构通过驱动连接部沿水平方向移动带动第一探针部移动。进一步地,第一驱动机构为直线电机,连接部固定在直线电机的输出端上,或者,第一驱动机构为气缸,连接部固定在气缸的活塞杆上,或者,第一驱动机构包括电机和滚珠丝杠,电机的输出轴与滚珠丝杠的螺杆连接,连接部固定在滚珠丝杠的螺母上。进一步地,第一驱动机构固定在支撑体的上表面,连接部的一端与第一驱动机构连接,连接部的另一端穿过支撑体与位于支撑体的下方的第一探针部连接。进一步地,第一探针部包括第一探针座和第一探针,第一探针座固定在连接部上,第一探针安装在第一探针座上。进一步地,探针切换装置还包括与每个第二探针部连接的第二驱动机构,第二驱动机构驱动每个第二探针部在第二检测位置和避让位置之间进行切换。进一步地,第二驱动机构驱动第二探针部沿竖直方向移动,避让位置高于第二检测位置和第一检测位置。进一步地,第二驱动机构为固定在连接部上的切换部,切换部具有顶升结构,在切换部的移动过程中,顶升结构顶起第二探针部以使第二探针部从第二检测位置切换至避让位置。进一步地,第二探针部的个数为两个,两个第二探针部分别与第一探针部配合以测试两种不同数据。进一步地,切换部具有两个相对于竖直方向倾斜设置且其倾斜方向相反的斜面及连接在两个斜面之间的平面,两个斜面形成顶升结构并分别与两个第二探针部的楔块上的配合斜面配合。进一步地,探针切换装置还包括与至少两个第二探针部一一对应的至少两个安装支架,安装支架与支撑体相对固定设置,第二探针部可相对于安装支架可移动地设置。进一步地,第二探针部包括第二探针座、第二探针、导向杆和楔块,第二探针和导向杆均固定在第二探针座上,安装支架具有与导向杆配合的导向孔,切换部具有供导向杆的穿设的长孔,长孔沿切换部的移动方向延伸,导向杆的远离第二探针座一端依次穿过导向孔和长孔后设有楔块,楔块支撑在长孔的外侧。进一步地,第二探针部还包括向第二探针座施加压力以使第二探针座复位的复位件。进一步地,复位件为套装在导向杆上并位于第二探针座和安装支架之间的弹簧。进一步地,探针切换装置还包括用于检测第一探针部的移动位移的位移传感器,在检测时第一驱动机构调节第一探针部与至少两个第二探针部中的一个之间的间距以检测不同间距的数据。进一步地,位移传感器为激光传感器。本专利技术还提供一种PCB阻抗测试机,包括:探针切换装置,探针切换装置为上述的探针切换装置。本专利技术技术方案,具有如下优点:第一探针部位于至少两个第一检测位置中的第一个第一检测位置时,第一探针部与至少两个第二探针部中的第一个第二探针部配合进行检测,其余的第二探针部处于避让位置;检测完之后,将第一探针部移动至第二个第一检测位置,第二探针部与第二个第二探针部配合进行检测,其余的第二探针部处于避让位置;第一探针部其他位置的检测过程与上述相同,此处不再详细赘述。上述结构不需要拆卸探针部,只需要来回移动第一探针部和第二探针部即可,就可以实现切换,有效的提高测试效果,进而避让由于频繁更换探针发生磨损导致测试精度低的情况,从而提高测试精度。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中:图1示出了根据本专利技术的探针切换装置的实施例的立体结构示意图;图2示出了图1的探针切换装置的另一角度的示意图;图3示出了图2的探针切换装置的切换部的立体结构示意图;图4示出了图2的探针切换装置的连接部的立体结构示意图;图5示出了图1的探针切换装置带有位移传感器和旋转盘的立体结构示意图;图6示出了图5的探针切换装置的主视示意图。其中,上述附图中的附图标记为:10、支撑体;20、直线电机;31、第一探针座;32、第一探针;41、第二探针座;42、第二探针;43、导向杆;44、楔块;45、复位件;50、切换部;51、斜面;52、平面;53、长孔;60、连接部;70、安装支架;80、位移传感器;90、旋转盘。具体实施方式下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。如图1所示,本实施例的探针切换装置包括:支撑体10、第一探针部和至少两个第二探针部,第一探针部相对支撑体10可移动设置,第一探针部具有至少两个第一检测位置,第一探针部可在至少两个第一检测位置之间移动切换;每个第二探针部相对支撑体10可移动设置,每个第二探针部具有与第一探针部配合的第二检测位置及避让第一探针部与其余的第二探针部配合的避让位置,第二探针部可在第二检测位置与避让位置之间移动切换。应用本实施例的探针切换装置,第一探针部位于至少两个第一检测位置中的第一个第一检测位置时,第一探针部与至少两个第二探针部中的第一个第二探针部配合进行检测,其余的第二探针部处于避让位置;检测完之后,将第一探针部移动至第二个第一检测位置,第二探针部与第二个第二探针部配合进行检测,其余的第二探针部处于避让位置;第一探针部其他位置的检测过程与上述相同,此处不再详细赘述。上述结构不需要拆卸探针部,只需要来回移动第一探针部和第二探针部即可,就可以实现切换,有效的提高测试效果,进而避让由于频繁更换探针发生磨损导致测试精度低的情况,从而提高测试精度。并且,上述结构采用一个对应多个的形式,避免采用现有本文档来自技高网...
探针切换装置及PCB阻抗测试机

【技术保护点】
一种探针切换装置,其特征在于,包括:支撑体(10);第一探针部,相对所述支撑体(10)可移动设置,所述第一探针部具有至少两个第一检测位置,所述第一探针部可在所述至少两个第一检测位置之间移动切换;至少两个第二探针部,相对所述支撑体(10)可移动设置,每个第二探针部具有与所述第一探针部配合的第二检测位置及避让所述第一探针部与其余的所述第二探针部配合的避让位置,所述第二探针部可在所述第二检测位置与所述避让位置之间移动切换。

【技术特征摘要】
1.一种探针切换装置,其特征在于,包括:支撑体(10);第一探针部,相对所述支撑体(10)可移动设置,所述第一探针部具有至少两个第一检测位置,所述第一探针部可在所述至少两个第一检测位置之间移动切换;至少两个第二探针部,相对所述支撑体(10)可移动设置,每个第二探针部具有与所述第一探针部配合的第二检测位置及避让所述第一探针部与其余的所述第二探针部配合的避让位置,所述第二探针部可在所述第二检测位置与所述避让位置之间移动切换。2.根据权利要求1所述的探针切换装置,其特征在于,所述探针切换装置还包括设置在所述支撑体(10)上且与所述第一探针部连接的第一驱动机构,所述第一驱动机构驱动所述第一探针部在至少两个所述第一检测位置之间进行切换。3.根据权利要求2所述的探针切换装置,其特征在于,所述第一驱动机构驱动所述第一探针部沿水平方向直线移动。4.根据权利要求3所述的探针切换装置,其特征在于,所述探针切换装置还包括连接在所述第一驱动机构和所述第一探针部之间的连接部(60),所述第一驱动机构通过驱动所述连接部(60)沿水平方向移动带动所述第一探针部移动。5.根据权利要求4所述的探针切换装置,其特征在于,所述第一驱动机构为直线电机(20),所述连接部(60)固定在所述直线电机(20)的输出端上,或者,所述第一驱动机构为气缸,所述连接部(60)固定在所述气缸的活塞杆上,或者,所述第一驱动机构包括电机和滚珠丝杠,所述电机的输出轴与所述滚珠丝杠的螺杆连接,所述连接部(60)固定在所述滚珠丝杠的螺母上。6.根据权利要求4所述的探针切换装置,其特征在于,所述第一驱动机构固定在所述支撑体(10)的上表面,所述连接部(60)的一端与所述第一驱动机构连接,所述连接部(60)的另一端穿过所述支撑体(10)与位于所述支撑体(10)的下方的所述第一探针部连接。7.根据权利要求4所述的探针切换装置,其特征在于,所述第一探针部包括第一探针座(31)和第一探针(32),所述第一探针座(31)固定在所述连接部(60)上,所述第一探针(32)安装在所述第一探针座(31)上。8.根据权利要求4所述的探针切换装置,其特征在于,所述探针切换装置还包括与每个所述第二探针部连接的第二驱动机构,所述第二驱动机构驱动每个所述第二探针部在所述第二检测位置和所述避让位置之间进行切换。9.根据权利要求8所述的探针切换装置,其特征在于,所述第二驱动机构驱动所述第二探针部沿竖直方向移动,所述避让位置高于所述第二检测位置和所述第一检测位置。10.根据权利要求9所述的探针切换装置,其特征在于,所述第二驱动机构...

【专利技术属性】
技术研发人员:宋卫华叶宗顺何凤雷
申请(专利权)人:南京协辰电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏,32

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